ZHDA339 October 2026 MSPM0G3105-Q1 , MSPM0G3106-Q1 , MSPM0G3107-Q1 , MSPM0G3505-Q1 , MSPM0G3506-Q1 , MSPM0G3507-Q1 , MSPM0L1227-Q1 , MSPM0L1228-Q1 , MSPM0L2227-Q1 , MSPM0L2228-Q1 , MSPM33C321A
电源完整性和 EMI 本质上是同一个问题,只是从不同角度看待而已。高频下发生波动的电源轨会迫使返回电流通过非预期路径,并可调制 I/O 阈值、ADC 基准、振荡器边沿和电缆屏蔽层。去耦是局部能量通路,可防止瞬态电流扩散到整个电路板。
要缓解或大幅降低由这种数字信号振铃导致的发射,一种方法是分析连接到 VDD 线路的电容器,以观察其随频率变化的阻抗特性。此处的关键在于频率。设计缺陷通常很容易解决,也可加以缓解。
选择电容器(遵循器件推荐值)时,需要考虑的一个关键参数是电容器的 ESR。从下方的阻抗与频率间的关系图中可以看出,阻抗存在一个低点,即阻抗在某一频率处达到最小值,这是理想的情况,因为我们希望更大限度地减小高阻抗值引起的任何压降。根据干扰频带内的安装阻抗选择去耦方案。ESR 会产生阻尼并设定最小阻抗;ESL 则设定高频限制。封装尺寸、方向、焊盘长度、过孔数量以及与 IC 的距离的重要性可能不亚于标称电容值。
图 3-1 10μF 电源电容器 ESR 阻抗与频率间的关系
图 3-2 0.1μF 电源电容器 ESR 阻抗与频率间的关系