ZHDA174 June   2026 TMS320F28P550SG , TMS320F28P550SJ , TMS320F28P559SG-Q1 , TMS320F28P559SJ-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2功率级概览
  6. 3软件概述
    1. 3.1 软件架构
      1. 3.1.1 器件初始化
        1. 3.1.1.1 模拟外设初始化
        2. 3.1.1.2 控制外设初始化
          1. 3.1.1.2.1 EPWM 初始化
          2. 3.1.1.2.2 CLB 初始化
        3. 3.1.1.3 系统外设初始化
      2. 3.1.2 中断结构
    2. 3.2 PowerSuite 用法
  7. 4实验结构
    1. 4.1 硬件设置
    2. 4.2 Lab1
    3. 4.3 Lab2
    4. 4.4 Lab3
    5. 4.5 Lab4
  8. 5总结

硬件设置

进行固件验证和闭环测试之前,必须按照本节所述推荐设置组装并连接硬件平台。

此步骤的目的在于:

  1. 在控制卡与电源板之间建立通信。

  2. 确认功率级正常运行。

  3. 实现对关键转换器信号的安全监测。

  4. 最大限度地降低实验室测试期间的测量噪声。

硬件连接

接入输入电源前:

  1. 将 TMDSCNCD28P55x 控制器卡连接到 PMP41140 接口连接器

  2. 确认方向正确且连接器就位。

  3. 将输入电源连接到转换器输入端子。

  4. 将电子负载或阻性负载连接到输出端子。

  5. 连接调试器接口以加载固件并进行实时监测。

推荐设置如下图所示

 AHB 硬件板设置图 4-1 AHB 硬件板设置.

所需设备:

  1. TMDSCNCD28P55x 控制卡

  2. 直流电源:能够在高达 420V 的直流电压范围内工作的输入电压源

  3. 电子负载:可充当阻性负载或恒流负载的负载

  4. 用于信号监测的示波器

安全警告:电路板带电时,请勿触摸电路板或电路,因为存在可能导致触电危险的高压。操作电路板前,请确保高压已完全放电。

测试设置

硬件连接完成后:

  1. 启动 Code Composer Studio (CCS)

  2. 导入固件工程,并在 PMP41140.syscfg powersuite 中选择所需的实验

  3. 构建工程 -> 连接到目标 MCU -> 对器件闪存或 RAM 进行编程(从工程属性中选择构建配置)

  4. 通过观察窗口确认成功执行。

关键监测变量:

硬件验证期间,应监测下表中的以下变量

表 4-1 运行时变量

型号

说明

AHB_VprimSensed_volts

输入电压实时检测

AHB_aux_ZCD_N_volts

偏移电压实时检测,应约为 1.2V

Vout_Sensed_Volts

输出电压实时检测

AHB_VsecRef_volts

目标输出电压指令 (9-28V)

Kp

控制环路系数

Ki

控制环路系数

Kd

控制环路系数

Kb

控制环路系数

AHB_MAG_INDUCTANCE_SET_uH

初始励磁电感配置值

ZVS_correction_factor

自适应校正后励磁电感值

AHB_ZCDP_Compare

自适应 ZVS 检测阈值

ILm_PeakCurLimit_Amps

实时更新的初级峰值电流

Adaptive_ILNEG_AMPS

重载条件下的自适应目标负向电流

Adaptive_ILNEG1_AMPS

轻载条件下的自适应目标负向电流 1

Adaptive_ILNEG2_AMPS

轻载条件下的自适应目标负向电流 2

LS_ONTIME_HL_us

重载条件下实时计算的 LS 导通时间

LS_ONTIME1_LL_us

轻载条件下实时计算的 LS 导通时间 1

LS_ONTIME2_LL_us

轻载条件下实时计算的 LS 导通时间 2

light_load_enable

轻载模式使能标志;1 = 启用,0 = 禁用

zcd_count_update_new

轻载条件下的自适应过零计数

用户可将“AHB_VsecRef_volts”更改为预期输出电压,范围为 9V 至 28V。

硬件板具有多个测试点,包括高侧和低侧 PWM 信号。您可以探测 HS PWM、LS PWM、初级 LMG2650 的开关节点电压以及初级谐振电流,以观察 AHB 板的运行情况。

 硬件板测试点图 4-2 硬件板测试点.

建议:如上图所示,采用最小的外部测试接地回路,以避免外部噪声。