ZHCSXJ8B December   2024  – June 2025 ADC3648 , ADC3649

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1  绝对最大额定值
    2. 6.2  ESD 等级
    3. 6.3  建议运行条件
    4. 6.4  热性能信息
    5. 6.5  电气特性 - 功耗
    6. 6.6  电气特性 - 直流规格
    7. 6.7  电气特性 - 交流规格 (ADC3648 - 250MSPS)
    8. 6.8  电气特性 - 交流规格 (ADC3649 - 500MSPS)
    9. 6.9  时序要求
    10. 6.10 典型特性，ADC3648
    11. 6.11 典型特性，ADC3649
  8. 7 参数测量信息
  9. 8 详细说明
    1. 8.1 概述
    2. 8.2 功能方框图
    3. 8.3 特性说明
      1. 8.3.1 模拟输入
        1. 8.3.1.1 奈奎斯特区域选择
        2. 8.3.1.2 模拟前端设计
      2. 8.3.2 采样时钟
      3. 8.3.3 多芯片同步
        1. 8.3.3.1 SYSREF 监测器
      4. 8.3.4 时间戳
      5. 8.3.5 超范围
      6. 8.3.6 外部电压基准
      7. 8.3.7 数字增益
      8. 8.3.8 抽取滤波器
        1. 8.3.8.1 不同的抽取率
        2. 8.3.8.2 抽取滤波器响应
        3. 8.3.8.3 抽取滤波器配置
        4. 8.3.8.4 数控振荡器 (NCO)
      9. 8.3.9 数字接口
        1. 8.3.9.1 并行 LVDS
        2. 8.3.9.2 具有抽取功能的串行 LVDS (SLVDS)
          1. 8.3.9.2.1 SLVDS - 状态位插入
        3. 8.3.9.3 输出数据格式
        4. 8.3.9.4 32 位输出分辨率
        5. 8.3.9.5 输出扰频器
        6. 8.3.9.6 输出 MUX
        7. 8.3.9.7 测试图形
    4. 8.4 器件功能模式
      1. 8.4.1 低延迟模式
      2. 8.4.2 数字通道平均
      3. 8.4.3 断电模式
    5. 8.5 编程
      1. 8.5.1 GPIO 编程
      2. 8.5.2 寄存器写入
      3. 8.5.3 寄存器读取
      4. 8.5.4 器件编程
      5. 8.5.5 寄存器映射
      6. 8.5.6 寄存器详细说明
  10. 9 应用和实施
    1. 9.1 应用信息
    2. 9.2 典型应用
      1. 9.2.1 宽带频谱分析仪
      2. 9.2.2 设计要求
        1. 9.2.2.1 输入信号路径
        2. 9.2.2.2 时钟
      3. 9.2.3 详细设计过程
        1. 9.2.3.1 采样时钟
      4. 9.2.4 应用性能曲线图
    3. 9.3 初始化设置
    4. 9.4 电源相关建议
    5. 9.5 布局
      1. 9.5.1 布局指南
      2. 9.5.2 布局示例
  11. 10器件和文档支持
    1. 10.1 文档支持
      1. 10.1.1 第三方产品免责声明
    2. 10.2 接收文档更新通知
    3. 10.3 支持资源
    4. 10.4 商标
    5. 10.5 静电放电警告
    6. 10.6 术语表
  12. 11修订历史记录
  13. 12机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

8.3.9.7 测试图形

该器件具有内置测试图形发生器，可简化 LVDS 输出的调试和/或校准。测试图形发生器位于 DDC 之后，如图 8-66 所示。

ADC3648 ADC3649 测试图形发生器图 8-66 测试图形发生器

启用测试图形发生器（0x14A 中的寄存器 <TEST PATTERN>）会替换所有电流输出数据样本、正常 ADC 或抽取数据。所有通道的测试图形都相同。测试图形块生成 20 位测试图形，图形由 <TEST PATTERN> 字段的值控制。

在抽取中，测试图形块默认采用抽取的时钟运行，并且可以通过设置寄存器 0x14A 的 <PATTERN CLK> 字段切换到采用 FS 时钟运行。无法在低延迟工作模式下启用测试图形功能。

以下寄存器写入可用于配置步长为 1 且分辨率为 14 位的斜坡图形。

表 8-14 具有自定义步长的斜坡图形配置示例
ADDR DATA 说明
0x14A 0x02 启用具有自定义步长的斜坡图形
0x14B 0x0E 步长为 14 LSB（在 20 位分辨率下），相当于 14 位分辨率下的 1 LSB（16 位时的 1 LSB 为 0x10）