ZHCSS95 数据表 | 德州仪器 TI.com.cn

ZHCSS95D March 2022 – October 2024 TPS389006-Q1 , TPS389R0-Q1

PRODMIX

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)

RTE|16
- MPQF149D

散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)

RTE|16
- QFND630A

订购信息

7.5.1 BANK0 寄存器

表 7-9 列出了 BANK0 寄存器的存储器映射寄存器。表 7-9 中未列出的所有寄存器偏移地址都应视为保留的位置，并且不应修改寄存器内容。

表 7-9 BANK0 寄存器

地址	首字母缩写词	位 7	位 6	位 5	位 4	位 3	位 2	位 1	位 0
0x10	INT_SRC	F_OTHER	RESERVED				测试	控制	MONITOR
0x11	INT_MONITOR	SEQ_ON	SEQ_OFF	SEQ_EXS	SEQ_ENS	OV_LF	OV_HF	UV_LF	UV_HF
0x12	INT_UVHF	UVHF[N]
0x14	INT_UVLF	UVLF[N]
0x16	INT_OVHF	OVHF[N]
0x18	INT_OVLF	OVLF[N]
0x1A	INT_SEQ_ON	F_SEQ_ON[N]
0x1C	INT_SEQ_OFF	F_SEQ_OFF[N]
0x1E	INT_SEQ_EXS	F_SEQ_EXS[N]
0x20	INT_SEQ_ENS	F_SEQ_ENS[N]
0x22	INT_CONTROL	RESERVED			F_CRC	F_NIRQ	F_TSD	F_SYNC	F_PEC
0x23	INT_TEST	RESERVED				ECC_SEC	ECC_DED	I_BIST_C	BIST
0x24	INT_VENDOR	Self-Test_CRC	LDO_OV_Error	NRST_mismatch	Freq_DEV_Error	SHORT_DET	OPEN_DET	RESERVED
0x30	VMON_STAT	FAILSAFE	ST_BIDT_C	ST_VDD	ST_NIRQ	ST_ACTSLP	ST_ACTSHDN	ST_SYNC	RESERVED
0x31	TEST_INFO	RESERVED		ECC_SEC	ECC_DED	BIST_VM	BIST_NVM	BIST_L	BIST_A
0x32	OFF_STAT	VIN[N]
0x34	SEQ_REC_STAT	REC_ACTIVE	SEQ		TS_RDY	SEQ_ON_RDY	SEQ_OFF_RDY	SEQ_EXS_RDY	SEQ_ENS_RDY
0x35	SEQ_OW_STAT	RSVD			TS_OW	SEQ_ON_OW	SEQ_OFF_OW	SEQ_EXS_OW	SEQ_ENS_OW
0x36	SEQ_ORD_STAT	SYNC_COUNT[7:0]
0x40	MON_LVL[1]	ADC[7:0]
0x41	MON_LVL[2]	ADC[7:0]
0x42	MON_LVL[3]	ADC[7:0]
0x43	MON_LVL[4]	ADC[7:0]
0x44	MON_LVL[5]	ADC[7:0]
0x45	MON_LVL[6]	ADC[7:0]
0x46	MON_LVL[7]	ADC[7:0]
0x47	MON_LVL[8]	ADC[7:0]
0x50	SEQ_ON_LOG[1]	ORDER[7:0]
0x51	SEQ_ON_LOG[2]	ORDER[7:0]
0x52	SEQ_ON_LOG[3]	ORDER[7:0]
0x53	SEQ_ON_LOG[4]	ORDER[7:0]
0x54	SEQ_ON_LOG[5]	ORDER[7:0]
0x55	SEQ_ON_LOG[6]	ORDER[7:0]
0x56	SEQ_ON_LOG[7]	ORDER[7:0]
0x57	SEQ_ON_LOG[8]	ORDER[7:0]
0x60	SEQ_OFF_LOG[1]	ORDER[7:0]
0x61	SEQ_OFF_LOG[2]	ORDER[7:0]
0x62	SEQ_OFF_LOG[3]	ORDER[7:0]
0x63	SEQ_OFF_LOG[4]	ORDER[7:0]
0x64	SEQ_OFF_LOG[5]	ORDER[7:0]
0x65	SEQ_OFF_LOG[6]	ORDER[7:0]
0x66	SEQ_OFF_LOG[7]	ORDER[7:0]
0x67	SEQ_OFF_LOG[8]	ORDER[7:0]
0x70	SEQ_EXS_LOG[1]	ORDER[7:0]
0x71	SEQ_EXS_LOG[2]	ORDER[7:0]
0x72	SEQ_EXS_LOG[3]	ORDER[7:0]
0x73	SEQ_EXS_LOG[4]	ORDER[7:0]
0x74	SEQ_EXS_LOG[5]	ORDER[7:0]
0x75	SEQ_EXS_LOG[6]	ORDER[7:0]
0x76	SEQ_EXS_LOG[7]	ORDER[7:0]
0x77	SEQ_EXS_LOG[8]	ORDER[7:0]
0x80	SEQ_ENS_LOG[1]	ORDER[7:0]
0x81	SEQ_ENS_LOG[2]	ORDER[7:0]
0x82	SEQ_ENS_LOG[3]	ORDER[7:0]
0x83	SEQ_ENS_LOG[4]	ORDER[7:0]
0x84	SEQ_ENS_LOG[5]	ORDER[7:0]
0x85	SEQ_ENS_LOG[6]	ORDER[7:0]
0x86	SEQ_ENS_LOG[7]	ORDER[7:0]
0x87	SEQ_ENS_LOG[8]	ORDER[7:0]
0x90	SEQ_TIME_MSB[1]	CLOCK[7:0]
0x91	SEQ_TIME_LSB[1]	CLOCK[7:0]
0x92	SEQ_TIME_MSB[2]	CLOCK[7:0]
0x93	SEQ_TIME_LSB[2]	CLOCK[7:0]
0x94	SEQ_TIME_MSB[3]	CLOCK[7:0]
0x95	SEQ_TIME_LSB[3]	CLOCK[7:0]
0x96	SEQ_TIME_MSB[4]	CLOCK[7:0]
0x97	SEQ_TIME_LSB[4]	CLOCK[7:0]
0x98	SEQ_TIME_MSB[5]	CLOCK[7:0]
0x99	SEQ_TIME_LSB[5]	CLOCK[7:0]
0x9A	SEQ_TIME_MSB[6]	CLOCK[7:0]
0x9B	SEQ_TIME_LSB[6]	CLOCK[7:0]
0x9C	SEQ_TIME_MSB[7]	CLOCK[7:0]
0x9D	SEQ_TIME_LSB[7]	CLOCK[7:0]
0x9E	SEQ_TIME_MSB[8]	CLOCK[7:0]
0x9F	SEQ_TIME_LSB[8]	CLOCK[7:0]
0xF0	BANK_SEL	RESERVED							组选择
0xF1	PROT1	RESERVED		WRKC	WRKS	CFG	IEN	MON	SEQ
0xF2	PROT2	RESERVED		WRKC	WRKS	CFG	IEN	MON	SEQ
0xF3	PROT_MON2	RESERVED		MON[N]
0xF9	I2CADDR	RESERVED	ADDR_NVM[3:0]				ADDR_STRAP[2:0]
0xFA	DEV_CFG	RESERVED							SOC_IF

复杂的位访问类型经过编码可适应小型表单元。表 7-10 展示了适用于此部分中访问类型的代码。

表 7-10 BANK0 访问类型代码

访问类型	代码	说明
读取类型
R	R	读取
写入类型
W	W	写入
W1C	W 1C	写入 1 以清零
复位或默认值
-n		复位后的值或默认值

7.5.1.1 INT_SRC 寄存器（地址 = 0x10）[复位 = 0xX0]

表 7-11 中显示了 INT_SRC。

返回到汇总表。

全局中断源状态寄存器。该寄存器包含 UV/OV HF/LF 中断和内部故障中断等故障中断。INT_SRC 表示 NIRQ 被置为有效的原因。当主机处理器收到 NIRQ 时，处理器可以读取该寄存器来快速判断中断源。如果该寄存器清零，则器件未将 NIRQ 置为有效。

表 7-11 INT_SRC 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7	F_OTHER	R	0b	供应商特定的内部故障。 INT_F_OTHER 中报告了详细信息。该位表示 INT_F_OTHER 中所有位的或运算值。 0b = INT_F_OTHER 中未报告故障 1b = INT_F_OTHER 中报告故障
6:3	RESERVED	R	b	保留
2	测试	R	xb	内部测试或配置负载故障。 INT_TEST 中报告了详细信息。表示 INT_TEST 中所有位的或运算值。 0b = 未检测到测试/配置故障 1b = 检测到测试/配置故障
1	控制	R	xb	控制状态或通信故障。 INT_CONTROL 中报告了详细信息。表示 INT_CONTROL 中所有位的或运算值。 0b = 未检测到状态或通信故障 1b = 检测到状态或通信故障
0	MONITOR	R	xb	电压或序列监控器故障。 INT_MONITOR 中报告了详细信息。表示 INT_MONITOR 中所有位的或运算值。 0b = 未检测到电压或序列故障 1b = 检测到电压或序列故障

7.5.1.2 INT_MONITOR 寄存器（地址 = 0x11）[复位 = 0xX0]

表 7-12 中显示了 INT_MONITOR。

返回到汇总表。

电压和序列监控器中断状态寄存器。该寄存器包含用于序列进入/退出活动/睡眠模式以及 HF 和 LF 故障的故障中断。

表 7-12 INT_MONITOR 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7	SEQ_ON	R	0b	上电序列故障。 INT_SEQ_ON 中报告了详细信息。表示 INT_SEQ_ON 中所有位的或运算值。当 SEQ_ON_LOG[N] 寄存器的内容与 SEQ_ON_EXP[N] 寄存器中定义的值不匹配时，会发生上电序列故障。 0b = 未检测到上电序列故障 1b = 检测到上电序列故障
6	SEQ_OFF	R	0b	断电序列故障。 INT_SEQ_OFF 中报告了详细信息。表示 INT_SEQ_OFF 中所有位的或运算值。当 SEQ_OFF_LOG[N] 寄存器的内容与 SEQ_OFF_EXP[N] 寄存器中定义的值不匹配时，会发生断电序列故障。 0b = 未检测到断电序列故障 1b = 检测到断电序列故障
5	SEQ_EXS	R	0b	退出睡眠序列故障。 INT_SEQ_EXS 中报告了详细信息。表示 INT_SEQ_EXS 中所有位的或运算值。当 SEQ_EXS_LOG[N] 寄存器的内容与 SEQ_EXS_EXP[N] 寄存器中定义的值不匹配时，会发生退出睡眠序列故障。 0b = 未检测到退出睡眠序列故障 1b = 检测到退出睡眠序列故障
4	SEQ_ENS	R	0b	进入睡眠序列故障。 INT_SEQ_ENS 中报告了详细信息。表示 INT_SEQ_ENS 中所有位的或运算值。当 SEQ_ENS_LOG[N] 寄存器的内容与 SEQ_ENS_EXP[N] 寄存器中定义的值不匹配时，会发生进入睡眠序列故障。 0b = 未检测到进入睡眠序列故障 1b = 检测到进入睡眠序列故障
3	OV_LF	R	xb	过压低频故障。 INT_OVLF 中报告了详细信息。表示 INT_OVLF 中所有位的或运算值。 0b = 未检测到 OVLF 故障 1b = 检测到 OVLF 故障
2	OV_HF	R	xb	过压高频故障。 INT_OVHF 中报告了详细信息。表示 INT_OVHF 中所有位的或运算值。 0b = 未检测到 OVHF 故障 1b = 检测到 OVHF 故障
1	UV_LF	R	xb	欠压低频故障。 INT_UVLF 中报告了详细信息。表示 INT_UVLF 中所有位的或运算值。 0b = 未检测到 UVLF 故障 1b = 检测到 UVLF 故障
0	UV_HF	R	xb	欠压高频故障。 INT_UVHF 中报告了详细信息。表示 INT_UVHF 中所有位的或运算值。 0b = 未检测到 UVHF 故障 1b = 检测到 UVHF 故障

7.5.1.3 INT_UVHF 寄存器（地址 = 0x12）[复位 = 0xX0]

表 7-13 中显示了 INT_UVHF。

返回到汇总表。

高频通道欠压中断状态寄存器。该寄存器包含有关哪个通道发生 UV HF 故障的信息。

表 7-13 INT_UVHF 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	UVHF[N]	R/W1C	xxxxb	通道 N（1 至 8）的欠压高频故障。如果通道 N 高频信号低于 UV_HF[N]，则跳闸。故障条件的恢复不会清除该位。故障只能由主机通过写入 1 以清除来清除。仅当 UVHF 故障条件同时被清除（通道 N 高频信号高于 UV_HF[N]）时，写入 1 以清除才会清除该位。 0b = 通道 N 未检测到 UVHF 故障（或 IEN_UVHF 寄存器中禁用中断） 1b = 通道 N 检测到 UVHF 故障

7.5.1.4 INT_UVLF 寄存器（地址 = 0x14）[复位 = 0xX0]

表 7-14 中显示了 INT_UVLF。

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低频通道欠压中断使能寄存器。该寄存器包含有关哪个通道发生 UV LF 故障的信息。

表 7-14 INT_UVLF 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	UVLF[N]	R/W1C	xxxxb	通道 N（1 至 8）的欠压低频故障。如果通道 N 低频信号低于 UV_LF[N]，则跳闸。故障条件的恢复不会清除该位。故障只能由主机通过写入 1 以清除来清除。仅当 UVLF 故障条件同时被清除（通道 N 低频信号高于 UV_LF[N]）时，写入 1 以清除才会清除该位。 0b = 通道 N 未检测到 UVLF 故障（或 IEN_UVLF 寄存器中禁用中断） 1b = 通道 N 检测到 UVLF 故障

7.5.1.5 INT_OVHF 寄存器（地址 = 0x16）[复位 = 0xX0]

表 7-15 中显示了 INT_OVHF。

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高频通道过压中断使能寄存器。该寄存器包含有关哪个通道发生 OV HF 故障的信息。

表 7-15 INT_OVHF 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	OVHF[N]	R/W1C	xxxxb	通道 N（1 至 8）的过压高频故障。如果通道 N 高频信号高于 OV_HF[N]，则跳闸。故障条件的恢复并不会清除该位。故障只能由主机通过写入 1 以清除来清除。仅当 OVHF 故障条件同时被清除（通道 N 高频信号低于 OV_HF[N]）时，写入 1 以清除才会清除该位。 0b = 通道 N 未检测到 OVHF 故障（或 IEN_OVHF 寄存器中禁用中断） 1b = 通道 N 检测到 OVHF 故障

7.5.1.6 INT_OVLF 寄存器（地址 = 0x18）[复位 = 0xX0]

表 7-16 中显示了 INT_OVLF。

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低频通道过压中断状态寄存器。该寄存器包含有关哪个通道发生 OV LF 故障的信息。

表 7-16 INT_OVLF 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	OVLF[N]	R/W1C	xxxxb	通道 N（1 至 8）的过压低频故障。如果通道 N 低频信号高于 OV_LF[N]，则跳闸。故障条件的恢复并不会清除该位。故障只会由主机通过写入 1 以清除来清除。仅当 OVLF 故障条件同时被清除（通道 N 低频信号低于 OV_LF[N]）时，写入 1 以清除才会清除该位。 0b = 通道 N 未检测到 OVLF 故障（或 IEN_OVLF 寄存器中禁用中断） 1b = 通道 N 检测到 OVLF 故障

7.5.1.7 INT_SEQ_ON 寄存器（地址 = 0x1A）[复位 = 0xX0]

表 7-17 中显示了 INT_SEQ_ON。

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上电序列（ACT/ SLEEP 从 0 变为 1）中断状态寄存器。该寄存器包含有关哪个通道没有遵循上电顺序的信息。

表 7-17 INT_SEQ_ON 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	F_SEQ_ON[N]	R/W1C	xxxxb	通道 N（1 到 8）的上电顺序错误。如果 SEQ_ON_LOG[N] 寄存器中记录的通道 N 上电序列计数器与 SEQ_ON_EXP[N] 寄存器中定义的值不匹配，则跳闸。故障条件的恢复并不会清除该位。故障只会由主机通过写入 1 以清除来清除。写入 1 以清除将清除该位。如果检测到相同的故障，将在下一个序列中再次设置该位。 0b = 未检测到通道 N 上电序列故障（或 IEN_SEQ_ON 寄存器中禁用中断） 1b = 检测到通道 N 上电序列故障

7.5.1.8 INT_SEQ_OFF 寄存器（地址 = 0x1C）[复位 = 0xX0]

表 7-18 中显示了 INT_SEQ_OFF。

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断电序列（ACT/ SLEEP 从 1 变为 0）中断状态寄存器。该寄存器包含有关哪个通道没有遵循断电顺序的信息。

表 7-18 INT_SEQ_OFF 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	F_SEQ_OFF[N]	R/W1C	xxxxb	通道 N（1 到 8）的断电顺序错误。如果 SEQ_OFF_LOG[N] 寄存器中记录的通道 N 断电序列计数器与 SEQ_OFF_EXP[N] 寄存器中定义的值不匹配，则跳闸。故障条件的恢复并不会清除该位。故障只会由主机通过写入 1 以清除来清除。写入 1 以清除将清除该位。如果检测到相同的故障，将在下一个序列中再次设置该位。 0b = 未检测到通道 N 断电序列故障（或 IEN_SEQ_OFF 寄存器中禁用中断） 1b = 检测到通道 N 断电序列故障

7.5.1.9 INT_SEQ_EXS 寄存器（地址 = 0x1E）[复位 = 0xX0]

表 7-19 中显示了 INT_SEQ_EXS。

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退出睡眠序列（ACT/ SLEEP 从 0 变为 1）中断状态寄存器。该寄存器包含有关哪个通道没有遵循睡眠退出顺序的信息。

表 7-19 INT_SEQ_EXS 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	F_SEQ_EXS[N]	R/W1C	xxxxb	通道 N（1 到 8）的退出睡眠序列故障。如果 SEQ_EXS_LOG[N] 寄存器中记录的通道 N 退出睡眠序列计数器与 SEQ_EXS_EXP[N] 寄存器中定义的值不匹配，则跳闸。故障条件的恢复并不会清除该位。故障只会由主机通过写入 1 以清除来清除。写入 1 以清除将清除该位。如果检测到相同的故障，将在下一个序列中再次设置该位。 0b = 未检测到通道 N 退出睡眠序列故障（或 IEN_SEQ_EXS 寄存器中禁用中断） 1b = 检测到通道 N 退出睡眠序列故障

7.5.1.10 INT_SEQ_ENS 寄存器（地址 = 0x20）[复位 = 0xX0]

表 7-20 中显示了 INT_SEQ_ENS。

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进入睡眠序列（SLEEP 从 1 变为 0）中断状态寄存器。该寄存器包含有关哪个通道没有遵循睡眠进入顺序的信息。

表 7-20 INT_SEQ_ENS 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	F_SEQ_ENS[N]	R/W1C	xxxxb	通道 N（1 到 8）的进入睡眠序列故障。如果 SEQ_ENS_LOG[N] 寄存器中记录的通道 N 进入睡眠序列计数器与 SEQ_ENS_EXP[N] 寄存器中定义的值不匹配，则跳闸。 0b = 未检测到通道 N 进入睡眠序列故障（或 IEN_SEQ_ENS 寄存器中禁用中断） 1b = 检测到通道 N 进入睡眠序列故障

7.5.1.11 INT_CONTROL 寄存器（地址 = 0x22）[复位 = 0xX0]

表 7-21 中显示了 INT_CONTROL。

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控制和通信中断状态寄存器。

表 7-21 INT_CONTROL 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:5	RESERVED	R	b	保留
4	F_CRC	R/W1C	0b	运行时寄存器 CRC 故障：故障条件的恢复并不会清除该位。故障只会由主机通过写入 1 以清除来清除。写入 1 以清除将清除该位。如果检测到相同的故障，将在下一次寄存器 CRC 检查期间再次设置该位。 0b = 未检测到故障（或 IEN_CONTROL.RT_CRC 被禁用） 1b = 检测到寄存器 CRC 故障
3	F_NIRQ	R/W1C	xb	中断引脚故障（故障位始终启用，无使能位可用）：故障条件的恢复并不会清除该位。故障只会由主机通过写入 1 以清除来清除。仅当 NIRQ 故障条件同时被清除时，写入 1 以清除才会清除该位。 0b = 在 NIRQ 引脚上未检测到故障 1b = 在 NIRQ 引脚上检测到电源的低电阻路径
2	F_TSD	R/W1C	xb	热关断故障：故障条件的恢复并不会清除该位。故障只会由主机通过写入 1 以清除来清除。仅当 TSD 故障条件同时被清除时，写入 1 以清除才会清除该位。 0b = 未检测到 TSD 故障（或 IEN_CONTROL.TSD 被禁用） 1b = 检测到 TSD 故障
1	F_SYNC	R/W1C	xb	SYNC 引脚故障：故障条件的恢复并不会清除该位。故障只会由主机通过写入 1 以清除来清除。仅当 SYNC 故障条件同时被清除时，写入 1 以清除才会清除该位。 0b = 未在 SYNC 引脚上检测到故障（或 IEN_CONTROL.SYNC 被禁用） 1b = 在 SYNC 引脚上检测到电源的低电阻路径
0	F_PEC	R/W1C	xb	数据包错误检查故障：故障条件的恢复并不会清除该位。故障只会由主机通过写入 1 以清除来清除。写入 1 以清除将清除该位。如果检测到相同的故障，将在下一个 I2C 事务期间再次设置该位。

7.5.1.12 INT_TEST 寄存器（地址 = 0x23）[复位 = 0xX0]

表 7-22 中显示了 INT_TEST。

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内部测试和配置加载中断状态寄存器。

表 7-22 INT_TEST 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:4	RESERVED	R	b	保留
3	ECC_SEC	R/W1C	xb	在加载 OTP 配置时纠正了 ECC 单比特错误：写入 1 以清除将清除该位。如果检测到相同的故障，将在下次加载 OTP 配置期间再次设置该位。 0b = 未纠正单比特错误（或 IEN_TEST.ECC_SEC 被禁用） 1b = 已纠正单比特错误
2	ECC_DED	R/W1C	xb	在加载 OTP 配置时检测到 ECC 双比特错误：故障位始终启用（没有关联的中断使能位）。写入 1 以清除将清除该位。如果检测到相同的故障，将在下次加载 OTP 配置期间再次设置该位。 0b = 加载 OTP 时未检测到双比特错误 1b = 加载 OTP 时检测到双比特错误
1	I_BIST_C	R/W1C	xb	内置自检完成指示：写入 1 以清除将清除该位。将在完成下一次 BIST 执行时再次设置该位。写入 1 以清除将清除该位。将在完成下一次 BIST 执行时再次设置该位。 0b = BIST 未完成（或 IEN_TEST.BIST_C 被禁用） 1b = BIST 完成
0	BIST	R/W1C	xb	内置自检故障：写入 1 以清除将清除该位。如果检测到相同的故障，将在下一次 BIST 执行期间再次设置该位。 0b = 未检测到 BIST 故障（或 IEN_TEST.BIST 被禁用） 1b = 检测到 BIST 故障

7.5.1.13 INT_VENDOR 寄存器（地址 = 0x24）[复位 = 0xX0]

表 7-23 中显示了 INT_VENDOR。

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该寄存器包含各种内部故障和 ADDR 检测引脚故障。

表 7-23 INT_VENDOR 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7	Self-Test_CRC	R/W1C	0b	启动寄存器 CRC 0b 0 = 自检通过 0b 1 = 自检失败写入 1 以清除
6	LDO_OV_Error	R/W1C	0b	内部 LDO 故障： 0 = 未检测到内部 LDO 故障 1 = 检测到内部 LDO 故障。写入 1 以清除将清除该位。
5	NRST_mismatch	R/W1C	0b	NRST 引脚驱动状态和读回状态错误 1b = 检测到不匹配故障。故障条件的恢复不会清除该位。故障只能由主机通过写入 1 以清除来清除。仅当 NRST 故障条件同时被清除时，写入 1 以清除才会清除该位。
4	Freq_DEV_Error	R/W1C	0b	内部振荡器故障： 0 = 未检测到内部振荡器故障 1 = 检测到内部振荡器故障。写入 1 以清除将清除该位。
3	SHORT_DET	R/W1C	xb	地址引脚故障： 0 = 未检测到地址引脚故障 1 = 检测到地址引脚故障。写入 1 以清除将清除该位。
2	OPEN_DET	R/W1C	xb	地址引脚故障： 0 = 未检测到地址引脚故障 1 = 检测到地址引脚故障。写入 1 以清除将清除该位。
1:0	RESERVED	R	b	保留

7.5.1.14 VMON_STAT 寄存器（地址 = 0x30）[复位 = 0xX0]

表 7-24 中显示了 VMON_STAT。

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内部操作和其他非关键条件的状态标志。显示 BIST 完成状态（可以是有效、睡眠或有效/关断）的寄存器。

表 7-24 VMON_STAT 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7	FAILSAFE	R	0b	失效防护状态： 0 = 未处于失效防护状态 1 = 处于失效防护状态
6	ST_BIDT_C	R	0b	内置自检状态： 0 = BIST 未完成 1 = BIST 完成
5	ST_VDD	R	0b	VDD 引脚的当前状态： 0 = VDD 引脚为低电平。 1 = VDD 引脚为高电平。
4	ST_NIRQ	R	0b	NIRQ 输入的当前状态： 0 = 系统将 NIRQ 引脚驱动为低电平。 1 = 系统将 NIRQ 引脚驱动为高电平。
3	ST_ACTSLP	R	xb	SLEEP 输入的当前状态： 0 = 系统将 SLEEP 引脚驱动为低电平。 1 = 系统将 SLEEP 引脚驱动为高电平。
2	ST_ACTSHDN	R	xb	ACT 输入的当前状态： 0 = 系统将 ACT 引脚驱动为低电平。 1 = 系统将 ACT 引脚驱动为高电平。
1	ST_SYNC	R	xb	SYNC 引脚的当前状态： 0 = SYNC 引脚为低电平。 1 = SYNC 引脚为高电平。
0	RESERVED	R	b	保留

7.5.1.15 TEST_INFO 寄存器（地址 = 0x31）[复位 = 0xX0]

表 7-25 中显示了 TEST_INFO。

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内部自检和 ECC 信息。

表 7-25 TEST_INFO 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:6	RESERVED	R	b	保留
5	ECC_SEC	R	0b	OTP 配置负载上的 ECC 单比特错误更正状态。 0 = 未应用错误更正 1 = 应用单比特错误更正
4	ECC_DED	R	0b	OTP 配置负载上 ECC 双比特错误检测的状态。 0 = 未检测到双比特错误 1 = 检测到双比特错误
3	BIST_VM	R	xb	BIST 的易失性存储器测试输出状态。 0 = 易失性存储器测试通过 1 = 易失性存储器测试失败
2	BIST_NVM	R	xb	BIST 的非易失性存储器测试输出状态。 0 = 非易失性存储器测试通过 1 = 非易失性存储器测试失败
1	BIST_L	R	xb	BIST 的逻辑测试输出状态。 0 = 逻辑测试通过 1 = 逻辑测试失败
0	BIST_A	R	xb	BIST 的模拟测试输出状态。 0 = 模拟测试通过 1 = 模拟测试失败

7.5.1.16 OFF_STAT 寄存器（地址 = 0x32）[复位 = 0xX0]

表 7-26 中显示了 OFF_STAT。

返回到汇总表。

通道 OFF 状态。

表 7-26 OFF_STAT 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	VIN[N]	R	xxxxb	该寄存器表示每个通道的 OFF 状态： 0 = 通道 N NOT OFF 1 = 通道 N OFF（低于 OFF 阈值）

7.5.1.17 SEQ_REC_STAT 寄存器（地址 = 0x34）[复位 = 0xX0]

表 7-27 中显示了 SEQ_REC_STAT。

返回到汇总表。

序列记录状态寄存器。

表 7-27 SEQ_REC_STAT 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7	REC_ACTIVE	R	0b	指示序列记录的状态： 0 = 无序列记录处于活动状态。 1 = ACT 或 SLEEP 或 SEQ_REC_CTL.REC_START 启动了电源序列，并且记录处于活动状态。
6:5	SEQ	R	0b	正在记录当前序列：00b = 上电 (ACT 01) 01b = 断电 (ACT 10) 10b = 退出睡眠状态 (SLEEP 01) 11b = 进入睡眠状态 (SLEEP 10)
4	TS_RDY	R	0b	SEQ_TIME_XSB 寄存器中的时间戳数据可用性：如果 EN_TS_OW= 0，当 TS_ACK 被主机写入 1 时，该位被清除。如果 EN_TS_OW= 1，则在读取已启用通道（在 VIN_CH_EN 寄存器中）的所有 SEQ_TIME_xSB[N] 寄存器时清除该位。如果该位已设置且 REC_ACTIVE 也已设置，则 SEQ_TIME_xSB 寄存器中的数据将被覆盖。 0 = 没有新数据可用或已读取数据。 1 = 有新数据可用（仍需要读取数据）。
3	SEQ_ON_RDY	R	xb	SEQ_ON_LOG 寄存器中的上电序列数据可用性：如果 EN_SEQ_OW= 0，当 SEQ_ON_ACK 被主机写入 1 时，该位被清除。如果 EN_SEQ_OW= 1，则在读取已启用通道（在 VIN_CH_EN 寄存器中）的所有 SEQ_ON_LOG 寄存器时清除该位。如果该位已设置，REC_ACTIVE 也已设置，且 SEQ[ 1: 0]= 00b，则 SEQ_ON_LOG 寄存器中的数据将被覆盖。 0 = 没有新数据可用或已读取数据。 1 = 有新数据可用（仍需要读取数据）。
2	SEQ_OFF_RDY	R	xb	SEQ_OFF_LOG 寄存器中的断电序列数据可用性：如果 EN_SEQ_OW= 0，当 SEQ_OFF_ACK 被主机写入 1 时，该位被清除。如果 EN_SEQ_OW= 1，则在读取已启用通道（在 VIN_CH_EN 寄存器中）的所有 SEQ_OFF_LOG 寄存器时清除该位。如果该位已设置，REC_ACTIVE 也已设置，且 SEQ[ 1: 0]= 01b，则 SEQ_OFF_LOG 寄存器中的数据将被覆盖。 0 = 没有新数据可用或已读取数据。 1 = 有新数据可用（仍需要读取数据）。
1	SEQ_EXS_RDY	R	xb	SEQ_EXS_LOG 寄存器中的睡眠退出序列数据可用性：如果 EN_SEQ_OW= 0，当 SEQ_EXS_ACK 被主机写入 1 时，该位被清除。如果 EN_SEQ_OW= 1，则在读取已启用通道（在 VIN_CH_EN 寄存器中）的所有 SEQ_EXS_LOG 寄存器时清除该位。如果该位已设置，REC_ACTIVE 也已设置，且 SEQ[ 1: 0]= 10b，则 SEQ_EXS_LOG 寄存器中的数据将被覆盖。 0 = 没有新数据可用或已读取数据。 1 = 有新数据可用（仍需要读取数据）。
0	SEQ_ENS_RDY	R	xb	SEQ_ENS_LOG 寄存器中的睡眠进入序列数据可用性：如果 EN_SEQ_OW= 0，当 SEQ_ENS_ACK 被主机写入 1 时，该位被清除。如果 EN_SEQ_OW= 1，则在读取已启用通道（在 VIN_CH_EN 寄存器中）的所有 SEQ_ENS_LOG 寄存器时清除该位。如果该位已设置，REC_ACTIVE 也已设置，且 SEQ[ 1: 0]= 11b，则 SEQ_ENS_LOG 寄存器中的数据将被覆盖。 0 = 没有新数据可用或已读取数据。 1 = 有新数据可用（仍需要读取数据）。

7.5.1.18 SEQ_OW_STAT 寄存器（地址 = 0x35）[复位 = 0xX0]

表 7-28 中显示了 SEQ_OW_STAT。

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序列记录覆盖状态寄存器。

表 7-28 SEQ_OW_STAT 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:5	RSVD	R	0b	RSVD
4	TS_OW	R	0b	时间戳数据覆盖状态： 0 = 数据未被覆盖 1 = 数据被覆盖（如果 VMON_MISC.EN_TS_OW= 1），或者无法写入数据（如果 VMON_MISC.EN_TS_OW= 0）
3	SEQ_ON_OW	R	xb	加电序列数据覆盖状态： 0 = 数据未被覆盖 1 = 数据被覆盖（如果 VMON_MISC.EN_SEQ_OW= 1），或者无法写入数据（如果 VMON_MISC.EN_SEQ_OW= 0）
2	SEQ_OFF_OW	R	xb	断电序列数据覆盖状态： 0 = 数据未被覆盖 1 = 数据被覆盖（如果 VMON_MISC.EN_SEQ_OW= 1），或者无法写入数据（如果 VMON_MISC.EN_SEQ_OW= 0）
1	SEQ_EXS_OW	R	xb	睡眠退出序列数据覆盖状态： 0 = 数据未被覆盖 1 = 数据被覆盖（如果 VMON_MISC.EN_SEQ_OW= 1），或者无法写入数据（如果 VMON_MISC.EN_SEQ_OW= 0）
0	SEQ_ENS_OW	R	xb	睡眠进入序列数据覆盖状态： 0 = 数据未被覆盖 1 = 数据被覆盖（如果 VMON_MISC.EN_SEQ_OW= 1），或者无法写入数据（如果 VMON_MISC.EN_SEQ_OW= 0）

7.5.1.19 SEQ_ORD_STAT 寄存器（地址 = 0x36）[复位 = 0xX0]

表 7-29 中显示了 SEQ_ORD_STAT。

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时序控制/SYNC 计数器（电源轨顺序）寄存器值。

表 7-29 SEQ_ORD_STAT 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	SYNC_COUNT[7:0]	R	xxxxb	该寄存器表示上电/睡眠序列期间的计数器值。它对应于检测到的 SYNC 下降沿数量，并用作受监控通道的标记值。

7.5.1.20 MON_LVL[1] 寄存器（地址 = 0x40）[复位 = 0xX0]

表 7-30 中显示了 MON_LVL[1]。

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对于每个通道的 ADC 读数 - 8 位

表 7-30 MON_LVL[1] 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	ADC[7:0]	R	xxxxb	该寄存器表示通道 1 的 8 位电压电平。 8 位值的解释取决于寄存器 VRANGE_MULT 中的调节设置。调节设置为 1x 时，8 位值代表 0.2V 至 1.475V 的范围，1LSB = 5mV。调节设置为 4x 时，8 位值代表 0.8V 至 5.9V 的范围，1LSB = 20mV。

7.5.1.21 MON_LVL[2] 寄存器（地址 = 0x41）[复位 = 0xX0]

表 7-31 中显示了 MON_LVL[2]。

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对于每个通道的 ADC 读数 - 8 位

表 7-31 MON_LVL[2] 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	ADC[7:0]	R	xxxxb	该寄存器表示通道 2 的 8 位电压电平。 8 位值的解释取决于寄存器 VRANGE_MULT 中的调节设置。调节设置为 1x 时，8 位值代表 0.2V 至 1.475V 的范围，1LSB = 5mV。调节设置为 4x 时，8 位值代表 0.8V 至 5.9V 的范围，1LSB = 20mV。

7.5.1.22 MON_LVL[3] 寄存器（地址 = 0x42）[复位 = 0xX0]

表 7-32 中显示了 MON_LVL[3]。

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对于每个通道的 ADC 读数 - 8 位

表 7-32 MON_LVL[3] 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	ADC[7:0]	R	xxxxb	该寄存器表示通道 3 的 8 位电压电平。 8 位值的解释取决于寄存器 VRANGE_MULT 中的调节设置。调节设置为 1x 时，8 位值代表 0.2V 至 1.475V 的范围，1LSB = 5mV。调节设置为 4x 时，8 位值代表 0.8V 至 5.9V 的范围，1LSB = 20mV。

7.5.1.23 MON_LVL[4] 寄存器（地址 = 0x43）[复位 = 0xX0]

表 7-33 中显示了 MON_LVL[4]。

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对于每个通道的 ADC 读数 - 8 位

表 7-33 MON_LVL[4] 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	ADC[7:0]	R	xxxxb	该寄存器表示通道 4 的 8 位电压电平。 8 位值的解释取决于寄存器 VRANGE_MULT 中的调节设置。调节设置为 1x 时，8 位值代表 0.2V 至 1.475V 的范围，1LSB = 5mV。调节设置为 4x 时，8 位值代表 0.8V 至 5.9V 的范围，1LSB = 20mV。

7.5.1.24 MON_LVL[5] 寄存器（地址 = 0x44）[复位 = 0xX0]

表 7-34 中显示了 MON_LVL[5]。

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对于每个通道的 ADC 读数 - 8 位

表 7-34 MON_LVL[5] 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	ADC[7:0]	R	xxxxb	该寄存器表示通道 5 的 8 位电压电平。 8 位值的解释取决于寄存器 VRANGE_MULT 中的调节设置。调节设置为 1x 时，8 位值代表 0.2V 至 1.475V 的范围，1LSB = 5mV。调节设置为 4x 时，8 位值代表 0.8V 至 5.9V 的范围，1LSB = 20mV。

7.5.1.25 MON_LVL[6] 寄存器（地址 = 0x45）[复位 = 0xX0]

表 7-35 中显示了 MON_LVL[6]。

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对于每个通道的 ADC 读数 - 8 位

表 7-35 MON_LVL[6] 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	ADC[7:0]	R	xxxxb	该寄存器表示通道 6 的 8 位电压电平。 8 位值的解释取决于寄存器 VRANGE_MULT 中的调节设置。调节设置为 1x 时，8 位值代表 0.2V 至 1.475V 的范围，1LSB = 5mV。调节设置为 4x 时，8 位值代表 0.8V 至 5.9V 的范围，1LSB = 20mV。

7.5.1.26 MON_LVL[7] 寄存器（地址 = 0x46）[复位 = 0xX0]

表 7-36 中显示了 MON_LVL[7]。

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对于每个通道的 ADC 读数 - 8 位

表 7-36 MON_LVL[7] 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	ADC[7:0]	R	xxxxb	该寄存器表示通道 5 的 8 位电压电平。 8 位值的解释取决于寄存器 VRANGE_MULT 中的调节设置。调节设置为 1x 时，8 位值代表 0.2V 至 1.475V 的范围，1LSB = 5mV。调节设置为 4x 时，8 位值代表 0.8V 至 5.9V 的范围，1LSB = 20mV。

7.5.1.27 MON_LVL[8] 寄存器（地址 = 0x47）[复位 = 0xX0]

表 7-37 中显示了 MON_LVL[8]。

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对于每个通道的 ADC 读数 - 8 位

表 7-37 MON_LVL[8] 寄存器字段说明

位	字段	类型	复位	说明
7:0	ADC[7:0]	R	xxxxb	该寄存器表示通道 6 的 8 位电压电平。 8 位值的解释取决于寄存器 VRANGE_MULT 中的调节设置。调节设置为 1x 时，8 位值代表 0.2V 至 1.475V 的范围，1LSB = 5mV。调节设置为 4x 时，8 位值代表 0.8V 至 5.9V 的范围，1LSB = 20mV。