ZHCACG9A june 2018 – march 2023 ADS1120 , ADS112C04 , ADS112U04 , ADS1147 , ADS1148 , ADS114S06 , ADS114S06B , ADS114S08 , ADS114S08B , ADS1220 , ADS122C04 , ADS122U04 , ADS1247 , ADS1248 , ADS124S06 , ADS124S08 , ADS125H02 , ADS1260 , ADS1261 , ADS1262 , ADS1263
与采用低侧基准的三线 RTD 测量类似,采用高侧基准的测量使用引线补偿来消除作为测量误差的引线电阻。但是,使用高侧基准时,要使用相同的电流来驱动基准电阻和 RTD。使用第二个 IDAC 电流的引线补偿不会引入 IDAC 不匹配的增益误差项。使用高侧基准可降低该测量对 IDAC 电流失配的依赖性,从而无需进行斩波。
测量电路需要:
IDAC1 向 RREF 提供电流,然后电流流入三线 RTD 的引线 1。与低侧电流测量类似,IDAC2 向 RTD 的引线 2 注入电流,用于消除引线电阻产生的误差。IDAC1 和 IDAC2 均流入 RBIAS,这是建立输入信号的直流偏移量所必需的。该直流偏移量将 RTD 电压设置为接近于 1/2 Vs,以便输入处于 PGA 的输入范围内。
与之前的拓扑一样,该测量是比例式测量,无需将输入或基准转换为电压即可进行转换。与之前的 RTD 测量一样,该拓扑需要具有高精度和低漂移的精密基准电阻器。
计算 AIN1 和 AIN2 的输入电压,结果为:
ADC 输入电压测量 VAIN1 – VAIN2,RLEAD3 和 RBIAS 项会消失。
假设引线电阻相等且 IDAC 电流匹配,IIDAC1 = IIDAC2 = IIDAC。结果变成:
同时,基准电阻仅由 IDAC1 驱动:
与前面的示例一样,使用 RTD 的预期可用范围开始设计。选择基准电阻和 IDAC 电流值以将输入电压置于 PGA 范围内,同时确保 IDAC 在其顺从电压范围内运行。正如在所有比例式测量中那样,基准电阻 RREF 必须是具有高精度和低漂移的精密电阻器。
要验证设计是否在 PGA 工作范围内,请先计算 AIN1 和 AIN2 的电压以及最大差分输入电压。假设引线电阻很小,可以忽略,方程式 55 和方程式 56 可简化为方程式 60 和方程式 61。在给定增益设置和电源电压的情况下,验证 VAIN1 和 VAIN2 是否处于 PGA 的输入范围内。根据所需的温度测量值使用最大 RTD 电阻。
此外,验证根据 VAIN0 和 VAIN3 计算得出的 IDAC 源输出电压是否足够低于 AVDD,以便处于 IDAC 电流源的顺从电压范围内。由于 IDAC1 的电压始终高于 IDAC2 的电压,因此计算 VAIN0 处的输出电压足以验证 IDAC 顺从电压。AIN0 处 IDAC 的输出电压可通过方程式 62 计算得出。
基准电阻器 RREF必须是具有高精度和低漂移的精密电阻器。RREF 中的任何误差在 RTD 测量也会出现。所示出的REFP0 和 REFN0 引脚作为开尔文连接与 RREF 电阻器相连,以获得最佳的基准电压测量值。这消除了作为基准电阻测量误差的一切串联电阻。