ZHCAEY1 January   2025 AMC131M02 , AMC3330 , ISO7731

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2ESS 中的绝缘监测拓扑
    1. 2.1 单一开关拓扑
      1. 2.1.1 测试步骤
    2. 2.2 双路开关悬空采样拓扑
      1. 2.2.1 测试步骤
    3. 2.3 高压侧拓扑中的双路开关采样
    4. 2.4 交流注入拓扑
  6. 3设计比较
    1. 3.1 注入电阻对精度的影响
  7. 4电容对采样时间的影响
    1. 4.1 如何选择 Y 电容器
    2. 4.2 采样时间
  8. 5关键器件
    1. 5.1 BQ79731-Q1
    2. 5.2 UCC33421-Q1
    3. 5.3 AMC131M02
    4. 5.4 AMC3330
    5. 5.5 ISO773x
  9. 6Topos 仿真结果和结论
  10. 7总结
  11. 8参考资料

4 电容对采样时间的影响

绝缘测试中的 Y 电容对绝缘测试的速度有很大影响。影响绝缘检测的 Y 电容机制（例如在网桥法中）能延迟稳态建立的时间。如果使用未收敛电压值计算，得出的绝缘电阻值也不准确。

绝缘电路中的 Y 电容器图 4-1 绝缘电路中的 Y 电容器