ZHDA081 March   2026 AM13E23019

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2原理图设计
    1. 2.1  封装和器件选择
    2. 2.2  数字外设
      1. 2.2.1 GPIO
      2. 2.2.2 XBAR
      3. 2.2.3 EPI
      4. 2.2.4 MCAN
      5. 2.2.5 UNICOMM
        1. 2.2.5.1 UART
        2. 2.2.5.2 I2C
        3. 2.2.5.3 SPI
    3. 2.3  控制外设
      1. 2.3.1 eQEP 和 eCAP
      2. 2.3.2 计时器
    4. 2.4  模拟外设
      1. 2.4.1 选择模拟引脚
      2. 2.4.2 模拟电压基准
      3. 2.4.3 ADC 输入
    5. 2.5  多路复用外设
    6. 2.6  电源
      1. 2.6.1 分立式电源解决方案
      2. 2.6.2 电源去耦和滤波
      3. 2.6.3 模拟电压基准
      4. 2.6.4 VSS/VSSA
      5. 2.6.5 功耗
    7. 2.7  复位
      1. 2.7.1 nRST 引脚
      2. 2.7.2 BSL 调用引脚
      3. 2.7.3 从 LPM 引脚唤醒
      4. 2.7.4 从 STOP/STANDBY 模式唤醒
      5. 2.7.5 从 SHUTDOWN 模式唤醒
      6. 2.7.6 AM13E230x 硬件平台示例
    8. 2.8  时钟
      1. 2.8.1 内部振荡器
      2. 2.8.2 外部晶体振荡器 (XTAL)
      3. 2.8.3 数字时钟输入
      4. 2.8.4 输出时钟生成
    9. 2.9  调试和仿真
      1. 2.9.1 调试接口
        1. 2.9.1.1 JTAG 和 SW-DP
        2. 2.9.1.2 迹线
      2. 2.9.2 调试探针
    10. 2.10 引导接口
      1. 2.10.1 UART 引导加载程序
      2. 2.10.2 I2C 引导加载程序
      3. 2.10.3 MCAN 引导加载程序
    11. 2.11 未使用的引脚
  6. 3PCB 布局设计
    1. 3.1 布局设计概述
      1. 3.1.1 建议的布局实践
      2. 3.1.2 电路板尺寸
      3. 3.1.3 层堆叠
        1. 3.1.3.1 4 层堆叠
        2. 3.1.3.2 6 层堆叠
    2. 3.2 过孔
    3. 3.3 建议的电路板布局布线
    4. 3.4 放置元件
    5. 3.5 接地平面
    6. 3.6 信号布线迹线
    7. 3.7 散热注意事项
  7. 4EOS、EMI/EMC、ESD 注意事项
    1. 4.1 电过应力
    2. 4.2 EMI 和 EMC
    3. 4.3 静电放电
  8. 5摘要和检查清单
  9. 6参考资料
  10. 7修订历史记录

EMI 和 EMC

电磁兼容性 (EMC) 描述了电子元件在其他系统的干扰下正常工作的能力。最重要的考虑因素的是电磁干扰 (EMI),即 MCU 器件和其他附近器件发出的射频能量。这种干扰会传播到整个系统,并通过传导和辐射来影响器件。

在更大限度地降低 EMC 风险方面,减少 EMI 对系统本身的影响应该是首要考虑因素,但确保系统在辐射和传导中发出的 EMI 不超过当地法规标准允许的最大值同样重要。最好将辐射和传导 EMI 降至远低于认证限值的水平,以避免因这个易于规避的设计环节导致项目延期。同样,PCB 系统的设计应具有足够的屏蔽能力,从而即使在接触周围其他系统的辐射和传导 EMI 能量时也能正常工作。

系统中的大多数元件(包括 PCB、连接器、电缆等)都是 EMI 的来源。使用高频以及快速开关电流和电压的 PCB 系统需要特别注意,因为所有信号迹线都充当着辐射电磁能量的天线。

设计人员应注意尽可能减少的五个主要辐射源包括:

  1. 在 PCB 迹线上传播的数字信号
  2. 电流回路面积
  3. 电源滤波或去耦不足
  4. 传输线路效应
  5. 缺少电源平面和接地平面

电源是 EMI 的另一个主要贡献因素,尤其是在开关电源或使用 MCU 器件的 PWM 信号输出进行开关时。务必遵循产品数据表中每个电源的建议布局。

为了减少 PCB 系统及其元件产生的有害 EMI,应在整个原理图和 PCB 布局设计过程中遵循以下指南:

  • 在 IC 器件的所有电源输入端使用去耦电容器。遵循每个 IC 数据表中规定的建议电容值。请注意,每个电容器都有一个自谐振频率。
  • 在电源上使用合乎需要的滤波电容器。这些电容器应具有低等效串联电感 (ESL)。
  • 在 PCB 布线层的可用空间中创建接地平面。使用过孔将这些接地多边形连接到主要内部接地平面。最好在 PCB 上创建 1/4 英寸的过孔栅格。
  • 使电流环路尽可能小。尽可能多地添加所需的去耦电容器。始终应用电流返回规则来减少环路面积。
  • 使高速信号远离其他信号,尤其是远离输入和输出端口或连接器。
  • 应用电流返回规则将接地连接在一起,同时隔离模拟部分的接地平面。如果工程不使用 ADC 且没有模拟电路,请勿隔离地。
  • 避免使用铁氧体磁珠连接分割的地。在高频率下,铁氧体磁珠具有高阻抗并在平面或 PC 板叠层之间产生较大的接地电位差,因此应添加尽可能多的电源平面和接地平面。使电源平面和接地平面彼此相邻,确保实现阻抗低或固有电容大的叠层。
  • 对所有进出系统的信号使用抑制 EMI 的 π 型滤波器。
  • 如果系统未通过 EMI 测试,则通过追踪未通过的频率源来寻找原因。例如,假设设计在 300MHz 时失败,但电路板上没有任何元件以该频率运行。则原因可能是 100MHz 信号产生了三次谐波。
  • 确定未通过的频率是共模还是差模。拆下连接到系统的所有电缆。如果辐射发生变化,则为共模。如果未发生变化,则为差模。找到原因后,使用端接或去耦技术来降低辐射。如果是共模,则向输入和输出添加 π 型滤波器。在电缆上添加共模扼流圈是一种有效的解决方案,但这种降低 EMI 的方法具有很高的成本。