ZHCSW11C November 2024 – September 2025 BQ27Z758
PRODUCTION DATA
请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 数据保存时间 | 10 | 100 | 年 | |||
| 闪存编程写入周期数 | 数据闪存 | 20000 | 周期 | |||
| 指令闪存 | 1000 | 周期 | ||||
| t(ROWPROG) | 行编程时间 | 40 | µs | |||
| t(MASSERASE) | 批量擦除时间 | TA = -40°C 至 85°C | 40 | ms | ||
| t(PAGEERASE) | 页擦除时间 | TA = -40°C 至 85°C | 40 | ms | ||
| IFLASHREAD | 闪存读取电流 | TA = -40°C 至 85°C | 1 | mA | ||
| IFLASHWRTIE | 闪存写入电流 | TA = -40°C 至 85°C | 5 | mA | ||
| IFLASHERASE | 闪存擦除电流 | TA = -40°C 至 85°C | 15 | mA | ||