本文档是有关 10 BASE-T1L 以太网参考设计 TIDA-010261 的电磁干扰 (EMI) 和电磁兼容性 (EMC) 测试结果的详细技术报告。本报告涵盖 EMI/EMC 测试的各个方面，包括：
- 引言：概述 EMI/EMC 测试概念及其在产品开发中的重要性。
- 测试设置：说明符合 CISPR 32 和 IEC 标准的辐射发射 (RE)、传导发射 (CE) 和电磁敏感性 (EMS) 测试的测试设置。
- 辐射发射测试结果：
- 图 6-15 至 6-25 展示了 A 类和 B 类器件在与天线不同距离处的辐射发射结果图。
- 表 6-6 列出了屏蔽 SPE 电缆和非屏蔽双绞线频率的 CISPR 32 FAR 测试结果数据，包括最小和最大测量值。
- 传导发射测试结果：图 6-16 至 6-18 描绘了使用 CISPR 32 测量标准的 A 类和 B 类器件在 50kHz 至 30MHz 频率范围的传导发射结果。
- 电磁敏感性 (EMPS) 测试：
- 图 9-36 展示了用于研究 TIDA-010261 对电磁源的敏感性的辐射抗扰度测试设置。
- 结果分析：讨论 EMI/EMC 测试数据，表明所有传导和辐射发射测试均成功通过，但可能存在改进的空间（例如，使用内部 SD 卡或匹配电路布线）。
- 总结：概述 EMI/EMC 测试结果，重点介绍取得的成就和工艺增强途径。
本文档的一些要点如下：
- 10 BASE-T1L 以太网参考设计成功通过了大多数 EMI/EMC 测试。
- 存在降低内部高速元件（如 SD 卡）引起的噪声辐射的空间。
- 优化电子电路设计中的布线长度和阻抗有助于减轻 EMI 行为。
本技术报告对各行各业从事产品开发的工程师非常有用，尤其是处理复杂电子产品且在对系统应用电磁敏感性测试方面需要指导的工程师。