ZHCSXW1 February   2025 ADC3683-EP , ADC3683-SEP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1 绝对最大额定值
    2. 5.2 ESD 等级
    3. 5.3 建议运行条件
    4. 5.4 热性能信息
    5. 5.5 电气特性 - 功耗
    6. 5.6 电气特性 - 直流规格
    7. 5.7 电气特性 - 交流规格
    8. 5.8 时序要求
    9. 5.9 典型特性 - ADC3683
  7. 6 参数测量信息
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 模拟输入
        1. 7.3.1.1 模拟输入带宽
        2. 7.3.1.2 模拟前端设计
          1. 7.3.1.2.1 采样干扰滤波器设计
          2. 7.3.1.2.2 模拟输入终端和直流偏置
            1. 7.3.1.2.2.1 交流耦合
            2. 7.3.1.2.2.2 直流耦合
        3. 7.3.1.3 自动置零特性
      2. 7.3.2 时钟输入
        1. 7.3.2.1 单端与差分时钟输入
        2. 7.3.2.2 信号采集时间调整
      3. 7.3.3 电压基准
        1. 7.3.3.1 内部电压基准
        2. 7.3.3.2 外部电压基准 (VREF)
        3. 7.3.3.3 外部电压基准，带内部缓冲器 (REFBUF/CTRL)
      4. 7.3.4 数字下变频器
        1. 7.3.4.1 DDC 多路复用器
        2. 7.3.4.2 数字滤波器用途
        3. 7.3.4.3 FS/4 与实时输出混合
        4. 7.3.4.4 数控振荡器 (NCO) 和数字混频器
        5. 7.3.4.5 抽取滤波器
        6. 7.3.4.6 SYNC
        7. 7.3.4.7 带抽取因子的输出格式
      5. 7.3.5 数字数据路径和接口
        1. 7.3.5.1 数据路径概述
        2. 7.3.5.2 输出扰频器
        3. 7.3.5.3 输出位映射器
          1. 7.3.5.3.1 2 线模式
          2. 7.3.5.3.2 1 线模式
          3. 7.3.5.3.3 ½ 线模式
        4. 7.3.5.4 器件配置步骤
          1. 7.3.5.4.1 配置示例
        5. 7.3.5.5 输出数据格式
      6. 7.3.6 测试图形
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 正常运行
      2. 7.4.2 断电选项
      3. 7.4.3 数字通道平均
    5. 7.5 编程
      1. 7.5.1 仅使用 PIN 引脚的配置
      2. 7.5.2 使用 SPI 接口的配置
        1. 7.5.2.1 寄存器写入
        2. 7.5.2.2 寄存器读取
  9. 8 应用信息免责声明
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 设计要求
      2. 8.2.2 详细设计过程
        1. 8.2.2.1 输入信号路径
        2. 8.2.2.2 采样时钟
        3. 8.2.2.3 电压基准
      3. 8.2.3 应用曲线
    3. 8.3 初始化设置
      1. 8.3.1 运行期间寄存器初始化
    4. 8.4 电源相关建议
    5. 8.5 布局
      1. 8.5.1 布局指南
      2. 8.5.2 布局示例
  10. 9 寄存器映射
    1. 9.1 寄存器详细说明
  11. 10器件和文档支持
    1. 10.1 接收文档更新通知
    2. 10.2 支持资源
    3. 10.3 商标
    4. 10.4 静电放电警告
    5. 10.5 术语表
  12. 11修订历史记录
  13. 12机械、封装和可订购信息
    1. 12.1 机械数据

7.3.6 测试图形

图 7-40 展示了器件内测试图形块的位置。当禁用数字信号处理 (DSP) 功能（0x24 的 D2）时，可以启用测试图形块以替换 ADC 数据。同样，使用 DDC 时，可以使用测试图形来替换 DDC 数据。

注： 当启用 DSP 功能且未使用 DDC 时，没有可用的测试图形块。

每个测试图形块能够生成下列输出之一：

  • 具有由 PAT_DATA 设置的可编程步长的斜坡模式。
  • 具有由 PAT_DATA 设置的可编程自定义图形的恒定图形。
图 7-40 显示了两个测试图形块，即测试图形 0 和测试图形 1。有两个测试图形块，即测试图形 0 和测试图形 1。每个块的测试图形模式通过 0x16 的 D7:D5 和 D4:D2 进行配置。为测试图形块提供一组共享数据位 (PAT_DATA)，此数据用作斜坡图形步长和/或恒定图形。PAT_DATA 是位于三个不同寄存器之间的 18 位值：0x16 中的 D17:D16，0x15 中的 D15:D8，0x14 中的 D7:D0。PAT_DATA 按 MSB 对齐。例如，如果器件配置为 14 位分辨率和恒定图形，则仅 PAT_DATA 的前 14 位用于恒定图形。此外，在斜坡模式下，测试图形计数器以 18 位分辨率运行；因此，必须根据所需的分辨率和该分辨率下的步长来配置斜坡图形步长。

  • 测试图形数据必须配置为以下各项，以便在每个分辨率下具有一个步长：
    • 0x00001：18 位输出分辨率
    • 0x00004：16 位输出分辨率
    • 0x00010：14 位输出分辨率