ZHCSKZ7C June 2020 – February 2021 UCC21540-Q1
PRODUCTION DATA
| 参数 | 测试条件 | 值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|
| CLR | 外部间隙(1) | 引脚间的最短空间距离 | > 8 | mm |
| CPG | 外部爬电距离(1) | 引脚间的最短封装表面距离 | > 8 | mm |
| DTI | 绝缘穿透距离 | 双重绝缘的最小内部间隙（内部间隙）(2 × 8.5 µm) | >17 | µm |
| CTI | 相对漏电起痕指数 | DIN EN 60112 (VDE 0303-11)；IEC 60112 | > 600 | V |
| 材料组别 | 符合 IEC 60664-1 | I | ||
| 过压类别（符合 IEC 60664-1） | 额定市电电压 ≤ 600 VRMS | I-IV | ||
| 额定市电电压 ≤ 1000VRMS | I-III | |||
| DIN V VDE V 0884-11 (VDE V 0884-11): 2017-01(2) | ||||
| VIORM | 最大重复峰值隔离电压 | 交流电压（双极） | 1414 | VPK |
| VIOWM | 最大工作隔离电压 | 交流电压（正弦波）；时间依赖型电介质击穿 (TDDB) 测试（请参阅图 7-1） | 1000 | VRMS |
| 直流电压 | 1414 | VDC | ||
| VIOTM | 最大瞬态隔离电压 | VTEST = VIOTM，t = 60s（鉴定测试） VTEST = 1.2 × VIOTM，t = 1s（100% 生产测试） |
8000 | VPK |
| VIOSM | 最大浪涌隔离电压(3) | 采用符合 IEC 62368-1 的测试方法，1.2/50 µs 波形， VTEST = 1.6 × VIOSM = 12800VPK（鉴定测试） |
8000 | VPK |
| qpd | 视在电荷(4) | 方法 a，I/O 安全测试子组 2/3 后。 Vini = VIOTM，tini = 60s； Vpd(m) = 1.2 X VIORM = 1697VPK，tm = 10s |
<5 | pC |
| 方法 a，环境测试子组 1 后。 Vini = VIOTM，tini = 60s； Vpd(m) = 1.6 X VIORM = 2262VPK，tm = 10s |
<5 | |||
|
方法 b1；常规测试（100% 生产测试）和预调节（类型测试） Vini = 1.2 × VIOTM；tini = 1s； Vpd(m) = 1.875 * VIORM = 2651VPK，tm = 1s |
<5 | |||
| CIO | 势垒电容，输入至输出(5) | VIO = 0.4 sin (2πft)，f =1MHz | 1.2 | pF |
| RIO | 隔离电阻，输入至输出(5) | VIO = 500V (TA = 25°C) | > 1012 | Ω |
| VIO = 500V (100°C ≤ TA ≤ 125°C) | > 1011 | |||
| VIO = 500V，TS = 150°C | > 109 | |||
| 污染等级 | 2 | |||
| 气候类别 | 40/125/21 | |||
| UL 1577 | ||||
| VISO | 可承受的隔离电压 | VTEST = VISO = 5700VRMS，t = 60s（鉴定测试）， VTEST = 1.2 × VISO = 6840VRMS，t = 1s（100% 生产测试） |
5700 | VRMS |