ZHDA015 January 2026 ADS124S06 , ADS124S08
拼接过孔可改善信号完整性、降低阻抗和电感、更大限度地降低噪声和串扰,并增强 EMI 屏蔽。EMC 测试板采用拼接过孔,用于多种不同用途,包括:
增强高速信号完整性及可靠性:
许多 ADC 所需的串行时钟信号可高达 50MHz。拼接过孔通过提供低阻抗接地返回路径,减少接地振铃和串扰,可以显著提升高速信号的信号完整性和可靠性。如果可能,将高速信号保持在与 ADC 相同的层。如果必须在不同层之间路由高速信号,则使用单个拼接过孔或拼接过孔阵列。图 1-26 示出了 4 层电路板上拼接过孔的侧视图。
EMC 测试板在 ADC 及数字隔离器之间的顶层布置 SCLK 迹线。然后,SCLK 布线从数字隔离器和连接器 J1 延续到顶层的控制器板。因此,该设计不需要 SCLK 信号的拼接过孔。图 1-27 示出了 RTD EMC 测试板上 DIN 和 DOUT 信号的拼接过孔示例。
图 1-27 信号拼接过孔. 层转换和接地覆铜连接:
通过为信号提供一致的参考平面和低阻抗返回路径,使用在层之间转换的拼接过孔来提高信号完整性。拼接过孔还用于在多层上连接接地覆铜,并确保沿 PCB 参考平面传播的任何返回电流具有最小的阻抗。图 1-28 示出了 2 层 RTD EMC 测试板上的层转换和接地连接设计示例。
图 1-28 用于层转换和接地连接的拼接过孔.