ZHCAAO3K December   2015  – April 2024 CC1310 , CC1350 , CC2620 , CC2630 , CC2640 , CC2640R2F , CC2640R2F-Q1 , CC2642R-Q1 , CC2650 , CC2662R-Q1

 

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  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1振荡器和晶体基础知识
    1. 1.1 振荡器操作
    2. 1.2 石英晶体电气模型
      1. 1.2.1 振荡频率
      2. 1.2.2 等效串联电阻
      3. 1.2.3 驱动电平
      4. 1.2.4 晶体牵引
    3. 1.3 负电阻
    4. 1.4 振荡器的时间常数
  5. 2CC 器件晶体振荡器概述
    1. 2.1 24MHz 和 48MHz 晶体振荡器
    2. 2.2 24MHz 和 48MHz 晶体控制环路
    3. 2.3 32.768kHz 晶体振荡器
  6. 3为 CC 器件选择晶体
    1. 3.1 运行模式
    2. 3.2 频率精度
      1. 3.2.1 24MHz 和 48MHz 晶体
      2. 3.2.2 32.768kHz 晶体
    3. 3.3 负载电容
    4. 3.4 ESR 和启动时间
    5. 3.5 驱动电平和功耗
    6. 3.6 晶体封装尺寸
  7. 4晶体的 PCB 布局
  8. 5测量晶体的振荡幅度
    1. 5.1 测量启动时间来确定 HPMRAMP1_TH 和 XOSC_HF_FAST_START
  9. 6适用于 CC13xx、CC26xx 和 CC23xx 的晶体
  10. 7高性能 BAW 振荡器
  11. 8参考文献
  12. 9修订历史记录

5 测量晶体的振荡幅度

CC26XX/13XXWARE 中存在两个函数，用于测量晶体的振荡幅度并将这个振幅与预期振幅进行比较。这两个函数如下所示：

  • uint32_t OSCHF_DebugGetCrystalAmplitude( void );
  • uint32_t OSCHF_DebugGetExpectedAvarageCrystalAmplitude( void );

插入一段代码后，第一个函数会返回晶体的振幅，以 mV 为单位。第二个函数会返回预期的振荡幅度，也以 mV 为单位。这些都只是调试函数。第一个函数使用片上 ADC 来测量晶体的振幅。如果这两个函数返回的值差异很大，那么晶体可能会有问题。第一个函数的不确定性为 ± 50mV；与预期值相差 50mV 并不会导致出现问题。