ZHCUAB9C
November 2018 – October 2021
使用 UCC21520EVM-286、UCC20520EVM-286、UCC21521CEVM-286 和 UCC21530EVM-286
商标
1
引言
2
说明
3
特性
3.1
I/O 说明
3.2
跳线(分流器)设置
4
电气规格
5
测试总结
5.1
定义
5.2
设备
5.2.1
电源
5.2.2
函数发生器
5.3
设备设置
5.3.1
直流电源设置
5.3.2
数字万用表设置
5.3.3
双通道函数发生器设置
5.3.4
示波器设置
5.3.5
跳线(分流器)设置
5.3.6
工作台设置图
6
上电和断电过程
6.1
上电
6.2
断电
7
不同 DT 配置下的测试波形 (CL=0pF)
7.1
DT 连接到 VCCI(J-DT 选项 B, 表 1-1 )
7.2
DT 引脚悬空或保持开路(J-DT 选项 A, 表 1-1 )
7.3
DT 引脚连接到 RDT(J-DT 选项 C, 表 1-1 )
8
原理图
9
布局图
10
物料清单
11
修订历史记录
3
特性
采用宽体 SOIC-16 (DW) 封装的 UCC21520DW、UCC20520DW 和 UCC21521CDW 评估模块和采用宽体 SOIC-14 (DWK) 封装的 UCC21530DWK 评估模块
3V 至 18V VCCI 电源电压范围以及高达 25V 的 VDDA/VDDB 电源电压范围
4A 拉电流和 6A 灌电流能力
符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5.7kV
RMS
隔离
与 TTL/CMOS 兼容的输入
使用板载微调电位器进行死区时间编程
3 位接头支持 INA、INB、DT 和启用/禁用
PCB 布局通过旁路电容器优化了电源和栅极驱动器环路
PCB 板切口有助于在初级侧和次级侧之间进行高压隔离测试
更大限度地增加了两个输出通道间的爬电距离
支持通过连接到外部功率级的 MOSFET、IGBT 和 SiC MOSFET 进行半桥测试
通过测试点可以探测 UCC21520DW、UCC20520DW、UCC21521CDW、UCC21530DWK 和其他宽体隔离式驱动器系列器件的所有关键引脚。