LM7705
- 经过稳压的输出电压 - 0.232V
- 输出电压容差为 5%
- 输出纹波电压为 4mVPP
- 电源电压为 3V 至 5.25V
- 转换效率高达 98%
- 静态电流为 78µA
- 关断电流为 20nA
- 开通时间为 500µs
- 运行温度范围为 –40°C 至 125°C
- 8 引脚 VSSOP 封装
LM7705 器件是一款带有一个 −0.23V 低噪声固定式负电压稳压器的开关电容器电压逆变器。此器件专门用于低电压放大器，使放大器输出接近零电压。−0.23V 用于为放大器的负电源引脚供电，同时将整个放大器的电压维持在 5.5V 以下。在单电源电压下工作时，轨至轨输出放大器无法输出零电压，并且由于放大器输出饱和电压被以下增益级放大，因而会导致累积误差。较小的负电源电压会阻止放大器输出在零电压时达到饱和状态，并有助于通过信号处理链维持准确的零电压。而且，当使用放大器驱动 ADC 输入时，该放大器可以输出一个零电压信号，并可以使用完整的 ADC 输入范围。LM7705 器件具有一个关断引脚，可将待机功耗降至最低。
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设计和开发
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评估板
ADS8168EVM-PDK — ADS8168 8 通道 16 位 1MSPS SAR ADC 评估模块性能演示套件 (PDK)
ADS8168 评估模块 (EVM) 性能演示套件 (PDK) 是一个用于评估 ADS8168 逐次逼近型寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC) 性能的平台。ADS8168EVM-PDK 包括 ADS8168EVM 板、精密主机接口 (PHI) 控制器板和随附的计算机软件，借助此软件，用户便可通过通用串行总线 (USB) 与 ADC 进行通信，并可采集数据和进行数据分析。
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评估板
LM7705MMEVAL — 用于 LM7705 的评估板
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模拟工具
PSPICE-FOR-TI — 适用于 TI 设计和模拟工具的 PSpice®
PSpice® for TI 可提供帮助评估模拟电路功能的设计和仿真环境。此功能齐全的设计和仿真套件使用 Cadence® 的模拟分析引擎。PSpice for TI 可免费使用，包括业内超大的模型库之一，涵盖我们的模拟和电源产品系列以及精选的模拟行为模型。
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参考设计
TIDA-01042 — 适用于 50A、100A 和 200A 应用的模块化电池测试仪参考设计
该参考设计提供了模块化电池测试解决方案，使用户能够使用一种设计在不同的电流水平下灵活地进行电池测试。该设计利用了 TIDA-01041 参考设计，通过提供两个可独立工作或并联的 100A 电池测试仪，将最大电流输出从 100A 提高至 200A。该设计说明了此解决方案的设计原理、器件选择和优化。
参考设计
TIDA-01054 — 用于消除高性能 DAQ 系统中的 EMI 影响的多轨电源参考设计
TIDA-01054 参考设计采用 LM53635 降压转换器，可帮助消除 EMI 对高于 16 位的数据采集 (DAQ) 系统的性能降低影响。借助该降压转换器，设计人员可以将电源解决方案放置在靠近信号路径的位置，而不会产生不必要的 EMI 噪声降级，同时可以节省布板空间。该设计使用 20 位 1MSPS SAR ADC 支持 100.13dB 的系统 SNR 性能，这基本匹配使用外部电源时的 100.14dB SNR 性能。
参考设计
TIDA-01055 — 用于高性能 DAQ 系统的 ADC 电压基准缓冲器优化参考设计
适用于高性能 DAQ 系统的 TIDA-01055 参考设计优化了 ADC 基准缓冲器，以提高 SNR 性能并降低功耗（使用 TI OPA837 高速运算放大器）。该器件用于复合缓冲器配置，与传统运算放大器相比，将功耗降低了 22%。具有集成缓冲器的电压基准源通常缺少在高通道数系统中实现最佳性能所需的驱动强度。该参考设计能够驱动多个 ADC 并实现 15.77 位的系统 ENOB（使用 18 位 2MSPS SAR ADC）。
参考设计
TIDA-01057 — 用于最大限度提高 20 位 ADC 的信号动态范围以实现真正 10Vpp 差分输入的参考设计
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TIDA-01056 — 用于在最大限度地减小 EMI 的同时优化供电效率的 20 位 1MSPS DAQ 参考设计
该适用于高性能数据采集 (DAQ) 系统的参考设计优化了功率级，以降低功耗并最大程度地减小开关稳压器的 EMI 影响（通过使用 LMS3635-Q1 降压转换器）。与 LM53635 降压转换器相比，该参考设计可在最轻负载电流下将效率提高 7.2%，从而实现 125.25dB 的 SFDR、99dB 的 SNR 和 16.1 的 ENOB。
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TIDA-01051 参考设计用于演示极高通道数数据采集 (DAQ) 系统（如用在自动测试设备 (ATE) 中的系统）经过优化的通道密度、集成、功耗、时钟分配和信号链性能。利用串行器（如 TI DS90C383B）将多个同步采样 ADC 输出与几个 LVDS 线结合，可显著减少主机 FPGA 必须处理的引脚数量。因此，单个 FPGA 可处理的 DAQ 通道数量大幅增加，而且电路板布线的复杂性也大大降低。
参考设计
TIDA-01050 — 适用于 18 位 SAR 数据转换器的模拟前端优化型 DAQ 系统参考设计
TIDA-01050 参考设计是为了改善通常与自动测试设备相关的集成、功耗、性能和时钟问题。该设计适用于任何 ATE 系统，但还是最适用于需要大量输入通道的系统。
参考设计
TIDA-01052 — 使用负电源输入改进满标量程 THD 的 ADC 驱动器参考设计
TIDA-01052 参考设计旨在突显在模拟前端驱动器放大器上使用负电压轨而不是接地所致的系统性能提升。此概念与所有模拟前端有关，但此设计专门针对自动测试设备。
参考设计
TIDA-00187 — 扩展全差动放大器的轨到轨输出范围以包括真正零电压
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