ZHCAED4 August 2024 ISO6520 , ISO6520-Q1 , ISO6521 , ISO6521-Q1
对半导体集成芯片 (IC) 的需求持续增长,并推动了对更精确和密度更高的半导体测试设备(如自动测试设备 (ATE))的需求增加。ATE 是容纳各种测试板的密集测试设备,每个测试板都能够提供或测量各种类型的数字测试图形、任意波形、强大的直流电压源、电流源等。高资源密度和缩小电路板尺寸是实现更高测试吞吐量的关键。
例如,ATE 中的一种资源是源测量单元 (SMU) 仪器,它可以提供电流/电压并测量电流/电压。SMU 资源将两款仪器(可编程电源和数字万用表)的功能集于一身。根据具体规格,某些 SMU 还可以串联堆叠,如图 2-7 所示,以达到需要更高偏置电压的半导体技术所要求的更高测试电压。
ISO65xx 等功能隔离器为空间受限的应用提供了尺寸优势,常见于测试和测量卡。ISO65xx 可用于中央控制 ASIC 和每个 SMU 卡之间。当多个 SMU 卡叠放时,ISO65xx 会阻断高电压共模,而不会在隔离栅上引入漏电流。通常,每种资源都具有相对于测试仪接地的最大电压规格,这决定了设计中所需的功能隔离器工作电压 (VIOWM)。