硬體開發
開發板
ADC12DJ3200EVM — ADC12DJ3200 12-bit, dual 3.2-GSPS or single 6.4-GSPS, RF-sampling ADC evaluation module
此參考設計提供交錯式射頻取樣類比數位轉換器 (ADC) 的實際範例，以達到 12.8-GSPS 取樣率。這是透過兩個射頻取樣 ADC 的時間交錯而達成。交錯需要在 ADC 之間進行相位偏移，此參考設計利用 ADC12DJ3200 的無雜訊孔徑延遲調整（tAD 調整）功能來實現此目標。此功能也可用於將交錯式 ADC 的典型不匹配降到最低：將 SNR、ENOB 和 SFDR 性能最大化。此參考設計也具備支援 JESD204B 的低相位雜訊時脈樹。使用 LMX2594 寬頻 PLL 和 LMK04828 合成器和抖動消除器來執行實作。
EVM使用指南:
PDF
支援產品和硬體
硬體開發
參考設計
ADC12DJ3200EVM — ADC12DJ3200 12-bit, dual 3.2-GSPS or single 6.4-GSPS, RF-sampling ADC evaluation module
硬體開發
參考設計
開發板
TSW14J57EVM — Data capture/pattern generator: data converter EVM with 16 JESD204B lanes from 1.6-15Gbps
此參考設計提供交錯式射頻取樣類比數位轉換器 (ADC) 的實際範例，以達到 12.8-GSPS 取樣率。這是透過兩個射頻取樣 ADC 的時間交錯而達成。交錯需要在 ADC 之間進行相位偏移，此參考設計利用 ADC12DJ3200 的無雜訊孔徑延遲調整（tAD 調整）功能來實現此目標。此功能也可用於將交錯式 ADC 的典型不匹配降到最低：將 SNR、ENOB 和 SFDR 性能最大化。此參考設計也具備支援 JESD204B 的低相位雜訊時脈樹。使用 LMX2594 寬頻 PLL 和 LMK04828 合成器和抖動消除器來執行實作。