ZHCT926 April 2025 LM5066I
每当回顾这些年来热插拔电路配置是如何演变的,都会发现有趣的现象。热插拔解决方案由三个主要组件组成:一个用作主电源控制开关的 N 沟道金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET)、一个测量电流的感应电阻器,以及一个热插拔控制器,其中包括一个完成环路以控制 MOSFET 的通电流的电流感应放大器。
如图 2 所示,您可以对低功耗设计使用单一基于 MOSFET 的热插拔解决方案。从根本上说,热插拔控制器具有电流和功率限制功能,可限制浪涌和故障电流,同时保障 MOSFET 的安全工作区 (SOA)。这些功能足以用于设计低功耗 (<500W) 热插拔解决方案。
随着数字负载的增加,系统需要更高的输出电容 (>SOA 470µF),要求并联 MOSFET 支持稳态电流并采用输出电压压摆率控制 [1],以使 MOSFET 保持在其 SOA 范围内。
在输出电压压摆率控制方法中,放置在栅极-GND 之间的电容器 Cdv/dt(参阅图 3)可限制栅极和输出电压的压摆率,从而限制浪涌电流。当 MOSFET 中的功率损耗降低且分布在较长的时间段内时,它们可以处理更多能量。因此,随着输出电容增加,您需要更高的 Cdv/dt 来降低 MOSFET 在启动期间的浪涌电流和功率损耗。
更高的 Cdv/dt 会干扰关断过程,但热插拔控制器的下拉强度有限。这需要针对 Cdv/dt 采用基于本地 P 沟道 N 沟道 P 沟道 (PNP) 的放电电路,如图 4 所示。在启动期间,Cdv/dt 以相同的方式控制压摆率,但在关断事件期间,Q1 PNP 晶体管激活并在本地对 Cdv/dt 放电。二极管 D1 会阻止 Cdv/dt 放电到栅极引脚,从而降低栅极引脚上的应力,同时确保控制器正常运行。
在 AI 驱动型图形处理单元应用中,热插拔解决方案必须支持 150A 左右的电流,并且必须支持高频、高压摆率负载瞬态,而这带来了三个新的挑战。