ZHCSLX6A June   2021  – September 2021 TMAG5273

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 修订历史记录
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1  绝对最大额定值
    2. 6.2  ESD 等级
    3. 6.3  建议运行条件
    4. 6.4  热性能信息
    5. 6.5  电气特性
    6. 6.6  温度传感器
    7. 6.7  A1 的磁特性
    8. 6.8  A2 的磁特性
    9. 6.9  磁温度补偿特性
    10. 6.10 I2C 接口时序
    11. 6.11 上电和转换时间
    12. 6.12 典型特性
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 磁通量方向
      2. 7.3.2 传感器位置
      3. 7.3.3 中断功能
      4. 7.3.4 器件 I2C 地址
      5. 7.3.5 磁场范围选择
      6. 7.3.6 更新速率设置
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 待机（触发）模式
      2. 7.4.2 睡眠模式
      3. 7.4.3 唤醒和睡眠 (W&S) 模式
      4. 7.4.4 连续测量模式
    5. 7.5 编程
      1. 7.5.1 I2C 接口
        1. 7.5.1.1 SCL
        2. 7.5.1.2 SDA
        3. 7.5.1.3 I2C 读取/写入
          1. 7.5.1.3.1 标准 I2C 写入
          2. 7.5.1.3.2 通用广播写入
          3. 7.5.1.3.3 标准 3 字节 I2C 读取
          4. 7.5.1.3.4 16 位数据的 1 字节 I2C 读取命令
          5. 7.5.1.3.5 8 位数据的 1 字节 I2C 读取命令
          6. 7.5.1.3.6 I2C 读取 CRC
      2. 7.5.2 数据定义
        1. 7.5.2.1 磁传感器数据
        2. 7.5.2.2 温度传感器数据
        3. 7.5.2.3 角度和幅度定义
        4. 7.5.2.4 磁传感器偏移校正
    6. 7.6 寄存器映射
      1. 7.6.1 TMAG5273 寄存器
  9. 8 应用和实现
    1. 8.1 应用信息
      1. 8.1.1 选择灵敏度选项
      2. 8.1.2 磁体的温度补偿
      3. 8.1.3 传感器转换
        1. 8.1.3.1 连续转换
        2. 8.1.3.2 触发器转换
        3. 8.1.3.3 伪同步采样
      4. 8.1.4 磁体限制检查
      5. 8.1.5 线性测量过程中的误差计算
      6. 8.1.6 角度测量过程中的误差计算
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 磁篡改检测
        1. 8.2.1.1 设计要求
        2. 8.2.1.2 详细设计过程
        3. 8.2.1.3 应用曲线
      2. 8.2.2 I2C 地址扩展
        1. 8.2.2.1 设计要求
        2. 8.2.2.2 详细设计过程
      3. 8.2.3 角度测量
        1. 8.2.3.1 设计要求
        2. 8.2.3.2 详细设计过程
          1. 8.2.3.2.1 角度测量的增益调整
        3. 8.2.3.3 应用曲线
    3. 8.3 该做事项和禁止事项
  10. 9 电源相关建议
  11. 10布局
    1. 10.1 布局指南
    2. 10.2 布局示例
  12. 11器件和文档支持
    1. 11.1 文档支持
      1. 11.1.1 相关文档
    2. 11.2 接收文档更新通知
    3. 11.3 支持资源
    4. 11.4 商标
    5. 11.5 静电放电警告
    6. 11.6 术语表
  13. 12机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

8.1.4 磁体限制检查

TMAG5273 可同时对单个轴或多个轴进行磁体限制检查。图 8-8 至图 8-11 显示了磁场高于、低于、退出磁带和进入磁带时的磁体限制交叉检测事件示例。如果磁场保持在图中的阴影区域，则器件将在每次新的转换时继续生成中断。 MAG_THR_DIR 和 THR_HYST 寄存器位帮助选择不同的限制交叉模式。

GUID-20210610-CA0I-BCWH-RCJG-9PCCFMCNJQXS-low.svg图 8-4 MAG_THR_DIR =0b 且 THR_HYST = 000b 时的磁体上限交叉检查
GUID-20210610-CA0I-HPQJ-WDRM-HNNNDB2XB6XL-low.svg图 8-6 MAG_THR_DIR =0b 且 THR_HYST = 001b 时的磁场带外检查
GUID-20210610-CA0I-B0KK-PRLC-6K27H0SK0X0S-low.svg图 8-5 MAG_THR_DIR =1b 番茄 THR_HYST = 000b 时的磁体下限交叉检查
GUID-20210610-CA0I-VZXF-GRNF-XXPPWKXZG3GL-low.svg图 8-7 MAG_THR_DIR =1b 且 THR_HYST = 001b 时的磁场带内检查