ZHCAAI6C June   2018  – January 2023 AWR1243 , AWR1443 , AWR1642 , AWR1843 , AWR1843AOP , AWR2243 , AWR6843 , AWR6843AOP , IWR1843 , IWR6443 , IWR6843 , IWR6843AOP

 

  1.   商标
  2. 1引言
    1. 1.1 校准目的
    2. 1.2 监控机制的目的
  3. 2支持校准和监控的硬件基础设施
  4. 3校准清单
    1. 3.1  APLL 校准
    2. 3.2  合成器 VCO 校准
    3. 3.3  LO 分布校准
    4. 3.4  ADC DC 偏移校准
    5. 3.5  HPF 截止频率校准
    6. 3.6  LPF 截止频率校准
    7. 3.7  峰值检测器校准
    8. 3.8  TX 功率校准
    9. 3.9  RX 增益校准
    10. 3.10 IQ 失配校准
    11. 3.11 TX 移相器校准
  5. 4校准对增益和相位的影响
  6. 5干扰对校准的影响和校准引起的辐射
  7. 6安排运行时间校准和监控
    1. 6.1 选择 CALIB_MON_TIME_UNIT
    2. 6.2 选择 CALIBRATION_PERIODICITY
    3. 6.3 应用程序控制的一次校准
  8. 7软件校准可控性
    1. 7.1  校准和监控频率限制
    2. 7.2  校准和监控 TX 频率和功率限制
    3. 7.3  校准状态报告
      1. 7.3.1 射频初始化校准完成
      2. 7.3.2 运行时校准状态报告
      3. 7.3.3 校准/监控时序故障状态报告
    4. 7.4  对 CAL_MON_TIME_UNIT 进行编程
    5. 7.5  校准周期性
    6. 7.6  射频初始化校准
    7. 7.7  运行时间校准
    8. 7.8  覆盖 TX 功率校准 LUT
    9. 7.9  覆盖 RX 增益校准 LUT
    10. 7.10 检索和恢复校准数据
  9. 8参考文献
  10.   A 校准和监控时长
    1.     A.1 引导时校准时长
  11.   修订历史记录

1.1 校准目的

#T5362076-14 示出了 TI 毫米波雷达器件中的雷达前端架构。RX LNA、IF 放大器、TX PA、X4（倍频器）、LO 分配缓冲器和所示时钟源的性能参数都随工艺和温度而变化。

GUID-C5B29535-ABD3-45F6-9FE8-207D8B7E76F2-low.gif图 1-1 TI 毫米波器件中的雷达前端架构

#T5362076-52 中以 RX 增益和 TX 功率为例说明了校准目的。由于制造工艺和温度的变化，RX LNA 和 TX PA 的增益因器件而异。校准的目的是确保根据用户配置保持 RX 增益和输出功率，尽管存在工艺和温度变化。为了实现这一点，内部处理器在初始化时（以减轻工艺变化的影响）和在运行时周期性（以减轻温度漂移的影响）调整毫米波电路配置。#T5362076-52 示出了如何使用校准来将 RX 增益和 TX 功率维持在温度漂移范围内接近配置的设置。这些图表用于提供说明，可能无法反映实际的器件性能。即使在整个温度范围内完成这些校准，器件之间也会存在一些增益差异，这必须在用户应用程序中加以考虑。

GUID-D0E09EB3-1991-4BE9-B810-F7D5829E773D-low.png图 1-2 经过校准和未经过校准的 RX 增益和 TX 功率

这些是 TI 第一代雷达器件的代表性图。根据射频/模拟参数测量调整电路配置以实现一些校准（例如，增益和功率校准）。根据工艺/温度查找表进行调整以实现其他校准。