ZHCSW11C November 2024 – September 2025 BQ27Z758
PRODUCTION DATA
请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| N 沟道 FET 驱动器,CHG 和 DSG | ||||||
| VDRIVER | 栅极驱动器电压,VCHG 或 VDSG | CLOAD = 8nF | 2 × VDD | V | ||
| AFETON | FET 驱动器增益系数,连接至 FET 的 Vgs 电压 | AFETON = (Vdriver – VDD)/VDD,CLOAD = 8nF,UVP < VDD < 3.8V | 0.9 | 1.0 | 1.2 | V/V |
| VDSGOFF | DSG FET 驱动器关断输出电压 | VDSGOFF = VDSG – PACK,CL= 8nF | 0.2 | V | ||
| VCHGOFF | CHG FET 驱动器关断输出电压 | VCHGOFF = VCHG – VSS,CL= 8nF | 0.2 | V | ||
| trise | FET 驱动器上升时间 (1) | CL = 8nF,(Vdriver – VDD)/VDD = 1 x VFETON 从 VDD 变为 2 × VDD | 400 | 800 | us | |
| tfall | FET 驱动器下降时间(1) | CL = 8nF,VFETON 从 VFETMAX 变为 VFETOFF | 50 | 200 | us | |
| VFET_SHUT | 固件 FET 驱动器关断电压(2)(4) | 可配置,步长为 1mV | 2000 | 2100 | 5000 | mV |
| VFET_SHUT_REL | 固件 FET 驱动器关断释放(2)(4) | 2000 | 2300 | 5000 | mV | |
| ILOAD | FET 驱动器最大负载 | 10 | uA | |||
| 电压保护 | ||||||
| VOVP | 硬件过压保护 (OVP) 检测范围(3) |
建议的阈值范围。经过出厂修整,步长为 50mV |
3500 | 5000 | mV | |
|
出厂默认修整阈值(3) |
4525 | |||||
| VOVP_ACC | 硬件 OVP 检测精度(3) | TA = 25°C,充放电时的 CLOAD < 1μA | -15 | 15 | mV | |
| TA = 0°C 至 60°C,充放电时的 CLOAD < 1μA | -25 | 25 | mV | |||
| TA = –40°C 至 85°C,充放电时的 CLOAD < 1μA | -50 | 50 | mV | |||
| VFW_OVP | 固件 OVP 检测范围(4) | 可配置,步长为 1mV | 2000 | 4490 | 5000 | mV |
| VFW_OVP_REL | 固件 OVP 释放范围(4) | 2000 | 4290 | 5000 | mV | |
| VUVP | 硬件欠压 (UVP) 检测范围(3) | 建议的阈值范围。经过出厂修整,步长为 50mV | 2000 | 4000 | mV | |
| 出厂默认修整阈值(3) | 2300 | |||||
| VUVP_ACC | 硬件 UVP 检测精度(3) | TA = 25°C,充放电时的 CLOAD < 1μA | -20 | 20 | mV | |
| TA = 0°C 至 60°C,充放电时的 CLOAD < 1uA | -30 | 30 | mV | |||
| TA = –40°C 至 85°C,充放电时的 CLOAD < 1uA | -50 | 50 | mV | |||
| VFW_UVP | 固件 UVP 检测范围(4) | 可配置,步长为 1mV | 2000 | 2500 | 5000 | |
| VFW_UVP_REL | 固件 UVP 释放范围(4) | 2000 | 2900 | 5000 | mV | |
| RPACK-VSS | PACK 和 VSS 之间的电阻 | 仅限关断模式 | 100 | 300 | 550 | kΩ |
| VRCP | 反向充电保护限制 | –10V 持续工作电压,绝对最大值 –12V | -10 | V | ||
| 电流保护 | ||||||
| VOCC | 充电过流 (OCC) 的检测电压阈值范围(3)(4) |
建议的阈值范围。经过出厂修整,步长为 1mV |
4 | 100 | mV | |
| 出厂默认修整阈值(3) | 14 | |||||
| VOCC | OCC 2mV 步长设计选项 | 2mV 步长配置选项 | 2 | 256 | mV | |
| IOCC | 有效 OCC 电流阈值范围(相对于 VOCC)(1)(4) | 理想 RSNS = 1mΩ | 4 | 14 | 100 | A |
| 理想 RSNS = 2mΩ | 2 | 7 | 50 | |||
| 理想 RSNS = 5mΩ | 0.8 | 2.8 | 20 | |||
| IFW_OCC | 固件 OCC 检测范围(4) | 可配置,步长为 1mA | 0 | 12000 | +ICC_IN | mA |
| VOCD | 放电过流 (OCD) 的检测电压阈值范围(3)(4) |
建议的阈值范围。经过出厂修整,步长为 1mV |
-4 | -100 | mV | |
| 出厂默认修整阈值(3) | -16 | |||||
| VOCD | OCD 2mV 步长设计选项 | ±2mV 步长配置选项 | -2 | -256 | mV | |
| IOCD | 有效 OCD 电流阈值范围(相对于 VOCD)(1)(4) | 理想 RSNS = 1mΩ | -4 | -16 | -100 | A |
| 理想 RSNS = 2mΩ | -2 | -8 | -50 | |||
| 理想 RSNS = 5mΩ | -0.8 | -3.2 | -20 | |||
| IFW_OCD | 固件 OCD 检测范围(4) | 可配置,步长为 1mA | –ICC_IN | -7000 | 0 | mA |
| VSCD | 放电短路电流 (SCD) 的检测电压阈值范围(3)(4) | 阈值经过出厂修整,步长为 1mV | -5 | -120 | mV | |
| 出厂默认修整阈值(3) | -20 | |||||
| ISCD | 有效 SCD 电流阈值范围(相对于 VSCD)(1)(4) | 理想 RSNS = 1mΩ | -5 | -20 | -120 | A |
| 理想 RSNS = 2mΩ | -2.5 | -10 | -60 | |||
| 理想 RSNS = 5mΩ | -1 | -4 | -24 | |||
| VOC_ACC | 过流(OCC、OCD、SCD)检测精度(3) | <20mV,TA = –25°C 至 60°C | -2.1 | 2.1 | mV | |
| <20mV | -2.1 | 2.1 | ||||
| 20mV–55mV | -3 | 3 | ||||
| 56mV–100mV | -5 | 5 | ||||
| >100mV | -12 | 12 | ||||
| IPACK-VDD | 电流故障期间 PACK 和 VDD 之间的灌电流 | 固件中的负载移除检测 |
15 | μA | ||
| VOC_REL | OCC 故障释放阈值 | (VPACK – VBAT) | 100 | mV | ||
| OCD、SCD 故障释放阈值 | -400 | mV | ||||
| 过热保护 | ||||||
| TOTC_TRIP | OTC 跳变/释放阈值(2)(4) | 基于固件并可配置,步长为 0.1°C | -40.0 | 55.0 | 150.0 | °C |
| TOTC_REL | -40.0 | 50.0 | 150.0 | °C | ||
| TOTD_TRIP | OTD 跳变/释放阈值(2)(4) | -40.0 | 60.0 | 150.0 | °C | |
| TOTD_REL | -40.0 | 55.0 | 150.0 | °C | ||
| TUTC_TRIP | UTC 跳变/释放阈值(2)(4) | -40.0 | 0.0 | 150.0 | °C | |
| TUTC_REL | -40.0 | 5.0 | 150.0 | °C | ||
| TUTD_TRIP | UTD 跳变/释放阈值(2)(4) | -40.0 | 0.0 | 150.0 | °C | |
| TUTD_REL | -40.0 | 5.0 | 150.0 | °C | ||
| 保护延迟(1) | ||||||
| tOVP | OVP 检测延迟(去抖)选项(1)(4) | 支持 4095 种延迟选项配置,步长为 1.953ms。出厂默认值 = 1000ms(512 个计数)典型值 | 1.953 | 1000 | 7998 | ms |
| tUVP | UVP 检测延迟(去抖)选项(1)(4) | 支持 127 种延迟选项配置,步长为 1.953ms。出厂默认值 = 127ms(65 个计数)典型值 | 1.953 | 127 | 248 | ms |
| tOCC | OCC 检测延迟(去抖)选项(1)(4) | 支持 31 种延迟选项配置,步长为 1.953ms。出厂默认值 = 7.8ms(4 个计数)典型值 | 1.953 | 7.8 | 60.5 | ms |
| tOCD | OCD 检测延迟(去抖)选项(1)(4) | 支持 255 种延迟选项配置,步长为 0.244ms。出厂默认值 = 15.9ms(65 个计数)典型值 | 0.244 | 15.9 | 62.3 | ms |
| tSCD | SCD 检测延迟(去抖)选项(1)(4) | 支持七种延迟选项配置,步长为 122µs。出厂默认值 = 244µs(2 个计数)典型值 | 122 | 244 | 854 | µs |
| TOTC_DLY | OTC 跳变延迟(2)(4) | 基于固件并可配置,步长为 1s。典型值为数据闪存出厂默认值。 | 0 | 2 | 255 | s |
| TOTD_DLY | OTD 跳变延迟(2)(4) | 0 | 2 | 255 | s | |
| TUTC_DLY | UTC 跳变延迟(2)(4) | 0 | 2 | 255 | s | |
| TUTD_DLY | UTD 跳变延迟(2)(4) | 0 | 2 | 255 | s | |
| 零伏(低压)充电 | ||||||
| V0CHGR | 启动零伏充电所需的充电器电压 | V0CHGR = VPACK – VSS | 1.6 | V | ||