在用户不希望器件固件自动触发定期校准的场景中，应用程序可以使用一次校准功能，它可以控制校准必须执行的实例以及增益值的变化。应用程序可以使用内部温度传感器读数触发一次校准，或者如果预计测量周期很短并且预计在测量期间温度没有明显变化，则可以在开始雷达测量之前总是触发该校准。当触发一次校准模式时，根据“ONE_TIME_CALIB_ENABLE_MASK”字段中配置的位触发各种射频/模拟方面的校准。响应采用异步事件的形式。如果启用，在任何正在进行的 FTTI 循环完成后执行校准，并且校准结果从下一个 FTTI 开始生效。
一次校准有两种使用方式：
- 不带温度指数覆盖的一次校准；在此模式下，当应用程序触发一次校准时，固件会测量内部温度并根据测量的温度设置增益指数。该应用可以控制校准的时间，但不能控制固件选择的确切增益设置。
- 带温度指数覆盖的一次校准：此模式在 xWR2243 器件中可用。在此模式下，除了控制校准时间外，应用程序还选择增益指数由固件选择，而与内部温度读数无关。这样，应用就可以完全控制增益变化。通常仅级联环境需要此模式来确保多个器件的通道之间的增益和相位失配以可预测的方式变化。