ZHDA008 December   2025 OPA187 , OPA192 , OPA202 , OPA320

1.   1
2.   摘要
3.   商标
4. 1简介
   1. 1.1 解释不稳定性的简单类比
   2. 1.2 可能存在稳定性问题的电路
   3. 1.3 基于数据表图的简单稳定性校正
   4. 1.4 实验室工具及测量简介
5. 2运算放大器的稳定性理论
   1. 2.1 极点及零点
   2. 2.2 运算放大器型号稳定性验证的要求
   3. 2.3 基于控制环路型号的稳定性定义
   4. 2.4 基于 AOL 及 1/β 绘制环路增益图形
   5. 2.5 闭合稳定性测试速率
   6. 2.6 间接（无创）稳定性测试
6. 3开环稳定性测试仿真
   1. 3.1 以错误的方式断开循环
   2. 3.2 使用 LC 测试电路来断开环路
   3. 3.3 差分环路断路测试
7. 4电容负载的稳定性校正
   1. 4.1 隔离电阻器 (RISO) 方法
   2. 4.2 双反馈方法
      1. 4.2.1 RISO 具有 RL 的双反馈
      2. 4.2.2 采用 RFX 方法的双反馈
   3. 4.3 用于补偿功率放大器及基准驱动的缓冲器电路
   4. 4.4 用于稳定性补偿的噪声增益
   5. 4.5 反馈电容器 (CF) 电容负载补偿
8. 5反相节点上电容的稳定性校正
   1. 5.1 由于 1/β 内为零造成的输入电容不稳定性
   2. 5.2 反馈电容器可以解决反相节点上电容的稳定性问题
   3. 5.3 最小、平衡及最大反馈电容
   4. 5.4 互阻抗案例
9. 6复杂开环及闭环输出阻抗
   1. 6.1 将开环输出阻抗转换成闭环输出阻抗
   2. 6.2 开环及闭环型号测试
   3. 6.3 由于复数输出阻抗的谐振而导致不稳定
   4. 6.4 内部运算放大器拓扑对输出阻抗及频率间的影响
   5. 6.5 影响输出阻抗的其他因素
10. 7AOL 对稳定性的影响
    1. 7.1 AOL 次级极点及零点
    2. 7.2 对 AOL 次级极点与零点以及输入电容进行建模
    3. 7.3 解补偿运算放大器及稳定性
    4. 7.4 闭环增益对稳定性的影响
11. 8稳定性分析中的常见问题
12. 9参考资料