ZHDA309 September 2026 TPS61383-Q1
BQ76907-Q1 在超级电容器组的低侧采用背对背 NMOS,从而切断充电/放电路径,并在故障情况下保护超级电容器。充电管 CFET 和放电管 DFET 均位于 B- 与 PACK- 之间,处于电池组的低侧。
对于电子锁存器应用,如果超级电容器组的初始总串联电压降至 3V 以下,则无法满足 BQ76907-Q1 的最低电源电压要求。CFET 和 DFET 低侧开关将被禁用,从而将电池组接地与系统接地隔离,防止超级电容器充电。因此,一旦保护功能被激活且充电/放电 FET 关断,电池域与系统域之间的直接通信就会中断。必须解决低侧保护开关引入的这些限制。最直接的变通方法是禁用 BQ76907-Q1 的低侧保护功能;但是,这也会禁用芯片的核心保护机制,包括过流、过压和过热保护。
电子锁存器系统中必须配备 MCU,以支持电机控制逻辑。当超级电容器电压降至 3V 以下时,MCU 可以独立控制 CHG FET,为超级电容器组充电并提升其电压。在 BQ76907-Q1 的电源电压上升至 3V 以上后,MCU 将 CHG FET 的控制权限交还给 BQ76907-Q1,以重新启用所有片上保护功能。此设计采用外部 MOSFET 绕过 CHG FET,从而实现由 MCU 控制的超级电容器充电。