ZHCSX59A August 2024 – August 2025 TAS2120
PRODUCTION DATA
| 最小值 | 标称值 | 最大值 | 单位 | ||
|---|---|---|---|---|---|
| I2C - 标准模式 | |||||
| fSCL | SCL 时钟频率 | 0 | 100 | kHz | |
| tHD;STA | (重复)START 条件后的保持时间。在此时间段之后,生成第一个时钟脉冲。 | 4 | μs | ||
| tLOW | SCL 时钟的低电平周期 | 4.7 | μs | ||
| tHIGH | SCL 时钟的高电平周期 | 4 | μs | ||
| tSU;STA | 重复 START 条件的建立时间 | 4.7 | μs | ||
| tHD;DAT | 数据保持时间:对于 I2C 总线器件 | 0 | 3.45 | μs | |
| tSU;DAT | 数据建立时间 | 250 | ns | ||
| tr | SDA 和 SCL 上升时间 | 1000 | ns | ||
| tf | SDA 和 SCL 下降时间 | 300 | ns | ||
| tSU;STO | STOP 条件的建立时间 | 4 | μs | ||
| tBUF | STOP 与 START 条件之间的总线空闲时间 | 4.7 | μs | ||
| Cb | 每个总线的容性负载 | 400 | pF | ||
| I2C - 快速模式 | |||||
| fSCL | SCL 时钟频率 | 0 | 400 | kHz | |
| tHD;STA | (重复)START 条件后的保持时间。在此时间段之后,生成第一个时钟脉冲。 | 0.6 | μs | ||
| tLOW | SCL 时钟的低电平周期 | 1.3 | μs | ||
| tHIGH | SCL 时钟的高电平周期 | 0.6 | μs | ||
| tSU;STA | 重复 START 条件的建立时间 | 0.6 | μs | ||
| tHD;DAT | 数据保持时间:对于 I2C 总线器件 | 0 | 0.9 | μs | |
| tSU;DAT | 数据建立时间 | 100 | ns | ||
| tr | SDA 和 SCL 上升时间 | 20 + 0.1 × Cb | 300 | ns | |
| tf | SDA 和 SCL 下降时间 | 20 + 0.1 × Cb | 300 | ns | |
| tSU;STO | STOP 条件的建立时间 | 0.6 | μs | ||
| tBUF | STOP 与 START 条件之间的总线空闲时间 | 1.3 | μs | ||
| Cb | 每个总线的容性负载 | 400 | pF | ||
| TDM 端口 | |||||
| fsbclk | SBCLK 频率范围 | 0.384 | 24.576 | MHz | |
| tH(SBCLK) | SBCLK 高电平周期 | 0.35/fsbclk | ns | ||
| tL(SBCLK) | SBCLK 低电平时间 | 0.35/fsbclk | ns | ||
| tSU(FSYNC) | FSYNC 设置时间 | 8 | ns | ||
| tHLD(FSYNC) | FSYNC 保持时间 | 8 | ns | ||
| tSU(SDIN) | SDIN 设置时间 | 8 | ns | ||
| tHLD(SDIN) | SDIN 保持时间 | 8 | ns | ||
| td (SBCLK SDOUT) | SBCLK 到 SDOUT 延迟:SBCLK 下降沿的 10% 或 SBCLK 上升沿的 90% 至 SDOUT 的 50%,IOVDD = 1.8V |
30 | ns | ||
| td (SBCLK SDOUT) | SBCLK 到 SDOUT 延迟:SBCLK 下降沿的 10% 或 SBCLK 上升沿的 90% 至 SDOUT 的 50%,IOVDD = 3.3V |
18.5 | ns | ||
| tr(SBCLK) | SBCLK 上升时间:10% - 90% 上升时间 | 0.15/fsbclk | ns | ||
| tf(SBCLK) | SBCLK 下降时间:90% - 10% 上升时间 | 0.15/fsbclk | ns | ||
| tf(SBCLK-CLH) | SBCLK 到 CLH 延迟:Boost 共享配置 | 1/2* fsbclk | ns | ||