ZHCAAI6C June   2018  – January 2023 AWR1243 , AWR1443 , AWR1642 , AWR1843 , AWR1843AOP , AWR2243 , AWR6843 , AWR6843AOP , IWR1843 , IWR6443 , IWR6843 , IWR6843AOP

 

  1.   商标
  2. 1引言
    1. 1.1 校准目的
    2. 1.2 监控机制的目的
  3. 2支持校准和监控的硬件基础设施
  4. 3校准清单
    1. 3.1  APLL 校准
    2. 3.2  合成器 VCO 校准
    3. 3.3  LO 分布校准
    4. 3.4  ADC DC 偏移校准
    5. 3.5  HPF 截止频率校准
    6. 3.6  LPF 截止频率校准
    7. 3.7  峰值检测器校准
    8. 3.8  TX 功率校准
    9. 3.9  RX 增益校准
    10. 3.10 IQ 失配校准
    11. 3.11 TX 移相器校准
  5. 4校准对增益和相位的影响
  6. 5干扰对校准的影响和校准引起的辐射
  7. 6安排运行时间校准和监控
    1. 6.1 选择 CALIB_MON_TIME_UNIT
    2. 6.2 选择 CALIBRATION_PERIODICITY
    3. 6.3 应用程序控制的一次校准
  8. 7软件校准可控性
    1. 7.1  校准和监控频率限制
    2. 7.2  校准和监控 TX 频率和功率限制
    3. 7.3  校准状态报告
      1. 7.3.1 射频初始化校准完成
      2. 7.3.2 运行时校准状态报告
      3. 7.3.3 校准/监控时序故障状态报告
    4. 7.4  对 CAL_MON_TIME_UNIT 进行编程
    5. 7.5  校准周期性
    6. 7.6  射频初始化校准
    7. 7.7  运行时间校准
    8. 7.8  覆盖 TX 功率校准 LUT
    9. 7.9  覆盖 RX 增益校准 LUT
    10. 7.10 检索和恢复校准数据
  9. 8参考文献
  10.   A 校准和监控时长
    1.     A.1 引导时校准时长
  11.   修订历史记录

TX 功率校准

执行 TX 功率校准以确保器件恰好在给定配置文件的指定发射功率下进行发射。

TX 功率校准可以在开环功率控制(OLPC)或闭环功率控制(CLPC)模式下完成。在 OLPC 模式下,TX 级代码基于粗略测量设置,并为每个温度范围生成一个 LUT。最后级代码从 LUT 中挑选,并根据校准时的温度应用于器件。

在 CLPC 模式下,TX 级代码是从粗略 LUT 中挑选出来的,就像在 OLPC 步骤中一样。然后,使用峰值检测器测量实际 TX 功率,并改进 TX 级代码,以实现所需的 TX 功率精度。在许多情况下,CLPC 模式可以更好地控制 TX 输出功率,因为增益是基于再次执行回路测量而更新的。这也导致了有意在 PA 上进行传输和延长校准时间。有关校准时间,请参阅接口控制文档。

可以使用 API 从器件读回用于 TX 功率校准的 LUT。也可以将 LUT 替换为用户编程的 LUT(例如,使用之前从器件读回的 LUT)。GUID-8CC12F49-B1D5-43D1-B64D-6B0EC0959EA6.html#GUID-8CC12F49-B1D5-43D1-B64D-6B0EC0959EA6中包含了用于读取和写入 TX 功率校准 LUT 的 API。

注:

在 CLPC 模式下,在运行时间校准事件后,用于 TX 功率校准的 LUT可由器件更新。如果需要,可以从器件读回更新后的 LUT。

启动时对所有已启用的 TX 执行TX功率校准,且可以在运行时再次执行。在运行时重新校准时,TX 功率校准是按配置文件、按 TX 完成的。

默认情况下,在启动时间 TX 功率校准期间启用单个 TX。在 AWR294x 中,用户可以选择同时开启多个 TX,以补偿因多个 TX 开启而可能在 PCB 上出现的额外电源压降。可以使用“AWR_RF_INIT_CALIBRATION_CONF_SB API”API 选择它。类似地,对于 CLPC 运行时校准,可以使用“AWR_PROFILE_CONF_SB API”API 将多个 TX 配置为开启。