F29H859TU-Q1 MCU 上集成了高性能模拟块，可进一步支持系统整合。三个独立的 12 位 SAR ADC 和两个独立的 16 位/12 位可选 SAR ADC 可以准确、高效地管理多个模拟信号，最终提高系统吞吐量。四个模拟比较器模块可以针对跳闸情况对输入电压电平进行持续监控。对于 ADC 支持的主要安全机制如下。
- DAC 至 ADC 环回检查。可以使用 ADC 监测 DAC 输出来检查 ADC 的完整性。DAC 可以配置并输出一组预先确定的电压电平。这些电压电平可由 ADC 测量，并对照预期值进行交叉检查，以验证 ADC 是否正常工作。
- ADC 输入信号完整性检查。可以对 ADC 转换混合使用硬件和软件运行时诊断来检查 ADC 输入信号的完整性。可以借助内置硬件机制及软件可配置阈值来验证输入信号的合理性检查。可以使用 ADC 后处理块对转换结果进行合理性检查。
- 使用 ADC 安全校验器实现硬件冗余。使用 ADC 的多个实例来对同一输入进行采样并同时执行相同的操作，然后对输出值进行交叉检查。基于硬件的结果安全校验器模块，在两个结果都可用时自动比较主 ADC 和冗余 ADC 的结果。
- 包括错误测试在内的功能软件测试。支持在 ADC 模块及后处理块上运行功能测试或故障注入测试。可以由外部电路或内部 DAC 在 ADC 输入引脚上提供一组预定的电压电平。可以将转换结果与预期值进行比较，以检查 ADC 模块和后处理块的功能正确性。
- 逻辑开机自检。LPOST（逻辑开机自检）在启动及应用期间在晶体管级为器件提供高诊断覆盖率。为了快速执行高质量的制造测试，LPOST 采用插入器件的可测性设计 (DFT) 结构，但是使用的是一个内部测试引擎而非外部自动测试设备 (ATE)。LPOST 测试由 BootROM 根据 SECCFG 用户输入触发。