ZHDA057 February   2026 AM2432 , AM2754-Q1 , AM625 , AM62A7 , AM62D-Q1 , AM62L , AM62P , AM6442

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2术语
  6. 3方法
  7. 4对闪存操作进行基准测试
    1. 4.1 处理器-AM243x/AM64x
      1. 4.1.1 TMDS243EVM/TMDS64EVM
      2. 4.1.2 LP-AM243
    2. 4.2 处理器-AM62Lx
      1. 4.2.1 TMDS62LEVM
    3. 4.3 处理器-AM62Ax
      1. 4.3.1 SK-AM62A-LP
  8. 5观察与结论
  9. 6总结
  10. 7参考资料

7 参考资料

  1. 德州仪器 (TI)，串行 NOR OSPI 闪存性能数值，数据表。
  2. 德州仪器 (TI)，串行 NAND OSPI 闪存性能数值，数据表。
  3. Infineon Technologies，S28HS512T 数据表，数据表。
  4. Winbond，1.8V 1G 位串行 SLC NAND 闪存八通道 SPI 与 166MHz SDR 和 120Mhz DDR 缓冲器读取和连续读取，数据表。
  5. Infineon Technologie，S25HL512T 数据表，数据表。
  6. 德州仪器 (TI)，MCU+SDK 的 xSPI 定制闪存调试指南，应用手册。