ZHDA015 January   2026 ADS124S06 , ADS124S08

 

  1.   1
  2.   摘要
  3. 1电路设计和测试系统
    1. 1.1 设计概述
    2. 1.2 RTD 测量的 EMC 测试板概述
      1. 1.2.1 输入配置及 ADC 设置
        1. 1.2.1.1 采用低侧基准的 3 线 RTD 测量的配置及设置
        2. 1.2.1.2 采用高侧基准的 3 线 RTD 测量的配置及设置
      2. 1.2.2 温度误差 - RTD 测量
        1. 1.2.2.1 根据 RTD 电阻计算 RTD 温度
        2. 1.2.2.2 根据 RTD 测量值计算温度误差
        3. 1.2.2.3 实验设置和结果
    3. 1.3 TC 测量的 EMC 测试板概述
      1. 1.3.1 输入配置及 ADC 设置
        1. 1.3.1.1 输入配置
        2. 1.3.1.2 热电偶特性及 ADC 设置
      2. 1.3.2 温度误差 - TC 测量
        1. 1.3.2.1 根据 TC 热电电压计算温度
        2. 1.3.2.2 根据 TC 测量值计算温度误差
        3. 1.3.2.3 实验设置和结果
    4. 1.4 针对 EMC 合规性的电路设计注意事项
      1. 1.4.1 模拟输入保护
      2. 1.4.2 抗混叠滤波器
      3. 1.4.3 每个输入连接器引脚上的高压电容器
      4. 1.4.4 用于放电路径的高压电容器及电阻器
      5. 1.4.5 数字信号串联电阻器
      6. 1.4.6 数字隔离
      7. 1.4.7 电源和保护
    5. 1.5 针对 EMC 合规性的 PCB 布局注意事项
      1. 1.5.1 PCB 层堆叠及接地平面
      2. 1.5.2 避免较长返回路径
      3. 1.5.3 避免 PCB 布线中出现 90 度弯曲
      4. 1.5.4 利用防护环隔离干扰信号
      5. 1.5.5 去耦电容器
      6. 1.5.6 差分信号布线
      7. 1.5.7 拼接过孔
      8. 1.5.8 隔离栅布局
      9. 1.5.9 元件放置
    6. 1.6 测试系统
  4. 2测试细节和结果
    1. 2.1 标准和测试准则
    2. 2.2 静电放电 (ESD)
    3. 2.3 辐射抗扰度 (RI)
    4. 2.4 电快速瞬变 (EFT)
    5. 2.5 浪涌抗扰度 (SI)
    6. 2.6 传导抗扰度 (CI)
  5. 3原理图、PCB 布局和物料清单
    1. 3.1 原理图 - RTD EMC 测试板
    2. 3.2 原理图 - TC EMC 测试板
    3. 3.3 PCB 布局 - RTD EMC 测试板(4 层)
    4. 3.4 PCB 布局 - RTD EMC 测试板(2 层)
    5. 3.5 PCB 布局 - TC EMC 测试板(4 层)
    6. 3.6 PCB 布局 - TC EMC 测试板(2 层)
    7. 3.7 物料清单 - RTD EMC 测试板
    8. 3.8 物料清单 - TC EMC 测试板
  6. 4总结
  7. 5参考资料

实验设置和结果

RTD 性能测试使用精密电阻器来模拟温度变化,而不是使用实际的 PT100 传感器,以保持高精度测量并简化测试。使用 Keysight Technologies 3458A 数字万用表校准输入信号,以消除电阻器的误差。图 1-5 示出了可与低侧或高侧基准配置结合使用的 RTD EMC 测试板电路。

 EMC 测试板上的低侧及高侧 RTD 测量电路图 1-5 EMC 测试板上的低侧及高侧 RTD 测量电路.

图 1-6 示出了低侧参考配置的蓝色测量的未校准温度误差和红色测量的校准温度误差。此图使用从室温下运行并测量 3 线 RTD 的 4 层 RTD EMC 测试板所收集的数据。图 x 轴示出了从施加到 ADS124S08 的测量电阻转换而来的 RTD 温度。

 未校准与已校准总 RTD 测量误差(采用低侧 RREF 时)图 1-6 未校准与已校准总 RTD 测量误差(采用低侧 RREF 时).

图 1-7 示出了高侧参考配置的蓝色测量的未校准温度误差和红色测量的校准温度误差。此图使用从室温下运行并测量 3 线 RTD 的 2 层 RTD EMC 测试板所收集的数据。图 x 轴示出了从施加到 ADS124S08 的测量电阻转换而来的 RTD 温度。

 未校准与已校准总 RTD 测量误差(采用高侧 RREF 时)图 1-7 未校准与已校准总 RTD 测量误差(采用高侧 RREF 时).

可以调整电阻器和 IDAC 设置,使其与 PT1000 或其他类型 RTD 传感器兼容。有关 RTD 测量的更多信息,请参阅应用手册:RTD 测量基本指南