ZHCACS0 june   2023 ADC12DJ5200RF , ADC32RF52 , ADC32RF54 , ADC32RF55 , ADC34RF52 , ADC34RF55

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2通过校准确保准确性
    1. 2.1 温度变化
    2. 2.2 外部噪声
    3. 2.3 不稳定的电源
    4. 2.4 机械应力
    5. 2.5 制造差异
    6. 2.6 避免误差
  6. 3校准技术
    1. 3.1 一次性校准
    2. 3.2 前台校准
    3. 3.3 后台校准
  7. 4总结
  8. 5参考文献

3.1 一次性校准

一次性校准过程仅涉及在数据转换器的初始启动序列期间执行一次校准。在 ADC32RF55 双通道 14 位 3GSPS 射频采样 ADC 的特定情况下，执行初始启动序列以校准所有内部子 ADC 内核，从而实现数据表中所列性能。如果不执行此一次性校准，转换器将严重降级，并且没有值得处理的数据，如图 3-1 所示。但是，在执行一次性校准后，FFT 符合预期，如图 3-2 所示。

GUID-20230601-SS0I-CZ2P-HCCM-3FJ5P7L0C5VL-low.png图 3-1 ADC32RF55 未经过一次性校准的输出
GUID-20230601-SS0I-B6ST-BWKS-75WG3BXXTSLW-low.png图 3-2 ADC32RF55 经过一次性校准的输出

同样，ADC12DJ5200RF 是一款双通道 12 位 5.2GSPS 射频采样 ADC，也需要一次性校准，以便匹配子 ADC 内核的增益和失调电压，从而减少交错杂散并改善 SFDR。在 ADC32RF55 和 ADC12DJ5200RF 器件的初始编程期间，串行外设接口 (SPI) 执行一次性校准。