TIDA-01054

用于消除高性能 DAQ 系统中的 EMI 影响的多轨电源参考设计

TIDA-01054

设计文件

概述

TIDA-01054 参考设计采用 LM53635 降压转换器,可帮助消除 EMI 对高于 16 位的数据采集 (DAQ) 系统的性能降低影响。借助该降压转换器,设计人员可以将电源解决方案放置在靠近信号路径的位置,而不会产生不必要的 EMI 噪声降级,同时可以节省布板空间。该设计使用 20 位 1MSPS SAR ADC 支持 100.13dB 的系统 SNR 性能,这基本匹配使用外部电源时的 100.14dB SNR 性能。

特性
  • 电源设计可最大程度地减小直流/直流 EMI 对系统性能的影响
  • 具有两个 20 位 SAR ADC 通道
  • 适用于可重复的高通道数系统的模块化前端参考设计
  • 高达 +/-4V 的输入信号(8Vpp 差动)
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我们开发的全面组装电路板仅用于测试和性能验证,不可用于销售。

设计文件和产品

设计文件

下载现成的系统文件,加快您的设计过程。

ZHCU326A.PDF (3061 K)

参考设计概述和经过验证的性能测试数据

TIDRSM4A.PDF (1043 K)

设计布局和元件的详细原理图

TIDRSM5A.PDF (79 K)

设计元件、引用标识符和制造商/器件型号的完整列表

TIDRSM6.PDF (858 K)

元件放置方式设计布局的详细原理图

TIDRSM8A.ZIP (57322 K)

IC 元件的 3D 模型和 2D 图纸使用的文件

TIDCDT9.ZIP (1236 K)

包含设计 PCB 物理板层信息的设计文件

TIDRSM7.PDF (3668 K)

用于生成 PCB 设计布局的 PCB 层图文件

产品

在设计中包括 TI 产品和可能的替代产品。

D 型触发器

SN74AUP1G80低功耗单路上升沿 D 级触发器

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Precision ADCs

ADS8900B具有内部 VREF 缓冲器、内部 LDO 和增强型 SPI 的 20 位 1MSPS 单通道 SAR ADC

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串联电压基准

REF50404.096V、3µVpp/V 噪声、3ppm/°C 温漂、精密串联电压基准

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串联电压基准

REF6041具有集成缓冲器和使能引脚的 4.096V、5ppm/°C 高精度电压基准

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反向缓冲器和驱动器

SN74AHC1G04单路 2V 至 5.5V 反相器

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振荡器

LMK61E2156.250MHz、±50ppm、超低抖动、集成式 EEPROM、完全可编程振荡器

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时钟缓冲器

LMK00804B低偏斜、1 至 4、多路复用差动/LVCMOS 至 LVCMOS/TTl 扇出缓冲器

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电荷泵(无电感器)

LM7705低噪声负偏置发生器

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精密运算放大器 (Vos<1mV)

OPA376精密 (0.025mV)、低噪声 (7.5nV/rtHz)、低静态电流 (760uA) 运算放大器

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精密运算放大器 (Vos<1mV)

OPA827低噪声、高精度 JFET 输入运算放大器

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线性和低压降 (LDO) 稳压器

TPS7A3001-EP负 VIN、200mA、超低噪声、高 PSRR、LDO 稳压器(增强型产品)

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线性和低压降 (LDO) 稳压器

TPS7A47具有使能功能的 1A、36V、低噪声、高 PSRR、低压降稳压器

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降压模块(集成电感器)

LMZ14201采用 Leaded Surface Mount TO 封装的 SIMPLE SWITCHER® 6V 至 42V、1A 电源模块

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降压模块(集成电感器)

LMZ14202采用 Leaded SMT-TO 封装的 SIMPLE SWITCHER® 6V 至 42V、2A 电源模块

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降压模块(集成电感器)

LMZ14203采用 Leaded Surface Mount TO 封装的 SIMPLE SWITCHER® 6V 至 42V、3A 电源模块

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降压转换器(集成开关)

LM460013.5 至 60V、1A 同步降压转换器

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降压转换器(集成开关)

LM53635-Q13.5A、36V 同步、2.1MHz、汽车类降压直流/直流转换器

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降压转换器(集成开关)

LM557475V、0.5A 降压开关稳压器

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高速运算放大器 (GBW ≥ 50MHz)

OPA625具有功率调节功能的高带宽、高精密、低噪声和低失真放大器 SAR ADC 驱动器

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技术文档

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类型 标题 下载最新的英文版本 日期
设计指南 用于消除高性能DAQ 系统中的EMI 影响的多轨电源参考设计 (Rev. A) 英语版 (Rev.A) 2018年 4月 11日
技术文章 Powering up the performance of sensitive test and measurement systems PDF | HTML 2017年 10月 17日

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