ZHDA245 July   2026 F28377D-SEP , INA901-SP , SN54SLC8T245-SEP , TPS7A4501-SP , TPS7H1121-SEP , TPS7H1121-SP , TPS7H5020-SEP , TPS7H5020-SP , TPS7H6101-SEP

 

  1.   1
  2.   摘要
  3. 1简介
  4. 2航天电子设计格局
  5. 3单一受控基准的重要性
  6. 4对 COTS 器件进行升级筛选的步骤
    1. 4.1 第 1 步 — 确定候选器件
    2. 4.2 第 2 步 – 准备单粒子效应 (SEE) 测试（开帽）
    3. 4.3 第 3 步 — 单粒子效应 (SEE) 测试
    4. 4.4 第 4 步 — 执行 TID 测试并评估辐射寿命
  7. 5交货周期与良率责任
  8. 6总结
  9. 7参考资料

7 参考资料

  1. Deming, W. E.（2018 年）。Out of the Crisis（Kindle 版）。麻省理工学院出版社。（原著于 1982 年出版）。
  2. Kruckmeyer, Kirby，（2022 年）。借助增强型航天塑料产品降低近地轨道任务的风险应用手册，德州仪器 (TI)。
  3. Kuechen, Frederik and Seidl, Michael（2025 年）。 IC Sourcing for Space: How to Cut Costs Without Cutting Corners ON24 Webinar。
  4. Staerk, Daniela Dr.（2000 年）。TESAT 的 EEE 事项及相关技术首席工程师，参考 W. Edwards Deming。Out of the Crisis – 第 2 版，Kindle 版。麻省理工学院出版社。
  5. 德州仪器 (TI)，（2019 年）。电子产品辐射手册，电子书（通过 TI myTI™ 在线信息服务帐户 ID 访问）。
  6. 纽约州立大学布法罗分校（2019 年）。 Figure 1: Matte-tin-plated-IC-02 photograph，照片由 Peter Bush 提供，NASA 基本信息/常见问题解答网页。