ZHDA179 June   2026 TIC12400-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2片上 ADC 前端架构概述
  6. 3了解数据表中的 ILKG 规格
    1. 3.1 关于 ±110µA 规格的解释
    2. 3.2 漏电流由多路复用器激活且受时间限制
  7. 4关于弱电压源的设计注意事项
    1. 4.1 弱电压源的定义
    2. 4.2 “采样峰值”机制
  8. 5定量模型和误差估计
    1. 5.1 采样窗口期间的电压阶跃
    2. 5.2 具有高阻抗源的稳态偏移
  9. 6设计缓解方法
    1. 6.1 方法 1：加强电压源
    2. 6.2 方法 2：外部 RC 补偿（推荐）
    3. 6.3 方法 3：静态偏移校准
  10. 7总结
  11. 8参考资料

4.2 “采样峰值”机制

当内部多路复用器选择 INx 通道时，内部分压器和 ADC 前端电路会突然连接到 INx 引脚。在采样窗口（Tadc 或 Tcomp）期间，高达 ILKG 限制的漏电流会注入 INx 节点处的总电容。该总电容 (CIN) 包括 PCB 布线和 TIC12400-Q1 引脚的寄生电容，以及有意添加到节点的任何外部滤波电容器。在采样窗口结束时，多路复用器会断开内部前端，并且存储的电荷通过外部源阻抗 (REXT) 放电回到由外部网络定义的稳态电压。图 4 显示了在多个轮询周期内，在 INx 引脚上测得的窄电压尖峰。

轮询周期内的重复 INx 电压尖峰 — ADC 模式图 4-1 轮询周期内的重复 INx 电压尖峰 — ADC 模式

由于泄漏电流注入在每个轮询事件中始终发生，并且 REXT × CIN 放电时间常数相对于轮询间隔可能较长，因此 INx 节点可能无法在下一个采样事件之前完全恢复到其稳态电压。这会导致准静态直流偏移叠加在真实的输入电压上。