GERY022 December   2024 AMC0106M05 , AMC0106M25 , AMC0136 , AMC0311D , AMC0311S , AMC0386 , AMC0386-Q1 , AMC1100 , AMC1106M05 , AMC1200 , AMC1200-Q1 , AMC1202 , AMC1203 , AMC1204 , AMC1211-Q1 , AMC1300 , AMC1300B-Q1 , AMC1301 , AMC1301-Q1 , AMC1302-Q1 , AMC1303M2510 , AMC1304L25 , AMC1304M25 , AMC1305M25 , AMC1305M25-Q1 , AMC1306M05 , AMC1306M25 , AMC1311 , AMC1311-Q1 , AMC131M03 , AMC1336 , AMC1336-Q1 , AMC1350 , AMC1350-Q1 , AMC23C12 , AMC3301 , AMC3330 , AMC3330-Q1

 

  1.   1
  2.   Einführung
  3.   Einführung in die isolierte Signalkette
    1.     Vergleich isolierter Verstärker und isolierter Modulatoren
      1.      Kurzfassung
      2.      Einführung in isolierte Verstärker
      3.      Einführung in isolierte Modulatoren
      4.      Leistungsvergleich zwischen isolierten Verstärkern und isolierten Modulatoren
      5.      Isolierte Modulatoren in Traktionsumrichtern
      6.      Isolierte Verstärker und Modulatoren, Empfehlungen
      7.      Fazit
    2.     Die ersten Isolationsverstärker von TI mit extrem breiten Luft- und Kriechstrecken
      1.      Anwendungshinweis
  4.   Auswahlbäume
  5.   Strommessung
    1.     Shunt-Widerstandsauswahl für isolierte Datenwandler
      1.      17
    2.     Designüberlegungen für die isolierte Strommessung
      1.      19
      2.      Fazit
      3.      Quellennachweise
      4.      Verwandte Websites
    3.     Isolierte Strommessschaltung mit ±50 mV-Eingang und unsymmetrischem Ausgang
      1.      24
    4.     Isolierte Strommessschaltung mit ±50 mV-Eingang und Differenzausgang
      1.      26
    5.     Isolierte Strommessschaltung mit ±250 mV Eingangsbereich und unsymmetrischer Ausgangsspannung
      1.      Designziele
      2.      Designbeschreibung
      3.      Designhinweise
      4.      Designschritte
      5.      Design-Simulationen
      6.      DC-Simulationsergebnisse
      7.      Ergebnisse der AC-Simulation im geschlossenen Regelkreis
      8.      Ergebnisse der Transienten-Simulation
      9.      Designreferenzen
      10.      Design empfohlener isolierter Verstärker
      11.      Design Alternativer Isolierter Verstärker
    6.     Isolierter Strommessschaltkreis mit ±250 mV-Eingang und Differenzausgang
      1.      Designziele
      2.      Designbeschreibung
      3.      Designhinweise
      4.      Designschritte
      5.      Design-Simulationen
      6.      DC-Simulationsergebnisse
      7.      Ergebnisse der Closed-Loop-AC-Simulation
      8.      Ergebnisse der Transienten-Simulation
      9.      Designreferenzen
      10.      Vorgestellte Operationsverstärker
      11.      Design alternativer Operationsverstärker
    7.     Isolierter Überstromschutzschaltkreis
      1.      52
    8.     Anschluss eines Differenzialausgangsverstärkers (isoliert) an einen A/D-Wandler mit unsymmetrischem Eingang
      1.      54
    9.     Verwendung von AMC3311 zur Stromversorgung des AMC23C11 für isolierte Sensorik und Fehlererkennung
      1.      Anwendungshinweis
    10.     Isolierte Strommessschaltung mit Frontend-Verstärkungsstufe
      1.      58
    11.     Genauigkeitsvergleich von isolierten Shunt- und Geschlossener Regelkreis-Strommessungen
      1.      60
  6.   Spannungserfassung
    1.     Maximieren Sie die Leistungswandlung und die Wirksamkeit der Motorsteuerung durch isolierte Spannungserfassung
      1.      63
      2.      Lösungen zur Hochspannungserfassung
      3.      Integrierte Widerstandsbausteine
      4.      Unsymmetrische Ausgangsspannung
      5.      Anwendungsfälle für integrierte isolierte Spannungserkennung
      6.      Fazit
      7.      Weitere Ressourcen
    2.     Höhere Genauigkeit und Leistung mit integrierten isolierten Verstärkern und Modulatoren mit Hochspannungswiderstand
      1.      Kurzfassung
      2.      Einführung
      3.      Vorteile von isolierten Verstärkern und Modulatoren mit Hochspannungswiderstand
        1.       Platzsparend
        2.       Verbesserte Temperatur- und Lebensdauerdrift von integrierten HV-Widerständen
        3.       Ergebnisse mit hoher Genauigkeit
        4.       Beispiel für vollständig integrierte Widerstände vs. Zusätzlicher externer Widerstand
        5.       Bausteinauswahlbaum und gängige AC/DC-Anwendungsfälle
      4.      Zusammenfassung
      5.      Quellennachweise
    3.     Isolierte Verstärker mit differenziellen, unsymmetrischen Festverstärkern und ratiometrischen Ausgängen für Spannungssensoranwendungen
      1.      Kurzfassung
      2.      Einführung
      3.      Übersicht über differenzielle, unsymmetrische und ratiometrische Ausgänge mit fester Verstärkung
        1.       Isolierte Verstärker mit Differenzausgang
        2.       Isolierte Verstärker mit unsymmetrischem Ausgang mit fester Verstärkung
        3.       Trennverstärker mit unsymmetrischem, ratiometrischem Ausgang
      4.      Anwendungsbeispiele
        1.       Produktauswahlbaum
      5.      Zusammenfassung
      6.      Quellennachweise
    4.     Isolierte Spannungsmessschaltung mit ±250 mV-Eingang und Differenzausgang
      1.      93
    5.     Split-Tap-Verbindung für isolierte Line-to-Line-Spannungsmessung mit AMC3330
      1.      95
    6.     ±12 V-Spannungssensorschaltung mit isoliertem Verstärker und pseudo-differenziellem Eingang SAR-ADC
      1.      97
    7.     ±12 V-Spannungssensorschaltung mit isoliertem Verstärker und SAR-ADC mit Differenzeingang
      1.      99
    8.     Isolierter Schaltkreis zur Erkennung von Unter- und Überspannung
      1.      101
    9.     Isolierter Nulldurchgangsschaltkreis
      1.      103
    10.     Isolierter Spannungssensorschaltkreis mit ±480 V und Differenzausgang
      1.      105
  7.   EMI-Leistung
    1.     Beste EMI-Leistung in ihrer Klasse bei Strahlungsemissionen mit isolierten Verstärkern
      1.      Beste EMI-Leistung in ihrer Klasse bei Strahlungsemissionen mit isolierten Verstärkern
      2.      Einführung
      3.      Aktuelle Generation von isolierten Verstärkern von Texas Instruments Strahlungsemissionenleistung
      4.      Frühere Generationen von isolierten Verstärkern von Texas Instruments strahlen Störstrahlungsleistung aus
      5.      Fazit
      6.      Quellennachweise
    2.     Bewährte Methoden zur Dämpfung von EMI-Störstrahlungen der AMC3301-Familie
      1.      Kurzfassung
      2.      Einführung
      3.      Auswirkungen der Eingangsanschlüsse auf die Strahlungsemissionen der AMC3301-Familie
      4.      Dämpfung der Strahlungsemissionen der AMC3301-Familie
        1.       Ferritperlen und Gleichtaktdrosseln
        2.       Leiterplatten-Schaltpläne und bewährte Methoden für das Layout für die AMC3301-Familie
      5.      Verwendung mehrere AMC3301-Geräte
        1.       Bausteinausrichtung
        2.       Bewährte Methoden für das Leiterplatten-Layout für mehrere AMC3301
      6.      Fazit
      7.      Tabelle der AMC3301-Familie
  8.   Endgeräte
    1.     Vergleich von isolierten Shunt- und Hall-basierten Strommesslösungen in Hybrid- und Elektrofahrzeugen
      1.      128
    2.     Designüberlegungen für die Strommessung in DC-EV-Ladeanwendungen
      1.      Kurzfassung
      2.      Einführung
        1.       DC-Ladestation für Elektrofahrzeuge
        2.       Auswahl der Strommesstechnologie und äquivalentes Modell
          1.        Strommessung mit Shunt-basierter Lösung
          2.        Äquivalenzmodell der Sensortechnologie
      3.      Strommessung in AC/DC-Wandlern
        1.       Grundlegende Hardware und Steuerungsbeschreibung von AC/DC
          1.        AC Stromregelkreise
          2.        Gleichspannungsregelkreis
        2.       Punkt A und B – AC/DC AC-Phasenstrommessung
          1.        Auswirkungen der Bandbreite
            1.         Stationäre Zustandsanalyse: Grund- und Nulldurchgangs-Ströme
            2.         Transientenanalyse: Sprungleistung und Spannungseinbruchverhalten
          2.        Auswirkungen der Latenz
            1.         Fehleranalyse: Kurzschluss im Stromnetz
          3.        Auswirkungen des Verstärkungsfehlers
            1.         Spannungsstörung in AC/DC durch Verstärkungsfehler
            2.         AC/DC-Antwort auf durch Verstärkungsfehler verursachte Stromversorgungsstörung
          4.        Auswirkungen des Offset
        3.       Punkt C und D – AC/DC DC-Link-Strommessung
          1.        Auswirkungen der Bandbreite auf die Feed-Forward-Leistung
          2.        Auswirkungen der Latenz auf den Schutz der Leistungsschalter
          3.        Auswirkungen des Verstärkungsfehlers auf die Leistungsmessung
            1.         Transientenanalyse: Feed Forward in Punkt D
          4.        Auswirkungen des Offset
        4.       Zusammenfassung der positiven und negativen Punkte an den Punkten A, B, C1/2 und D1/2 sowie Produktvorschläge
      4.      Strommessung in DC/DC-Wandlern
        1.       Grundlegendes Funktionsprinzip eines isolierten DC/DC-Wandlers mit Phasenverschiebungssteuerung
        2.       Punkt E, F – DC/DC-Strommessung
          1.        Auswirkungen der Bandbreite
          2.        Auswirkungen des Verstärkungsfehlers
          3.        Auswirkung des Offsetfehlers
        3.       Punkt G – DC/DC-Tankstrommessung
        4.       Zusammenfassung der Sensorpunkte E, F, G und Produktvorschläge
      5.      Fazit
      6.      Quellennachweise
    3.     Verwendung isolierter Komparatoren zur Fehlererkennung in Elektromotorantrieben
      1.      Einführung
      2.      Einführung in Elektromotorantriebe
      3.      Verständnis von Fehlerereignissen in Elektromotorantrieben
      4.      Zuverlässige Erkennung und Schutz in Elektromotorantrieben
      5.      Anwendungsfall Nr. 1: Bidirektionale Phasenüberstromerkennung
      6.      Anwendungsfall Nr. 2: DC+-Überstromerkennung
      7.      Anwendungsfall Nr. 3: DC–Überstrom- oder Kurzschlusserkennung
      8.      Anwendungsfall Nr. 4: DC-Link (DC+ zu DC-) Überspannungs- und Unterspannungserkennung
      9.      Anwendungsfall Nr. 5: Übertemperaturerkennung des IGBT-Moduls
    4.     Diskrete DESAT für optokompatible isolierte Gate-Treiber UCC23513 in Motorantrieben
      1.      Kurzfassung
      2.      Einführung
      3.      Systemherausforderung bei isolierten Gate-Treibern mit integriertem DESAT
      4.      Systemansatz mit UCC23513 und AMC23C11
        1.       Systemübersicht und Schlüsselspezifikation
        2.       Schaltplandesign
          1.        Schaltplan
          2.        Konfigurieren des VCE(DESAT)-Schwellenwerts und des DESAT-Bias-Strom
          3.        DESAT-Ausblendzeit
          4.        DESAT Deglitch-Filter
        3.       Referenz-Platinenlayout
      5.      Simulations- und Testergebnisse
        1.       Simulationsschaltung und Ergebnisse
          1.        Simulationsschaltung
          2.        Simulationsergebnisse
        2.       Testergebnisse mit 3-Phasen-IGBT-Inverter
          1.        IGBT-Bremsprüfung
          2.        Testergebnisse mit einem 3-Phasen-Inverter mit Phase-zu-Phase-Kurzschluss
      6.      Zusammenfassung
      7.      Quellennachweise
    5.     Isolierte Spannungserfassung in AC-Motorantrieben
      1.      Einführung
      2.      Fazit
      3.      Quellennachweise
    6.     Hochleistungsfähige isolierte Strom- und Spannungsmessung in Server-Netzteilen
      1.      Anwendungshinweis
  9.   Zusätzliche Referenzdesigns/Schaltkreise
    1.     Entwicklung einer Bootstrap-Ladepumpen-Stromversorgung für einen isolierten Verstärker
      1.      Zusammenfassung
      2.      Einführung
      3.      Bootstrap StromversorgungenDesign
        1.       Auswahl des Ladungspumpenkondensators
        2.       Simulation in TINA-TI
        3.       Hardware-Test mit AMC1311-Q1
      4.      Zusammenfassung
      5.      Referenz
    2.     Taktflankenverzögerungskompensation mit isolierten Modulatoren Digitale Schnittstelle zu MCUs
      1.      Zusammenfassung
      2.      Einführung
      3.      Design-Herausforderung durch Timing-Spezifikationen für digitale Schnittstellen
      4.      Designansatz mit Taktflankenverzögerungskompensation
        1.       Taktsignalkompensation mit Softwarekonfigurierbarer Phasenverzögerung
        2.       Taktsignalkompensation mit Hardware-konfigurierbarer Phasenverzögerung
        3.       Taktsignalkompensation durch Taktrückkehr
        4.       Taktsignalkompensation durch Taktumkehr an der MCU
      5.      Test und Validierung
        1.       Prüfausrüstung und Software
        2.       Testen der Taktsignalkompensation mit softwarekonfigurierbarer Phasenverzögerung
          1.        Testeinrichtung
          2.        Test-Messergebnisse
        3.       Testen der Taktsignalkompensation durch Taktumkehr an der MCU
          1.        Testeinrichtung
          2.        Test-Messergebnisse
            1.         Testergebnis – Keine Taktumkehr des Takteingangs bei GPIO123
            2.         Testergebnis – Taktumkehr des Takteingangs bei GPIO123
        4.       Validierung des Timings digitaler Schnittstellen durch Berechnungstool
          1.        Digitale Schnittstelle ohne Kompensationsmethode
          2.        Häufig verwendete Methode – Reduzierung der Taktfrequenz
          3.        Taktflankenkompensation Mit Software-konfigurierbarer Phasenverzögerung
      6.      Fazit
      7.      Quellennachweise
    3.     Verwendung von AMC3311 zur Stromversorgung des AMC23C11 für isolierte Sensorik und Fehlererkennung
      1.      Anwendungshinweis

Design-Herausforderung durch Timing-Spezifikationen für digitale Schnittstellen

Isolierte Delta-Sigma-Modulatoren bieten Schnittstellenoptionen sowohl für ein extern als auch intern generiertes Taktsignal mit entweder einer CMOS- oder einer LVDS-Schnittstelle. Bei Geräten mit extern bereitgestellter Taktquelle, z. B. AMC1306M25 mit CMOS-Schnittstelle oder AMC1305L25 mit LVDS-Schnittstelle, wird das Taktsignal von der MCU an den Takteingang des Delta-Sigma-Modulators geleitet, während bei Geräten mit intern bereitgestellter Taktquelle der Ausgabebitstrom mit dem intern erzeugten Takt synchronisiert wird, zum Beispiel AMC1303M2520. Es gibt auch isolierte Delta-Sigma-Modulator-Bausteine mit Manchester-codiertem Ausgang Bitstrom, die Eindrahtdaten- und Taktübertragung unterstützen, zum Beispiel AMC1306E25. Bei allen isolierten Delta-Sigma-Modulatoren stellt der Datenausgang des Modulators einen Bitstrom digitaler Einsen und Nullstellen bereit, der synchron zur Taktkante nach außen verschoben wird.

Abbildung 145 zeigt ein vereinfachtes Beispiel für eine CMOS-Schnittstelle mit 3,3 V E/A zwischen dem isolierten Delta-Sigma-Modulator AMC1306M25 und einem C2000 MCU TMS320F28379D. Da der AMC1306M25 eine extern bereitgestellte Taktquelle benötigt, wird das Taktsignal vom MCU TMS320F28379D erzeugt und an den Takteingang des Delta-Sigma-Modulators CLKIN geleitet. Parallel dazu wird das erzeugte Taktsignal auch zum Takteingang an das Sigma-Delta-Filtermodul (SDFM) der MCUs SD1_C1 (GPIO123) geleitet. Je nach Systemdesign kann sich in der Taktschnittstelle zwischen der MCU und dem isolierten Delta-Sigma-Modulator ein Taktpuffer befinden. Der isolierte Datenausgangs-DOUT des Delta-Sigma-Modulators ist direkt mit dem Sigma-Delta Filtermodule-(SDFM)-Dateneingang SD1_D1 (GPIO122) des MCUs verbunden.

 Vereinfachte digitale Schnittstelle des AMC1306M25 zum TMS320F28379DAbbildung 145 Vereinfachte digitale Schnittstelle des AMC1306M25 zum TMS320F28379D

Die gültige Kommunikation zwischen dem isolierten Delta-Sigma-Modulator und der MCU wird in den jeweiligen Datenblättern des Bausteins durch die Einrichtungs- und Hold-Timing-Anforderungen beschrieben. Die Einrichtungszeit ist die Zeit, die das Datensignal vor einem Taktsignalübergang gültig und stabil sein muss, um das Datensignal in der MCU zu erfassen. Die Haltezeit ist die Zeit, die ein Signal gültig und stabil gehalten werden muss, nachdem ein Taktsignalübergang eintritt. Die Einhaltung der Anforderungen an die Einrichtung und Haltezeit von MCUs ist von entscheidender Bedeutung, da jeder Verstoß zur Erfassung falscher Daten führen kann. Die Inkompatibilität zwischen der Konfiguration der digitalen Schnittstelle und den Anforderungen an das Hold-Timing des isolierten Delta-Sigma-Modulators und der MCU kann eine Designherausforderung darstellen.

Abbildung 146 skizziert das digitale Schnittstellen-Timing für die Einrichtungs- und Haltezeit des AMC1306x, das eine empfohlene Taktfrequenz (CLKIN) von 5 MHz bis 21 MHz mit einer Datenhaltezeit th (MIN) = 3,5 ns und einer Datenverzögerungszeit td (MAX) = 15 ns unterstützt.

 AMC1306x Digitales Schnittstellen-TimingAbbildung 146 AMC1306x Digitales Schnittstellen-Timing

Abbildung 147 skizziert das Zeitdiagramm des Sigma-Delta-Filtermoduls (SDFM) TMS320F28379D für Modus 0. Die Dateneingabe bei SDX_Dy muss die minimale Einrichtungszeit tsu(SDDV-SDCH)M0 und die minimale Haltezeit th(SDCH-SDD)M0 in Bezug auf die steigende Taktflanke des SDX_Cy-Signals im SDFM-Modul erfüllen.

 TMS320F28379D SDFM-Zeitdiagramm – Modus 0Abbildung 147 TMS320F28379D SDFM-Zeitdiagramm – Modus 0

Für das TMS320F28379D SDFM-Modul im Modus 0 empfehlen wir den SDFM-Betrieb mit qualifiziertem GPIO (3-Abtastfenster). Dieser Modus bietet Schutz vor zufälligen Rauschstörungen beim Eingangstaktsignal (SDX_Cy) und Dateneingang (SDX_Dy), um falsche Komparator-Überstromauslösung und falsche Sinc-Filterausgabe zu vermeiden. Die minimalen Einrichtungs- und Haltezeiten für einen 200-MHz-Systemtakt mit TMD320F28379D liegen bei 10 ns: tsu (SDDV-SDCH)M0 (MIN) = 10 ns und th(SDCH-SDD)M0 (MIN) = 10 ns.

Dies stellt eine Designherausforderung dar, da die minimale Haltezeit th (MIN) des AMC1306M25 3,5 ns beträgt. Allerdings sind 10 ns erforderlich, damit das SDFM-Modul die korrekte Erfassung am Dateneingang SDX_Dy mit Bezug auf die steigende Taktflanke des SDX_Cy-Signals aufrechterhalten kann.

Eine weitere Herausforderung besteht darin, dass sich die Ausbreitungsverzögerung zusätzlicher Komponenten in der Signalkette mit der digitalen Schnittstelle, wie zum Beispiel ein Taktpuffer, sowie die Ausbreitungsverzögerung der durch die Leiterbahnlänge auf der Leiterplatte eingebundenen Takt- und Datensignale auf die Timings zwischen SDX_Cy- und SDX_Dy-Eingaben auswirken und das korrekte Erfassungs-Timinig der Dateneingabe erschweren.

Das gleiche gilt für Delta-Sigma-Modulatoren mit LVDS-Schnittstelle, wie den AMC1305L25. Der einzige Unterschied zu AMC1306M25 Delta-Sigma-Modulatoren mit CMOS-Schnittstellentyp besteht darin, dass für die digitale Signalkette zu einer MCU mit CMOS-Schnittstelle zusätzliche Komponenten wie ein LVDS-Treiber und -Empfänger benötigt werden, was zu weiteren Ausbreitungsverzögerungen beiträgt. Abbildung 148 zeigt eine vereinfachte digitale Schnittstelle zwischen dem isolierten Delta-Sigma-Modulator AMC1305L25 mit LVDS-Schnittstelle und der MCU TMS320F28379D mit CMOS-Schnittstelle.

 AMC1305L25 Digitale Schnittstelle zu TMS320F28379DAbbildung 148 AMC1305L25 Digitale Schnittstelle zu TMS320F28379D

Abbildung 149 zeigt eine vereinfachte digitale Schnittstelle eines isolierten Delta-Sigma-Modulators mit einer intern erstellten Taktquelle AMC1303Mx mit CMOS-Schnittstelle zum TMS320F28379D mit CMOS-Schnittstelle. Das intern erzeugte Taktsignal CLKOUT des AMC1303Mx wird in das Sigma-Delta-Filtermodul (SDFM) SD1_C1 (GPIO123) der MCUs eingebracht. Der isolierte Datenausgangs-DOUT des Delta-Sigma-Modulators ist direkt mit dem MCUs-Dateneingang SD1_D1 (GPIO122) des SDFM verbunden.

 Digitale CMOS-Schnittstelle zum TMS320F28379D AMC1303M2520 für 3,3 VAbbildung 149 Digitale CMOS-Schnittstelle zum TMS320F28379D AMC1303M2520 für 3,3 V

Bei der Verwendung eines isolierten Modulators mit einem internen Taktgeber beschränkt sich die Herausforderung der digitalen Schnittstelle auf die verschiedenen Timing-Spezifikationen des isolierten Delta-Sigma-Modulators und die Einrichtungs- und Haltezeiten der MCUs. Die Ausbreitungsverzögerung von Takt- und Datensignalen, die durch die Leiterbahnlänge auf der Platine eingeführt wird, kann vernachlässigt werden, wenn die Takt- und Datensignale auf derselben Länge geroutet werden. In der Regel ist der Modulator direkt mit der MCU verbunden, sodass kein Puffer oder Pegelwandler benötigt wird, was eine zusätzliche Ausbreitungsverzögerung bedeutet.

Die AMC1303Mx Haltezeit th(MIN) beträgt 7 ns und die Verzögerungszeit td (MAX) beträgt 15 ns für die 10-MHz- und 20-MHz-Taktversionen. Die Herausforderung besteht darin, dass die minimale Haltezeit t (MIN) von AMC1303Mx 7 ns beträgt, aber das SDFM-Modul 10 ns benötigt, um die Dateneingabe an SDX_Dy ohne jegliche Einrichtungs- und Haltezeitverletzungen korrekt zu erfassen.

Bei isolierten Delta-Sigma-Modulatoren mit einem Manchester-codierten Bitstream-Ausgang, z. B. AMC1306E25, werden Daten und Takt über eine Eindraht-Lösung übertragen. Damit die Anforderungen an die Einrichtungs- und Haltezeit des empfangenden Geräts gegenüber dem Modulatortakt nicht berücksichtigt werden müssen.

Eine häufig verwendete Methode und ein Kompromiss bei der Erfüllung der Anforderungen an die Einrichtung und Haltezeit von MCUs ist die Reduzierung der Taktfrequenz. Allerdings führt die Reduzierung der Taktfrequenz auch zu einer Reduzierung der Datenausgangsrate des isolierten Delta-Sigma-Modulators und einer Erhöhung der Latenz der Strommessung. Eine geeignetere Methode ist die Verwendung einer Taktvoreilungs-Verzögerungskompensation. Diese ermöglicht es, die Taktflanke des Taktsignals an einen idealen Abtastpunkt des Datensignals zu verschieben, um die Einrichtungs- und Hold-Timing-Anforderungen zu erfüllen. Durch diese Methode werden die Taktfrequenzbeschränkungen beseitigt, wodurch der isolierte Delta-Sigma-Modulator und das System mit voller Leistung arbeiten können.