ZHCSYY2A September 2025 – April 2026 ISOTMP35R-Q1
PRODUCTION DATA
EMI 抑制从原理图层面开始。可对 VOUT 信号路径应用低通滤波,以便在信号到达 ADC 之前衰减高频噪声。
一种典型的实现方案为:在 VOUT 引脚上放置一个电容器 (CLOAD),靠近 ADC 输入端放置一个 RC 滤波器。位于器件输出端的电容器提供本地高频滤波并降低输出噪声。由于该电容器直接作为输出级的负载,CLOAD 值必须依据 节 7.3.2.2 所述的电容负载驱动能力进行选择。
使用一个串联电阻器 (RISO) 将传感器输出与下游电容隔离开并提高稳定性。当 RISO 大于或等于 300Ω 时,输出在整个电容负载范围内可保持至少 45° 的相位裕度,从而为下游滤波提供更大灵活性。
ADC 输入端的 RC 网络可衰减高频噪声,并将传感器输出与 ADC 采样瞬态隔离开。在布线距离较长或噪声水平较高的应用中,可采用额外的 RC 滤波级。
可选择将铁氧体磁珠插入信号路径或电源路径,以抑制高频干扰。使用铁氧体磁珠时必须在系统级别进行评估,因为如果选择不当,其频率相关阻抗可能引入信号失真。
图 8-3 展示了一种适用于高 EMI 环境或信号布线较长的系统的多级滤波配置示例。在大多数应用中,在 ADC 输入端设置单级 RC 滤波并配合适当选择的 RISO 就足够了。
在大多数应用中,对 VDD 和 VOUT 进行滤波足以实现良好的噪声性能。除非存在明显的接地噪声,否则通常无需对接地路径进行滤波,因为接地路径滤波可能引入直流偏移,进而影响测量精度。