ZHCAAH1A February   2020  – June 2021 66AK2E05 , 66AK2G12 , 66AK2H06 , 66AK2H12 , 66AK2H14 , 66AK2L06 , TMS320C6652 , TMS320C6654 , TMS320C6655 , TMS320C6657 , TMS320C6670 , TMS320C6671 , TMS320C6672 , TMS320C6674 , TMS320C6678

 

  1.   商标
  2. 1引言
  3. 2KeyStone 错误检测和校正 - EDC 和错误校正码 - ECC
    1. 2.1 KeyStone 错误检测和校正 - EDC
      1. 2.1.1 C66x L1P - EDC 实现
      2. 2.1.2 C66x L1D
      3. 2.1.3 C66x L2 - EDC 实现
    2. 2.2 KeyStone MSMC RAM - EDC 实现
    3. 2.3 KeyStone DDR3 错误校正码 - ECC
    4. 2.4 Arm-A15 错误检测和校正 (ECC) KeyStone 支持
  4. 3参考文献
  5. 4修订历史记录
  6.   A KeyStone DSP 存储器中的单错校正双错检测 (SECDED) 覆盖
    1.     A.1 KeyStone DSP 存储器中的 SECDED 覆盖

2 KeyStone 错误检测和校正 - EDC 和错误校正码 - ECC

为避免终端系统发生故障，很多应用对检测处理器的存储器系统故障有非常严格的要求，否则会使最终用户面临严重情况，或导致对终端系统的可用性要求更严苛。这里有很多原因会导致处理器的存储器出现故障，其中一些会导致永久性故障，另一些则会导致瞬态故障。

在系统运行时检测瞬态故障对于关键应用非常重要。虽然检测永久性故障同样重要，但其发生的可能性通常明显低于瞬态故障。在很多情况下，可通过在应用启动或关闭时运行适当的测试算法来检测永久性故障。瞬态故障主要由软错误引起，其中主要源于芯片封装材料的 α 辐射或来自宇宙射线的中子粒子，它们会导致存储器中发生位翻转或触发器状态改变。

KeyStone 架构提供了多种机制来检测此类故障，并在特定情况下可校正某些故障。