ZHCAFS5 September 2025 TMUX1575 , TMUX4827 , TMUX7612 , TS5A22362 , TS5A22364
THD + N 与 THD 相似,在低噪声环境中,两者的表现可能差异甚小。但随着系统噪声增大,相较于单独使用 THD,THD+N 指标能更准确地反映系统性能。系统级噪声的来源可能包括高频干扰、通道或器件间的串扰、60Hz 基波或其谐波(120Hz、240Hz 等)频率下的电源线接地环路耦合以及互调失真。其中一些影响可通过适当的屏蔽、PCB 布线间距、接地或滤波技术来控制,但难以完全消除。此外,半导体器件(包括多路复用器)会产生热噪声、闪烁噪声和散粒噪声,这些都会影响 THD+N 的基准噪声水平。
总谐波失真加噪声 (THD + N) 在 THD 的定义基础上进行了扩展,将噪声纳入测量范围:
其中 V1 是基波电压幅值,Vi 是第 i 次谐波电压幅值,VN 表示噪声电压幅值。每个振幅都以 VRMS 表示。