ZHCSU63 December   2023 TAS5827

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1 绝对最大额定值
    2. 5.2 ESD 等级
    3. 5.3 建议运行条件
    4. 5.4 热性能信息
    5. 5.5 电气特性
    6. 5.6 时序要求
    7. 5.7 典型特性
      1. 5.7.1 采用 BD 调制的桥接负载 (BTL) 配置曲线
      2. 5.7.2 采用 1SPW 调制的桥接负载 (BTL) 配置曲线
      3. 5.7.3 采用 BD 调制的并行桥接负载 (PBTL) 配置
      4. 5.7.4 采用 1SPW 调制的并行桥接负载 (PBTL) 配置
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1 电源
      2. 6.3.2 器件时钟
      3. 6.3.3 串行音频端口 – 时钟速率
      4. 6.3.4 时钟暂停自动恢复
      5. 6.3.5 采样率动态变化
      6. 6.3.6 串行音频端口 - 数据格式和位深度
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 软件控制
      2. 6.4.2 扬声器放大器工作模式
        1. 6.4.2.1 BTL 模式
        2. 6.4.2.2 PBTL 模式
      3. 6.4.3 低 EMI 模式
        1. 6.4.3.1 展频
        2. 6.4.3.2 通道间相移
        3. 6.4.3.3 多器件 PWM 相位同步
          1. 6.4.3.3.1 启动阶段与 I2S 时钟的相位同步
          2. 6.4.3.3.2 通过 GPIO 实现相位同步
      4. 6.4.4 热折返
      5. 6.4.5 器件状态控制
      6. 6.4.6 器件调制
        1. 6.4.6.1 BD 调制
        2. 6.4.6.2 1SPW 调制
        3. 6.4.6.3 混合调制
      7. 6.4.7 编程和控制
        1. 6.4.7.1 I2C 串行通信总线
        2. 6.4.7.2 硬件控制模式
        3. 6.4.7.3 I2C 目标地址
          1. 6.4.7.3.1 随机写入
          2. 6.4.7.3.2 顺序写入
          3. 6.4.7.3.3 随机读取
          4. 6.4.7.3.4 顺序读取
          5. 6.4.7.3.5 DSP 存储器 Book、Page 和 BQ 更新
          6. 6.4.7.3.6 校验和
            1. 6.4.7.3.6.1 循环冗余校验 (CRC) 校验和
            2. 6.4.7.3.6.2 异或 (XOR) 校验和
        4. 6.4.7.4 通过软件进行控制
          1. 6.4.7.4.1 启动过程
          2. 6.4.7.4.2 关断过程
        5. 6.4.7.5 保护和监控
          1. 6.4.7.5.1 过流限制（逐周期）
          2. 6.4.7.5.2 过流关断 (OCSD)
          3. 6.4.7.5.3 直流检测误差
          4. 6.4.7.5.4 过热关断 (OTSD)
          5. 6.4.7.5.5 PVDD 过压和欠压误差
          6. 6.4.7.5.6 PVDD 压降检测
          7. 6.4.7.5.7 时钟故障
    5. 6.5 寄存器映射
      1. 6.5.1 reg_map 寄存器
  8. 7 应用和实施
    1. 7.1 典型应用
      1. 7.1.1 2.0（立体声 BTL）系统
      2. 7.1.2 单声道 (PBTL) 系统
      3. 7.1.3 布局指南
        1. 7.1.3.1 音频放大器通用指南
        2. 7.1.3.2 PVDD 网络中 PVDD 旁路电容放置的重要性
        3. 7.1.3.3 优化散热性能
          1. 7.1.3.3.1 器件、覆铜和元件布局
          2. 7.1.3.3.2 模板布局
          3. 7.1.3.3.3 PCB 引脚布局和过孔排列
          4. 7.1.3.3.4 焊接模板
        4. 7.1.3.4 布局示例
  9. 8 电源相关建议
    1. 8.1 DVDD 电源
    2. 8.2 PVDD 电源
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 器件支持
      1. 9.1.1 器件命名规则
      2. 9.1.2 开发支持
    2. 9.2 接收文档更新通知
    3. 9.3 支持资源
    4. 9.4 商标
    5. 9.5 静电放电警告
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息
7.1.3.3.1 器件、覆铜和元件布局

PCB 设计的主要目标是尽可能降低通向低温结构路径中的热阻。为实现这一目标，必须遵循以下建议：

  • 应避免其他产热元件或结构靠近放大器放置（包括终端设备上方或下方）。
  • 尽可能使用多层 PCB 来提升 TAS5827 器件的散热能力，防止走线和覆铜信号和电源层损坏顶层和底层的连续覆铜。
  • 尽可能将 TAS5827 器件远离 PCB 边沿放置，确保热量能够沿器件四边扩散。
  • 避免走线或过孔串阻碍热量从 TAS5827 器件流向周围区域。相反，应沿着器件垂直方向布线并纵向排列过孔。
  • 除非无源器件的两个焊盘间的区域足够大，使得覆铜能够穿入两焊盘之间，否则，该无源器件的放置方向需确保其窄端朝向 TAS5827 器件。
  • 由于接地引脚是封装中的最佳热导体，因此应保持尽可能多的接地引脚，在器件周围的 PCB 区域与接地引脚之间形成一个连续的接地层。