ZHDA015 January 2026 ADS124S06 , ADS124S08
RTD 性能测试使用精密电阻器来模拟温度变化,而不是使用实际的 PT100 传感器,以保持高精度测量并简化测试。使用 Keysight Technologies 3458A 数字万用表校准输入信号,以消除电阻器的误差。图 1-5 示出了可与低侧或高侧基准配置结合使用的 RTD EMC 测试板电路。
图 1-6 示出了低侧参考配置的蓝色测量的未校准温度误差和红色测量的校准温度误差。此图使用从室温下运行并测量 3 线 RTD 的 4 层 RTD EMC 测试板所收集的数据。图 x 轴示出了从施加到 ADS124S08 的测量电阻转换而来的 RTD 温度。
图 1-6 未校准与已校准总 RTD 测量误差(采用低侧 RREF 时). 图 1-7 示出了高侧参考配置的蓝色测量的未校准温度误差和红色测量的校准温度误差。此图使用从室温下运行并测量 3 线 RTD 的 2 层 RTD EMC 测试板所收集的数据。图 x 轴示出了从施加到 ADS124S08 的测量电阻转换而来的 RTD 温度。
图 1-7 未校准与已校准总 RTD 测量误差(采用高侧 RREF 时). 可以调整电阻器和 IDAC 设置,使其与 PT1000 或其他类型 RTD 传感器兼容。有关 RTD 测量的更多信息,请参阅应用手册:RTD 测量基本指南。