ZHDA015 January 2026 ADS124S06 , ADS124S08
IEC 61000-4-2 标准规定了 ESD 测试的细节,包括测试标准和设置要求。IEC 61000-4-2 测试确定了 EUT 在运行期间对外部 ESD 事件的抗扰度。图 2-1 示出了 ESD 测试的设置和连接图。GRP 上立着一张 0.8 米高的木桌。桌上放置一个 1.6m × 0.8m 的水平耦合平面 (HCP)。EUT 在一个 0.5mm 厚的绝缘垫上进行测试和隔离,该绝缘垫放置在 HCP 上。EUT 放置在距离 0.5m × 0.5m 垂直耦合平面 (VCP) 0.1m 的绝缘垫上。
ESD 测试有两种类型:接触放电和空气放电。接触放电测试是一种最激进的直接放电测试,其中 ESD 枪的尖端直接接触 ADS124S08 RTD EMC 测试板上输入端子块 (J2) 的导电螺钉和ADS124S08 TC EMC 测试板的输入端子块 (J2/J3/J4/J5)。空气放电测试以三种不同的方式执行:直接空气间隙放电、向水平耦合平面 (HCP) 以及垂直耦合平面 (VCP) 间接放电。空气间隙放电测试将 ESD 枪的尖端放置在 ADS124S08 EMC 测试板上输入端子块的绝缘表面附近。间接放电测试将 ESD 信号施加到 HCP 或 VCP 中,这表示安装设计的设备机架上存在 ESD 冲击。
图 2-2 示出了施加 ESD 冲击的放大视图。对于向 HCP 和 VCP 的放电,分别由 ESD 枪 1 和 ESD 枪 2 在接触放电模式下完成。ESD 枪垂直于 VCP 边缘,然后 ESD 冲击放电到平面边缘。
表 2-2 指定 IEC 61000-4-2 测试级别:
| 接触放电 | 空气放电 | ||
| 等级 | 测试电压 (kV) | 等级 | 测试电压 (kV) |
| 1 | 2 | 1 | 2 |
| 2 | 4 | 2 | 4 |
| 3 | 6 | 3 | 8 |
| 4 | 8 | 4 | 15 |
| x | 特殊 | x | 特殊 |
图 2-3 示出了 ADS124S08 EMC 测试板上 ESD 测试的实际设置照片。
图 2-3 ESD 测试的实验室设置. 图 2-4 示出了使用 2 层 TC EMC 测试板进行 ESD 测试时未校准的 ADS124S08 输出温度数据。测试板配置为使用内部 VBIAS 电压来偏置传感器,从而测量热电偶。图左侧的图示出了在输入通道上施加正 ESD 放电时的 ADC 转换代码。右侧的图示出了在输入通道上施加负 ESD 放电时的 ADC 转换代码。这两个图都表明,ESD 测试影响了 ADS124S08,导致了暂时性的性能损失。但是,器件会在没有任何用户干预的情况下自动恢复。因此,ADS124S08 EMC 测试板通过了标准 B 的 ESD 测试
图 2-4 为 ESD 测试捕获的 ADC 转换代码. 表 2-5 显示了 ESD 测试的结果。所有 RTD 和 TC EMC 测试板上每种配置的测试结果都相同。
| 测试 | IEC 标准 | 配置 | 测试信号 | 标准 | 测试结果 | ||
测试类型 | 测试级别 | 测试电压 | |||||
ESD | IEC 61000-4-2 | RTD:4 层、3 线、低侧 RREF | 接触放电 | 4 | +8kV | B | 通过 |
| -8kV | B | 通过 | |||||
空气放电 | 4 | +15kV | B | 通过 | |||
| -15kV | B | 通过 | |||||
| RTD:2 层、3 线、高侧 RREF | 接触放电 | 4 | +8kV | B | 通过 | ||
| -8kV | B | 通过 | |||||
空气放电 | 4 | +15kV | B | 通过 | |||
| -15kV | B | 通过 | |||||
| TC:2 层,用于传感器偏置的 VBIAS | 接触放电 | 4 | +8kV | B | 通过 | ||
| -8kV | B | 通过 | |||||
空气放电 | 4 | +15kV | B | 通过 | |||
| -15kV | B | 通过 | |||||
| TC:2 层 REFOUT 偏置上拉电阻器 | 接触放电 | 4 | +8kV | B | 通过 | ||
| -8kV | B | 通过 | |||||
空气放电 | 4 | +15kV | B | 通过 | |||
| -15kV | B | 通过 | |||||