ZHCSY80 April   2025 TAC5301-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性
    6. 5.6  电气特性
    7. 5.7  时序要求：I2C 接口
    8. 5.8  开关特性：I2C 接口
    9. 5.9  时序要求：TDM、I2S 或 LJ 接口
    10. 5.10 开关特性：TDM、I2S 或 LJ 接口
    11. 5.11 时序图
    12. 5.12 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1 串行接口
        1. 6.3.1.1 控制串行接口
        2. 6.3.1.2 音频串行接口
          1. 6.3.1.2.1 时分多路复用 (TDM) 音频接口
          2. 6.3.1.2.2 IC 间音频 (I2S) 接口
          3. 6.3.1.2.3 左对齐 (LJ) 接口
        3. 6.3.1.3 通过共享总线使用多个器件
      2. 6.3.2 锁相环 (PLL) 和时钟生成
      3. 6.3.3 输入通道配置
      4. 6.3.4 输出通道配置
      5. 6.3.5 基准电压
      6. 6.3.6 麦克风偏置
      7. 6.3.7 信号链处理
        1. 6.3.7.1 ADC 信号链
          1. 6.3.7.1.1  可编程通道增益和数字音量控制
          2. 6.3.7.1.2  可编程通道增益校准
          3. 6.3.7.1.3  可编程通道相位校准
          4. 6.3.7.1.4  可编程数字高通滤波器
          5. 6.3.7.1.5  可编程数字双二阶滤波器
          6. 6.3.7.1.6  可编程通道加法器和数字混频器
          7. 6.3.7.1.7  可配置数字抽取滤波器
            1. 6.3.7.1.7.1 线性相位滤波器
              1. 6.3.7.1.7.1.1 采样速率：8kHz 或 7.35kHz
              2. 6.3.7.1.7.1.2 采样速率：16kHz 或 14.7kHz
              3. 6.3.7.1.7.1.3 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              4. 6.3.7.1.7.1.4 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              5. 6.3.7.1.7.1.5 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              6. 6.3.7.1.7.1.6 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              7. 6.3.7.1.7.1.7 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
            2. 6.3.7.1.7.2 低延迟滤波器
              1. 6.3.7.1.7.2.1 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              2. 6.3.7.1.7.2.2 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              3. 6.3.7.1.7.2.3 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              4. 6.3.7.1.7.2.4 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              5. 6.3.7.1.7.2.5 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
            3. 6.3.7.1.7.3 超低延迟滤波器
              1. 6.3.7.1.7.3.1 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              2. 6.3.7.1.7.3.2 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              3. 6.3.7.1.7.3.3 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              4. 6.3.7.1.7.3.4 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              5. 6.3.7.1.7.3.5 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
          8. 6.3.7.1.8  自动增益控制器 (AGC)
          9. 6.3.7.1.9  语音活动检测 (VAD)
          10. 6.3.7.1.10 超声波活动检测 (UAD)
        2. 6.3.7.2 DAC 信号链
          1. 6.3.7.2.1 可编程通道增益和数字音量控制
          2. 6.3.7.2.2 可编程通道增益校准
          3. 6.3.7.2.3 可编程数字高通滤波器
          4. 6.3.7.2.4 可编程数字双二阶滤波器
          5. 6.3.7.2.5 可配置数字内插滤波器
            1. 6.3.7.2.5.1 线性相位滤波器
              1. 6.3.7.2.5.1.1 采样速率：8kHz 或 7.35kHz
              2. 6.3.7.2.5.1.2 采样速率：16kHz 或 14.7kHz
              3. 6.3.7.2.5.1.3 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              4. 6.3.7.2.5.1.4 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              5. 6.3.7.2.5.1.5 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              6. 6.3.7.2.5.1.6 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              7. 6.3.7.2.5.1.7 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
            2. 6.3.7.2.5.2 低延迟滤波器
              1. 6.3.7.2.5.2.1 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              2. 6.3.7.2.5.2.2 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              3. 6.3.7.2.5.2.3 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              4. 6.3.7.2.5.2.4 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              5. 6.3.7.2.5.2.5 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
            3. 6.3.7.2.5.3 超低延迟滤波器
              1. 6.3.7.2.5.3.1 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
              2. 6.3.7.2.5.3.2 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
              3. 6.3.7.2.5.3.3 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
              4. 6.3.7.2.5.3.4 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
              5. 6.3.7.2.5.3.5 采样速率：192kHz 或 176.4kHz
      8. 6.3.8 中断、状态和数字 I/O 引脚多路复用
      9. 6.3.9 Power Tune 模式
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 睡眠模式或软件关断
      2. 6.4.2 软件复位
      3. 6.4.3 工作模式
    5. 6.5 编程
      1. 6.5.1 控制串行接口
        1. 6.5.1.1 常规 I2C 运行
        2. 6.5.1.2 I2C 单字节和多字节传输
          1. 6.5.1.2.1 I2C 单字节写入
          2. 6.5.1.2.2 I2C 多字节写入
          3. 6.5.1.2.3 I2C 单字节读取
          4. 6.5.1.2.4 I2C 多字节读取
  8. 7 寄存器映射
    1. 7.1 器件配置寄存器
      1. 7.1.1 TAC5301-Q1_B0_P0 寄存器
      2. 7.1.2 TAC5301-Q1_B0_P1 寄存器
      3. 7.1.3 TAC5301-Q1_B0_P3 寄存器
    2. 7.2 可编程系数寄存器
      1. 7.2.1  可编程系数寄存器：页面 8
      2. 7.2.2  可编程系数寄存器：页面 9
      3. 7.2.3  可编程系数寄存器：页面 10
      4. 7.2.4  可编程系数寄存器：页面 11
      5. 7.2.5  可编程系数寄存器：页面 15
      6. 7.2.6  可编程系数寄存器：页面 16
      7. 7.2.7  可编程系数寄存器：页面 17
      8. 7.2.8  可编程系数寄存器：页面 18
      9. 7.2.9  可编程系数寄存器：页面 19
      10. 7.2.10 可编程系数寄存器：页面 25
      11. 7.2.11 可编程系数寄存器：页面 26
      12. 7.2.12 可编程系数寄存器：页面 27
      13. 7.2.13 可编程系数寄存器：页面 28
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 应用
      2. 8.2.2 设计要求
      3. 8.2.3 详细设计过程
      4. 8.2.4 典型特性
    3. 8.3 电源相关建议
      1. 8.3.1 适用于 1.8V 和 1.2V 运行的 IOVDD_IO_MODE
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局示例
      2. 8.4.2 布局指南
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 文档支持
      1. 9.1.1 相关文档
    2. 9.2 静电放电警告
    3. 9.3 接收文档更新通知
    4. 9.4 支持资源
    5. 9.5 商标
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.4.3 工作模式

如果主机器件通过将 SLEEP_ENZ 位设置为 1'b1 退出睡眠模式，则该器件将进入工作模式。在工作模式下，可执行 I2C 事务来配置器件并为其加电以实现活动运行。进入工作模式后，在开始任何 I2C 事务之前至少等待 2ms，以便器件完成内部唤醒序列。

对可编程系数寄存器和通道配置寄存器的读写操作必须在退出睡眠模式 10ms 后执行。

为目标应用和系统设置配置所有其他寄存器后，配置输入通道启用寄存器 P0_R118 (CH_EN)。最后，配置器件上电寄存器 P0_R120 (PWR_CFG)。在给相应通道上电之前，必须写入所有可编程系数值。

在工作模式下，通过读取 P0_R121 (DEV_STS0) 和 P0_R122 (DEV_STS1) 寄存器中的只读器件状态位，监视各个模块的上电和断电状态。