ZHCSZ01 August 2025 DRV8002-Q1
PRODUCTION DATA
智能栅极驱动架构的 TDRIVE 元件是一个集成的栅极驱动状态机,可提供自动死区时间插入、dV/dt 栅极寄生耦合预防和 MOSFET 栅极故障检测等功能。
TDRIVE 状态机的第一个作用是自动死区时间握手。死区时间是外部高侧和低侧 MOSFET 开关期间体二极管导通的一段时间,旨在防止发生任何跨导或击穿。DRV8002-Q1 的栅极驱动器使用 VGS 监控器来实施断路,然后通过测量外部 MOSFET VGS 电压来确定正确启用外部 MOSFET 的时间,从而建立死区时间方案。该方案使栅极驱动器能够针对系统变化(例如温度漂移、老化、电压波动和外部 MOSFET 参数变化)来调整死区时间。如有需要,可插入一个额外的固定数字死区时间 (tDEAD_D),并可通过 SPI 寄存器对其进行调整。
第二个作用侧重于防止 dV/dt 栅极电荷寄生耦合。这通过在半桥中相反状态的 MOSFET 开关或 Hi-Z 时启用栅极强下拉电流 (ISTRONG) 来实现。当半桥开关节点快速压摆时,此功能有助于消除耦合到外部 MOSFET 栅极中的寄生电荷。
第三个作用是实施栅极故障检测方案以检测栅极电压问题。这个方案用于检测引脚对引脚的焊接缺陷、MOSFET 栅极故障或者栅极卡在高电压或低电压的情况。为此,需使用 VGS 监控器在 tDRIVE 时间结束后测量栅极电压。如果栅极电压没有达到适当的阈值,栅极驱动器会报告相应的故障情况。为保持不会检测到伪故障,选择比 MOSFET 栅极充放电所需时间更长的 tDRIVE 时间。tDRIVE 时间不会影响 PWM 最小持续时间,如果收到另一个 PWM 命令,此时间提前终止。
图 7-18 TDRIVE 导通/关断