硬體開發
開發板
ADC12DJ5200RFEVM — ADC12DJ5200RF RF-sampling 12-bit dual 5.2-GSPS or single 10.4-GSPS ADC evaluation module
此參考設計說明採用時間交錯配置的射頻取樣類比數位轉換器 (ADC) 的 20.8GSPS 取樣系統。時間交錯法是一種經過實證的傳統提升取樣率方式，然而，匹配個別 ADC 偏移、增益與取樣時間不匹配是實現性能的關鍵。交錯的複雜性會隨著取樣時脈較高而增加。ADC 間的相位匹配是實現更佳 SFDR 和 ENOB 的關鍵規格之一。此參考設計使用 ADC12DJ5200RF 上的無雜訊孔徑延遲調整功能，並具備 19fs 精密相位控制步驟，可簡化 20.8GSPS 交錯之執行。此參考設計採用以 LMK04828 和 LMX2594 為基礎的板載低雜訊 JESD204B 時脈鐘產生器，符合 12 (...)
支援產品和硬體
ADC12DJ5200RFEVM — ADC12DJ5200RF RF-sampling 12-bit dual 5.2-GSPS or single 10.4-GSPS ADC evaluation module
開發板
TSW14J57EVM — Data capture/pattern generator: data converter EVM with 16 JESD204B lanes from 1.6-15Gbps
此參考設計說明採用時間交錯配置的射頻取樣類比數位轉換器 (ADC) 的 20.8GSPS 取樣系統。時間交錯法是一種經過實證的傳統提升取樣率方式，然而，匹配個別 ADC 偏移、增益與取樣時間不匹配是實現性能的關鍵。交錯的複雜性會隨著取樣時脈較高而增加。ADC 間的相位匹配是實現更佳 SFDR 和 ENOB 的關鍵規格之一。此參考設計使用 ADC12DJ5200RF 上的無雜訊孔徑延遲調整功能，並具備 19fs 精密相位控制步驟，可簡化 20.8GSPS 交錯之執行。此參考設計採用以 LMK04828 和 LMX2594 為基礎的板載低雜訊 JESD204B 時脈鐘產生器，符合 12 (...)