ZHDA015 January 2026 ADS124S06 , ADS124S08
TC 性能测试使用精密信号发生器 (DP8200) 来模拟温度变化,而不是实际的 K 型 TC,以保持高精度测量并简化测试。使用 Keysight Technologies 3458A 数字万用表(或类似万用表)校准输入信号,以消除信号发生器中的误差。图 1-10 示出了 TC EMC 测试板电路,该电路可与 VBIAS 或 REFOUT 热电偶偏置电路配合使用。
图 1-11 以蓝色显示测得的未校准温度误差,以红色显示使用 VBIAS 热电偶偏置测量的校准温度误差。此图使用从室温下运行的 2 层 TC EMC 测试板收集的数据。图 x−轴示出了使用精密信号发生器从施加到 ADS124S08 的测量电压转换而来的 TC 温度。
图 1-11 未校准与已校准总 TC 测量误差间的关系(采用 VBIAS 偏置时). 图 1-12 以蓝色显示测得的未校准温度误差,以红色显示使用 REFOUT 热电偶偏置测量的校准温度误差。此图使用从室温下运行的 2 层 TC EMC 测试板收集的数据。图 x−轴示出了使用精密信号发生器从施加到 ADS124S08 的测量电压转换而来的 TC 温度。
图 1-12 未校准与已校准总 TC 测量误差间的关系(采用 REFOUT 偏置时).