ZHCAAI6C June   2018  – January 2023 AWR1243 , AWR1443 , AWR1642 , AWR1843 , AWR1843AOP , AWR2243 , AWR6843 , AWR6843AOP , IWR1843 , IWR6443 , IWR6843 , IWR6843AOP

 

  1.   商标
  2. 1引言
    1. 1.1 校准目的
    2. 1.2 监控机制的目的
  3. 2支持校准和监控的硬件基础设施
  4. 3校准清单
    1. 3.1  APLL 校准
    2. 3.2  合成器 VCO 校准
    3. 3.3  LO 分布校准
    4. 3.4  ADC DC 偏移校准
    5. 3.5  HPF 截止频率校准
    6. 3.6  LPF 截止频率校准
    7. 3.7  峰值检测器校准
    8. 3.8  TX 功率校准
    9. 3.9  RX 增益校准
    10. 3.10 IQ 失配校准
    11. 3.11 TX 移相器校准
  5. 4校准对增益和相位的影响
  6. 5干扰对校准的影响和校准引起的辐射
  7. 6安排运行时间校准和监控
    1. 6.1 选择 CALIB_MON_TIME_UNIT
    2. 6.2 选择 CALIBRATION_PERIODICITY
    3. 6.3 应用程序控制的一次校准
  8. 7软件校准可控性
    1. 7.1  校准和监控频率限制
    2. 7.2  校准和监控 TX 频率和功率限制
    3. 7.3  校准状态报告
      1. 7.3.1 射频初始化校准完成
      2. 7.3.2 运行时校准状态报告
      3. 7.3.3 校准/监控时序故障状态报告
    4. 7.4  对 CAL_MON_TIME_UNIT 进行编程
    5. 7.5  校准周期性
    6. 7.6  射频初始化校准
    7. 7.7  运行时间校准
    8. 7.8  覆盖 TX 功率校准 LUT
    9. 7.9  覆盖 RX 增益校准 LUT
    10. 7.10 检索和恢复校准数据
  9. 8参考文献
  10.   A 校准和监控时长
    1.     A.1 引导时校准时长
  11.   修订历史记录

4 校准对增益和相位的影响

随着器件温度的变化，RX 和 TX 模块的增益也会发生变化。如果增益设置未在温度范围内进行校正，则 Rx 和 Tx 增益会随着温度升高而继续降低。例如，在 AWR2243 器件上，固定增益设置的 Rx 增益变化约为每 10摄氏度温度变化 0.4dB。固定偏置设置和 0dB 回退场景的 Tx 增益变化为每 10 摄氏度温度变化 0.2dB。为了减少这种增益随温度变化的影响，可以在周期性模式或由用户应用程序根据温度变化发出的单次模式中使用运行时间校准。

完成校准调整后，Rx 或 Tx 增益或相位可能会发生阶跃变化。增益的阶跃变化取决于校准引起的增益代码的变化。RX 增益中的一个增益代码变化会导致增益变化 2dB。由于相同的校准代码应用于单个 MMIC 内的所有接收器或发射链，因此通道之间的增益/相位失配变化最小。但是，校准前后的绝对增益/相位可能不同。

一些依赖于帧间相干性或幅度/相位一致性的处理算法（例如历史静态杂波估计）可能对校准导致的绝对增益/相位的突变很敏感。通过在校准后重置其估计值以解决这一问题。在单芯片配置中，如果帧之间需要增益/相位相干，则可以避免周期性运行时间校准。应用程序可以在一次校准模式下使用运行时间校准，如GUID-086992D2-588F-4DB4-814C-A20A6C73E684.html所述。该应用程序可以监控内部温度，如果温度发生显著变化（例如 30°C 变化），则可以发出一次校准。此时，增益和相位会随后续的帧而发生变化，因此如果应用程序使用来自先前帧的任何相位估计，则必须重置算法。

在级联用例中，多个 MMIC 之间的增益/相位失配变得至关重要，一个 MMIC 中的绝对增益/相位变化可能会导致多个 MMIC 之间的失配。为了应对这种变化，请参阅级联相干性和移相器校准 应用说明（https://www.ti.com/lit/pdf/https://www.ti.com/lit/pdf/spracv2）。