NESY036B September   2021  – April 2023 BQ25125 , LM5123-Q1 , LMR43610 , LMR43610-Q1 , LMR43620 , LMR43620-Q1 , TPS22916 , TPS3840 , TPS62840 , TPS63900 , TPS7A02

 

  1.   1
  2.   概覽
  3.   摘要
  4.   影響 IQ 的因素
  5.   低 IQ 為何產生新挑戰
    1.     瞬態回應
    2.     漣波
    3.     雜訊
    4.     晶粒尺寸與解決方案面積
    5.     洩漏與低於閾值的操作
  6.   如何打破低 IQ 障礙
    1.     解決瞬態回應問題
    2.     解決切換雜訊問題
    3.     解決其他雜訊問題
    4.     解決晶粒尺寸與解決方案面積問題
    5.     解決洩漏與低於閾值的操作問題
  7.   電氣特性
    1.     18
    2.     避免低 IQ 設計中的潛在系統陷阱
    3.     實現低 IQ 但不犧牲靈活性
    4.     減少外部零組件數以降低汽車應用中的 IQ
    5.     智慧使用或在智慧使用支援低 IQ 的啟用功能，或啟用在系統層級支援低 IQ 的功能
  8.   結論
  9.   低 IQ的重要產品類別

解決其他雜訊問題

除了切換雜訊外，持續出現本身雜訊和 0.1Hz 至 100kHz 範圍的熱及閃爍雜訊元件都是低 IQ 偏壓下出現的問題。由於參考通常是造成雜訊的最主要來源，若能選擇取樣保持技術的整合版本來建立電壓和電流參考，將可在裝置壽命中提供優異的面積、雜訊、IQ 和穩定性能 (無漂移) 取捨結果。取樣保持電路的缺點是會產生一些漣波誤差。

圖 13 說明使用 TI 精密數位類比轉換器 (DAC) 和運算放大器系列的設計，嘗試提供最佳取樣保持作業，以確保產生的干擾都會在相關穩壓器的雜訊底線內。我們運用部分前述技術，來移除 TPS7A02 LDO 設計中的干擾與非必要音調。

GUID-20210902-SS0I-WDJG-SRX3-VKJFGBDCBST2-low.gif 圖 13 離散式取樣保持 DAC 系統。

如 圖 14 所示，TPS7A02 裝置的取樣保持雜訊塑形可將 10 到 100Hz 頻帶下的整合雜訊減少 >40% 以上。

GUID-20210902-SS0I-Z9RD-WHNW-GLTL3HNGFWHX-low.gif 圖 14 有無取樣保持參考的 TPS7A02 雜訊頻譜。(來源: TPS7A02 的 TI 內部矽量測結果)。