ZHCAB22A November   2017  – November 2020 F28377D-SEP , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1

 

  1.   商标
  2. 1 引言和范围
  3. 2 SRAM 位阵列
  4. 3 SRAM 故障来源
    1. 3.1 制造缺陷
      1. 3.1.1 时间零点故障
      2. 3.1.2 潜在故障
    2. 3.2 电路随使用次数的增加发生漂移
    3. 3.3 电路过应力
    4. 3.4 软错误
      1. 3.4.1 放射性事件
      2. 3.4.2 动态电压事件
      3. 3.4.3 错误来源总结
  5. 4 用于管理电子系统中存储器故障的方法
    1. 4.1 启动测试
    2. 4.2 系统内测试
    3. 4.3 奇偶检测
    4. 4.4 检错与纠错 (EDAC)
    5. 4.5 冗余
  6. 5 比较和结论
  7. 6  C2000 存储器类型示例
    1. 6.1 TMS320F2837xD
  8. 7 存储器类型
    1. 7.1 专用 RAM（Mx 和 Dx RAM）
    2. 7.2 本地共享 RAM (LSx RAM)
    3. 7.3 全局共享 RAM (GSx RAM)
    4. 7.4 CPU 消息 RAM (CPU MSGRAM)
    5. 7.5 CLA 消息 RAM (CLA MSGRAM)
  9. 8 总结
  10. 9 参考文献
  11. 10修订历史记录

4.2 系统内测试

系统内测试涉及在系统完全运行时测试目标电路。这涉及占用 CPU 的一个处理时间片来测试电路的一部分。该时间片必须足够小，才不会影响 CPU 处理系统任务。在实时控制系统中，这可能具有限制性。从安全状态角度而言，必须在每个安全间隔内测试整个 SRAM 范围。

SRAM 的系统内测试涉及以下操作：

  • 对目标 SRAM 进行上下文保存
  • 对该 SRAM 运行 SRAM 测试算法
  • 恢复该 SRAM 先前的上下文

此操作必须在系统要求访问被测 SRAM 之前完成。对于器件中的完整 SRAM 实例而言，很难做到这一点。不过，可以一次在一小片 SRAM（例如 16 或 32 个字）上执行此操作。如Topic Link Label3.1.1中所述，可以使用简单的 March 算法（March13n，或者甚至可以用 March7）来检测与缺陷相关的大多数系统内故障。在较新的工艺节点（45nm 或更小）中，需要使用更先进的算法来实现相同的覆盖范围。

该方法不会检测系统读取 SRAM 的故障，但可以在系统读取发生故障的位置之前捕获存储器中出现的错误。该方法用于没有其他检测方法来检测器件中的 SRAM 的情况。