ZHDS072 January   2026 ADS1278QML-SP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1 绝对最大额定值
    2. 5.2 ESD 等级
    3. 5.3 建议运行条件
    4. 5.4 热性能信息
    5. 5.5 电气特性
    6. 5.6 质量合格检验
    7. 5.7 时序要求：SPI 格式
    8. 5.8 时序要求：帧同步格式
    9. 5.9 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1  采样孔径匹配
      2. 6.3.2  频率响应
        1. 6.3.2.1 高速、低功耗及低速模式
        2. 6.3.2.2 高分辨率模式
      3. 6.3.3  相位响应
      4. 6.3.4  趋稳时间
      5. 6.3.5  数据格式
      6. 6.3.6  模拟输入（AINP、AINN）
      7. 6.3.7  电压基准输入（VREFP、VREFN）
      8. 6.3.8  时钟输入 (CLK)
      9. 6.3.9  模式选择 (MODE)
      10. 6.3.10 同步 (SYNC)
      11. 6.3.11 断电 (PWDN)
      12. 6.3.12 Format[2:0]
      13. 6.3.13 串行接口协议
      14. 6.3.14 SPI 串行接口
        1. 6.3.14.1 SCLK
        2. 6.3.14.2 DRDY/FSYNC（SPI 格式）
        3. 6.3.14.3 DOUT
        4. 6.3.14.4 DIN
      15. 6.3.15 帧同步串行接口
        1. 6.3.15.1 SCLK
        2. 6.3.15.2 DRDY/FSYNC（帧同步格式）
        3. 6.3.15.3 DOUT
        4. 6.3.15.4 DIN
      16. 6.3.16 DOUT 模式
        1. 6.3.16.1 TDM 模式
        2. 6.3.16.2 TDM 模式，固定位置数据
        3. 6.3.16.3 TDM 模式，动态位置数据
        4. 6.3.16.4 离散数据输出模式
      17. 6.3.17 菊花链
      18. 6.3.18 调制器输出
      19. 6.3.19 使用 Test[1:0] 输入进行引脚测试
      20. 6.3.20 VCOM 输出
    4. 6.4 器件功能模式
  8. 7 应用和实施
    1. 7.1 应用信息
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 设计要求
      2. 7.2.2 详细设计过程
      3. 7.2.3 应用曲线
    3. 7.3 电源相关建议
    4. 7.4 布局
      1. 7.4.1 布局指南
      2. 7.4.2 布局示例
  9. 8 器件和文档支持
    1. 8.1 接收文档更新通知
    2. 8.2 社区资源
    3. 8.3 商标
  10. 9 修订历史记录
  11. 10机械、封装和可订购信息

6.3.19 使用 Test[1:0] 输入进行引脚测试

ADS1278QML-SP 的测试模式功能允许对数字 I/O 引脚进行连续性测试。在这种模式下，数字引脚的正常功能被禁用，并通过内部逻辑成对路由到彼此，如表 6-14 所示。左列中的引脚驱动右列中的输出引脚。注意：一些数字输入引脚变成输出；这些输出必须包含在设计中。模拟输入、电源和接地引脚均保持正常连接。通过设置引脚 TEST [1:0] = 11 来启用测试模式。对于转换器正常运行，设置 TEST[1:0] = 00。请勿使用“01”或“10”。

表 6-14 测试模式引脚映射 (Test[1:0] = 11)
测试模式引脚映射
输入引脚输出引脚
PWDN1DOUT1
PWDN2DOUT2
PWDN3DOUT3
PWDN4DOUT4
PWDN5DOUT5
PWDN6DOUT6
PWDN7DOUT7
PWDN8DOUT8
MODE0DIN
MODE1SYNC
FORMAT0CLKDIV
FORMAT1FSYNC/ DRDY
FORMAT2SCLK