在 60MeV 条件下的实际 SEE 测试中，典型的淘汰分布为：

• 剩余候选器件中约 25% 彻底失效。
• 约 50% 通过但带有约束条件（例如，电压受限、温度范围受限、漂移等）。
• 约 25% 通过且无任何约束条件，通常最初假定的五个候选器件中留下三个进入进一步评估。

此外，诸如 MCU 或 ADC 等复杂的 IC，由于配置选项众多，需要精密的测试软件。在实际操作中，必须在开发全面测试项目所投入的精力与测试覆盖不完全所导致的时间和残余风险之间做出权衡。通常，测试项目最终会具有较强的用例针对性，因此如果希望将测试结果应用于未来的设计和用例，需要牢记这一点。