ZHCAEL4 October 2024 AM263P2-Q1 , AM263P4 , AM263P4-Q1
我们已经运行了应用程序基准测试来测量在启用各种 OptiFlash 元件的情况下通过外部闪存执行时的 XIP 性能。

用于对 XIP 性能进行基准测试的应用程序是一个指令密集型应用程序,可模拟 AUTOSAR 高速缓存未命中率。高速缓存未命中数值已通过实际网络应用程序进行校准(大约 300-400 万条指令未命中/秒)。通过测量从外部闪存与片上 SRAM (OCSRAM) 执行应用程序的处理时间,已经获得了性能下降数值。如图 5-1 所示,启用 RL2 闪存高速缓存后,随着高速缓存大小的增加,XIP 性能有显著改善(比采用 128KB 高速缓存的 OCSRAM 提高最多 1.1 倍)。
请注意,这只是一个案例研究示例。实际应用可能根据实际流量模式具有不同程度的性能改进。