ZHCUBV3 March 2024
在实际系统中,环境温度通常会发生显著变化。传感器的增益和失调电压也会随温度的变化而变化,从而导致测量误差增加。校准是提高测试精度所必需的。在本节中,漂移测试在 25°C 和 85°C 下完成,并仅根据 25°C 下的测试数据进行校准。
每个测试点记录了 1200 个样本,并进行了均值计算以滤除噪声影响。在 25°C 下,校准后的最大线性误差为 12mA,这意味着绝对误差为 0.058%。当温度上升到 85°C 时,偏移上升到 27mA。校准后的最大误差是 46.9mA,这意味着绝对误差为 0.23%。可以使用方程式 8 来计算温漂。
温漂接近数据表中的最大值 (35μV/°C),这是因为被测芯片是一个工程样品,经过单温度点修整。量产器件经过多温度点修整,有助于显著提高漂移性能。